【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路组件测试，尤其涉及一种基于开关矩阵的测试平台、设计方法及工作方法。
技术介绍
1、为确保电路组件功能的可靠性，需要在出厂前对生产的电路组件（尤其是开关矩阵的电路组件）上预留的关键电子回路测试点(tp)，进行必要的功能测试。
2、被测试的电路组件(but）的特点是tp数量有几百甚至上千个。假设一个but上的tp总数记为m，此时在进行电路组件测试时，需要将所有的tp接入功能测试接入测试点，并分别以tp对应电子回路的特定功能实施目标测试；同时假设所有功能测试单元的接入测试点，如万用表笔、示波器探针等，测试接入测试点总数记为n，在此前提下，应用传统的工程应用测试，如在申请号cn202310940286.0、授权公告号cn117147968a、专利名称《一种具有内阻自检功能的继电器矩阵开关》中所述，通过m * n个开关矩阵对tp切入功能测试单元进行功能测试，可知，当m和n的数量都很大时，采用此种测试前端，易造成开关矩阵数量过于庞大，极大增加了测试成本。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术提供一种基于开关矩阵的测试平台、设计方法及工作方法，通过引入共用列连线数，有效缩减了受控开关的数量，大幅降低测试前端的成本。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种基于开关矩阵的测试平台，包括测试执行模块、测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块以及开关矩阵，测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块分别与测试执行模块相连，测试信号切换矩阵控制模块与开关矩阵相连
3、其中，功能测试模块包括多个功能测试单元，功能测试单元上连接有至少一个功能接入点；
4、开关矩阵的行连线数为，列连线数为，行连线和列连线的交点处设置有受控开关，受控开关的数量为；其中为测试点tp的总数量，为功能接入点的总数量，为多个功能测试单元中具有最多功能接入点的功能测试单元的功能接入点数量；
5、测试信号切换矩阵控制模块，用于根据测试执行模块发送的控制指令控制受控开关的开闭，实现功能测试。
6、一种基于开关矩阵的测试平台的设计方法，包括以下步骤：
7、s1、设计开关矩阵；
8、s2、设计测试平台：
9、分别将测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块连接至测试执行模块：并分别将开关矩阵中第一开关矩阵左侧与待测电路组件上的待测点相连，第二开关矩阵右侧与测试信号切换矩阵控制模块相连，两个开关矩阵通过条列连线相关联，第一开关矩阵和第二开关矩阵每行均包括个受控开关，使所有测试点tp分批次切入n个功能测试单元的功能接入点中。
10、步骤s1具体包括以下步骤：
11、s11、构建第一开关矩阵：以待测电路组件上的测试点tp总数为行连线数，以多个功能测试单元中具有最多功能接入点的功能测试单元的功能接入点数量为列连线数，构建第一开关矩阵，第一开关矩阵中每条行连线与列连线的交点均由一个受控开关连接；
12、s12、构建第二开关矩阵：以功能测试单元的功能接入点总数为行连线数，以多个功能测试单元中具有最多功能接入点的功能测试单元的功能接入点数量为列连线数，构建第二开关矩阵，第二开关矩阵中每条行连线与列连线的交点条由一个受控开关连接；
13、s13、构建开关矩阵：根据公式将第一开关矩阵和第二开关矩阵相关联；式中，表示将第一开关矩阵和第二开关矩阵的行连线数相加，列连线数不变，建立一个行连线数为，列连线数为的开关矩阵，开关矩阵中每条行连线与列连线的交点均由一个受控开关连接，受控开关总个数为个。
14、优选的，在步骤s11中，，其中为第一开关矩阵的受控开关的数量；
15、在步骤s12中，，为第二开关矩阵的受控开关的数量。
16、一种基于开关矩阵的测试平台的工作方法，包括以下步骤：
17、h1、将开关矩阵的各个测试点tp接入待测电子组件，并将功能接入点接入；
18、h2、利用测试信号切换矩阵控制模块，根据测试执行模块发送的控制指令控制受控开关的开闭，实现功能测试。
19、优选的，在步骤h2中，利用功能测试单元反馈测试结果，若反馈测试结果正确，则表示该功能测试单元测试完成，并顺序切换至另一功能测试单元进行功能测试，若反馈结果错误，则停止测试工作，测试平台进入故障处理状态。
20、本专利技术具有以下有益效果：
21、在测试点总数、功能接入点总数较多的情况下，通过引入共用列连线数，在保证所有测试点均能分批次自动切入电路组件功能测试单元的测试接入点，完成所有功能测试的前提下，使得测试前端所需的受控开关由原来的个，缩减到个，受控开关总数减少了，可知采用此方法有效缩减了开关矩阵总数，大幅降低测试前端的成本。
22、下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于开关矩阵的测试平台，其特征在于：包括测试执行模块、测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块以及开关矩阵，测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块分别与测试执行模块相连，测试信号切换矩阵控制模块与开关矩阵相连；
2.如上述权利要求1所述的一种基于开关矩阵的测试平台的设计方法，其特征在于：包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的设计方法，其特征在于：步骤S1具体包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的设计方法，其特征在于：在步骤S11中，，其中为第一开关矩阵的受控开关的数量；
5.如权利要求1所述的一种基于开关矩阵的测试平台的工作方法，其特征在于：包括以下步骤：
6.根据权利要求5所述的工作方法，其特征在于：在步骤H2中，利用功能测试单元反馈测试结果，若反馈测试结果正确，则表示该功能测试单元测试完成，并顺序切换至另一功能测试单元进行功能测试，若反馈结果错误，则停止测试工作，测试平台进入故障处理状态。
【技术特征摘要】
1.一种基于开关矩阵的测试平台，其特征在于：包括测试执行模块、测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块以及开关矩阵，测试信号切换矩阵控制模块、功能测试模块分别与测试执行模块相连，测试信号切换矩阵控制模块与开关矩阵相连；
2.如上述权利要求1所述的一种基于开关矩阵的测试平台的设计方法，其特征在于：包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的设计方法，其特征在于：步骤s1具体包括以下步骤：
4.根据权利要求3...
【专利技术属性】
技术研发人员：王睿，董玉君，陈元正，
申请(专利权)人：杭州君谋科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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