【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片验证，特别是涉及一种芯片验证系统。
技术介绍
1、在芯片验证场景下，为了提高验证的鲁棒性，通常需要生成大量的输入激励对待测试设计(design under test，dut)进行测试，得到每个输入激励对应的输出结果，再将输出结果与输入激励对应的预期结果相比较，从而验证dut的功能。
2、然而，大量的输入激励也就意味着大量的输出结果以及大量的预期结果需要存储，会占据大量的存储空间，并且输出结果与预期结果的逐个比较也会消耗大量的时间，导致芯片验证的成本较高。
3、因此，如何降低芯片验证过程的存储成本和时间成本成为了亟待解决的问题。
技术实现思路
1、针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：
2、一种芯片验证系统，所述系统包括：待测试设计dut、目标数据压缩单元f、数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述数据库包括输入激励集合b={b1，b2，…，bn，…，bn}、预期输出集合c={c1，c2，…，cn，…，cn}和c对应的第一压缩结果e1，其中，bn为第n个输入激励，n为[1，n]范围内的整数，n为b中输入激励的个数，cn为第n个输入激励对应的预期输出，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
3、s101，初始化i=1，将bi驱动至dut，得到bi对应的真实输出di。
4、s102，使用f对di进行压缩处理，得到压缩处理结果ei。
5、s103，根据ei更新f。
<...【技术保护点】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：待测试设计DUT、目标数据压缩单元F、数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述数据库包括输入激励集合B={b1，b2，…，bn，…，bN}、预期输出集合C={c1，c2，…，cn，…，cN}和C对应的第一压缩结果E1，其中，bn为第n个输入激励，n为[1，N]范围内的整数，N为B中输入激励的个数，cn为第n个输入激励对应的预期输出，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
2.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，E1由F对C进行压缩处理得到。
3.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，还实现以下步骤：
4.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述系统还包括数据压缩单元集合A={a1，a2，…，am，…，aM},其中，am为第m个数据压缩单元，m为[1，M]范围内的整数，M为A中数据压缩单元的个数，F∈A。
5.根据权利要求4所述的芯片验证系统，其特征在于，A中的M个数据压缩单元均采用循环冗余校验码进行数据压缩
6.根据权利要求5所述的芯片验证系统，其特征在于，M设置为5，各个数据压缩单元分别对应的循环冗余校验码位宽为16bit、32bit、64bit、96bit、128bit。
7.根据权利要求5所述的芯片验证系统，其特征在于，单个预期输出对应的位宽为w，F为循环冗余校验码位宽与w对应的数据压缩单元。
8.根据权利要求7所述的芯片验证系统，其特征在于，w为128bit，相应地，F对应的循环冗余校验码位宽为128bit。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：待测试设计dut、目标数据压缩单元f、数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述数据库包括输入激励集合b={b1，b2，…，bn，…，bn}、预期输出集合c={c1，c2，…，cn，…，cn}和c对应的第一压缩结果e1，其中，bn为第n个输入激励，n为[1，n]范围内的整数，n为b中输入激励的个数，cn为第n个输入激励对应的预期输出，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
2.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，e1由f对c进行压缩处理得到。
3.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，还实现以下步骤：
4.根据权利要求1所述的芯片验证系统，其特征在于，所述系统还包括数据压缩单元集合a={a...
【专利技术属性】
技术研发人员：张昀，王定，
申请(专利权)人：沐曦科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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