【技术实现步骤摘要】
本公开涉及数据处理，尤其涉及一种电路板的测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、表面贴片技术(surface mount technology，smt)已被广泛应用在电子制造领域。在smt过程中，会使用集成电路自动测试机(automatic test equipment，ate)对生产过程中的电路板进行测试，以保证电路板的质量和可靠性。
2、目前，ate测试程序是通过电路板上的元件位号依次开发测试项，该种方法会造成大量冗余测试项，进而造成测试时间增加，降低测试产能。
技术实现思路
1、本公开提供了一种电路板的测试方法、装置及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
2、根据本公开的第一方面，提供了一种电路板的测试方法，所述方法包括：基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型；针对同一个测试类型的待测元件，确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点；根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到目标测试代码；基于所述目标测试代码对所述待测电路板中的待测元件进行测试，得到测试结果。
3、在一可实施方式中，所述基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型，包括：确定所述原始测试代码的测试项标识；根据所述测试项标识，确定每个待测元件的测试类型。
4、在一可实施方式中，所述确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点，包括：根据所述待测元件对应的测试节点的预设格式，确定所述测试节点
5、在一可实施方式中，所述根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到目标测试代码，包括：所述测试节点包括第一测试节点和第二测试节点；根据所述第一测试节点和所述第二测试节点，对测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到所述目标测试代码。
6、在一可实施方式中，所述根据所述第一测试节点和所述第二测试节点，对测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，包括：判断同一个测试参数中的第一测试节点与第二测试节点是否相同；若相同，对测试参数对应的原始测试代码进行删除处理；若不同，判断是否存在第一测试节点和第二测试节点分别相同的多个测试参数；若存在，对所述多个测试参数对应的原始测试代码进行合并处理。
7、根据本公开的第二方面，提供了一种电路板的测试装置，，所述装置包括：确定模块，用于基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型；所述确定模块，还用于针对同一个测试类型的待测元件，确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点；代码处理模块，用于根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到目标测试代码；测试模块，用于基于所述目标测试代码对所述待测电路板中的待测元件进行测试，得到测试结果。
8、在一可实施方式中，所述确定模块，还用于确定所述原始测试代码的测试项标识；根据所述测试项标识，确定每个待测元件的测试类型。
9、在一可实施方式中，所述确定模块，还用于根据所述待测元件对应的测试节点的预设格式，确定所述测试节点。
10、根据本公开的第三方面，提供了一种电子设备，包括：
11、至少一个处理器；以及
12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本公开所述的方法。
14、根据本公开的第四方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，所述计算机指令用于使所述计算机执行本公开所述的方法。
15、本公开的一种电路板的测试方法、装置及存储介质，首先确定待测电路板中每个待测元件的测试类型，然后确定属于同一个测试类型的待测元件的测试参数，并基于测试参数中的测试节点，对原始测试代码进行优化，得到优化后的目标测试代码。最后根据目标测试代码对待测电路板中的待测元件进行测试，得到待测电路板的测试结果。应用本方法可以自动优化原始测试代码中的冗余测试项，进而提高电路板的检测效率。
16、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电路板的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到目标测试代码，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试节点和所述第二测试节点，对测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，包括：
6.一种电路板的测试装置，其特征在于，所述装置包括：
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述确定模块，还用于确定所述原始测试代码的测试项标识；根据所述测试项标识，确定每个待测元件的测试类型。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述确定模块，还用于根据所述待测元件对应的测试节点的预设格式，确定所述测试节点。
9.一种电子设备，其特征在
10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机指令用于使计算机执行根据权利要求1-5中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种电路板的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原始测试代码进行合并或删除处理，得到目标测试代码，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试节点和所述第二测试节点，对测试参数对应的原始测试代码进行合并...
【专利技术属性】
技术研发人员：张争，孙有正，刘波，冯湛文，夏桂林，史卫芬，陈玉如，张夙慧，杨志锋，吴伟，于小建，董彦锋，程先锋，陈洋洋，周术新，
申请(专利权)人：合肥联跃电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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