【技术实现步骤摘要】
本申请属于航天装配，尤其涉及一种基于六自由度调姿设备的大尺寸天线测试调姿方法。
技术介绍
1、随着我国空间在和天线性能的提高，反射面天线的尺寸逐渐增大，但受限于目前现有发射条件限制，往往需要实现反射面的拼接以实现整体技术要求，因此高精度地面拼接方法应运而生。
2、传统小尺寸、传统面形的调测方法往往采用测试、调整反复进行，难以解决大尺寸、高精度复杂曲面的拼接技术难题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请旨在提出一种基于六自由度调姿设备的大尺寸天线测试调姿方法，以解决难以进行高精度复杂曲面拼接技术的问题。
2、为达到上述目的，本申请的技术方案是这样实现的：
3、第一方面，本申请提供了一种六自由度调姿设备，包括：
4、固定框架，所述固定框架包括依次堆叠设置的第一固定支架和第二固定支架；
5、六自由度调姿机构，所述六自由度调姿机构为两组，且分别设置在所述第一固定支架的侧面和所述第二固定支架的上端面；
6、天线，所述天线包括第一天线、第二天线和第三天线，所述第一天线和所述第三天线分别通过连接架连接对应的所述六自由度调姿机构，所述第二天线固定设置在所述第二固定支架的侧面；
7、所述六自由度调姿机构带动所述第一天线和所述第三天线进行空间全自由度姿态调整，控制所述第一天线和所述第三天线向所述第二天线靠拢，以使所述第一天线、所述第二天线和所述第三天线之间的拼接。
8、第二方面，本申请还提供了一种大尺寸天线
9、建立天线的反射面坐标系bxyz与压紧接口坐标系cxyz，计算得到两坐标系之间的标定关系；
10、建立六自由度调姿机构接口坐标系axyz，对单自由度进行运动精度标定，在坐标系axyz下标定、解算单轴运动，依次得到六自由度运动标定结果；
11、响应于反射面位于目标位置，以此时的所述反射面坐标系与所述压紧接口坐标系之间的关系作为目标函数，根据实际测量得到的压紧接口坐标系与目标函数作对比，得到压紧接口坐标系的偏差矩阵；
12、根据所述偏差矩阵对六自由度调姿机构进行标定结果的逆运算，得到六自由度调姿机构的旋转角度，以控制天线之间的反射面拼接。
13、相对于现有技术，本申请所述的基于六自由度调姿设备的大尺寸天线测试调姿方法具有以下有益效果：
14、本申请所述的基于六自由度调姿设备的大尺寸天线测试调姿方法，通过所述调姿方法能够解决大尺寸、高精度复杂曲面的拼接技术难题，通过两组六自由度调姿机构带动两组可动天线反射面实现空间内全自由度的姿态调整，进而实现两可动天线反射面向固定天线反射面靠拢，从而实现三反射面的快速拼接。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种六自由度调姿设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
4.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
5.一种大尺寸天线测试调姿方法，应用如权利要求1至4任一项中所述的六自由度调姿设备，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的一种大尺寸天线测试调姿方法，其特征在于，所述建立天线的反射面坐标系Bxyz与压紧接口坐标系Cxyz，计算得到两坐标系之间的标定关系，包括：
7.根据权利要求6所述的一种大尺寸天线测试调姿方法，其特征在于，所述通过摄影拍照测试的方式对所述反射面坐标系Bxyz和所述压紧接口坐标系Cxyz进行坐标系测试，输出得到两坐标系之间的角度矩阵及三维位置关系，包括：
8.根据权利要求7所述的一种大尺寸天线测试调姿方法，其特征在于，还包括：
9.根据权利要求7所述的一种大尺寸天线测试调姿方法，其特征在于，还包括：
10.根据权利要求5所述的一种大尺寸天线测
...【技术特征摘要】
1.一种六自由度调姿设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
4.根据权利要求1所述的六自由度调姿设备，其特征在于：
5.一种大尺寸天线测试调姿方法，应用如权利要求1至4任一项中所述的六自由度调姿设备，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的一种大尺寸天线测试调姿方法，其特征在于，所述建立天线的反射面坐标系bxyz与压紧接口坐标系cxyz，计算得到两坐标系之间的标定关系，包括：
7.根据权利要求6所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：张小成，张朴真，张晨，许江涛，王玉凤，
申请(专利权)人：天津航天机电设备研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。