【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试探针设备，特别涉及一种半导体测试的探针。
技术介绍
1、集成电路产业作为新兴产业，半导体测试探针的运用贯穿整个芯片制造过程，通过及时有效的检测，芯片厂商还可以合理筛选出不同性能等级的芯片或器件，其中ict探针是一种常用的垂直形探针，多用于光电路板测试和微电子测试，测试探针，k-50-qg无线路由器测试，是应用于电子测试中测试pcba的一种测试连接电子元件，测试探针的种类有pcb探针、ict功能测试探针(汽车线束测试探针、电池针、电流电压针、开关针、电容极性针、高频针)、bga测试探针等。
2、现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次使用，现有的装置必须用双手操作，同时针头与元器件引脚连接不准确和不稳定，易脱落。
3、经检索现有中国专利：一种半导体测试探针（公告号为：cn209231396u），包括外壳，所述外壳的内侧活动安装有两个测试探针，两个所述测试探针上端通过螺纹活动安装有安装件，所述安装件的上端与外壳内侧上端之间固定设置有第一弹簧，所述外壳中部活动安装有双头螺杆，两个所述测试探针分别通过螺纹与双头螺杆活动连接，所述外壳的两侧分别活动安装有固定件，两个所述固定件通过轴承与双头螺杆活动连接，所述双头螺杆的一端固定设置有转盘，两个所述固定件的下端通过螺纹活动安装有限位件，所述限位件靠近外壳的一端端固定设置有橡胶垫。该技术通过设置磁铁，便于针头与待测元器件的引脚连接准确，同时保证连接稳定不易脱离，保证测试操作过程中的稳定性和准确性。
...【技术保护点】
1.一种半导体测试的探针，包括保护外壳（1），其特征在于：所述保护外壳（1）的内部设置有安装框（8），所述安装框（8）的内部开设有第一插孔（11），所述安装框（8）的外侧安装有门形固定板（12），所述门形固定板（12）的内部连接有活动杆（13），所述活动杆（13）的一端固定连接有拉把（14），所述活动杆（13）的外壁固定有活动板（15），所述活动板（15）的侧面固定连接有第一弹簧（18），所述安装框（8）的内部连接有固定块（19），所述固定块（19）的内部开设有第二插孔（20），所述第二插孔（20）的内径尺寸与所述活动杆（13）的外径尺寸相同，所述第二插孔（20）与所述活动杆（13）滑动连接，所述固定块（19）的下方设置有测试探针本体（22）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的顶部固定有挂环（2），所述保护外壳（1）的侧面安装有盖板（3）。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的外侧设置有转把（4），所述转把（4）的侧面固定有双向旋丝杆（5）。
4.根据权利要
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述安装框（8）的内部开设有滑动孔（9），所述滑动孔（9）的内部连接有限位杆（10）。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述活动板（15）的一侧固定有导向块（16），所述门形固定板（12）的内部开设有导向槽（17）。
7.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述固定块（19）的底部固定连接有第二弹簧（21），所述测试探针本体（22）的底端安装有针头（23）。
8.根据权利要求7所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述针头（23）的底部安装有磁铁（24）。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体测试的探针，包括保护外壳（1），其特征在于：所述保护外壳（1）的内部设置有安装框（8），所述安装框（8）的内部开设有第一插孔（11），所述安装框（8）的外侧安装有门形固定板（12），所述门形固定板（12）的内部连接有活动杆（13），所述活动杆（13）的一端固定连接有拉把（14），所述活动杆（13）的外壁固定有活动板（15），所述活动板（15）的侧面固定连接有第一弹簧（18），所述安装框（8）的内部连接有固定块（19），所述固定块（19）的内部开设有第二插孔（20），所述第二插孔（20）的内径尺寸与所述活动杆（13）的外径尺寸相同，所述第二插孔（20）与所述活动杆（13）滑动连接，所述固定块（19）的下方设置有测试探针本体（22）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特征在于：所述保护外壳（1）的顶部固定有挂环（2），所述保护外壳（1）的侧面安装有盖板（3）。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试的探针，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：宗渭钧，华益星，钱虎，顾洋，
申请(专利权)人：无锡钧源达电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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