System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法技术_技高网

一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法技术

技术编号:41296705 阅读:11 留言:0更新日期:2024-05-13 14:45
本发明专利技术公开了一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,可以将芯片内部的时钟信号通过构建时钟选择模块、时钟链模块,经过测试功能信号、压缩功能信号、扫描链功能信号等相关控制及输入信号的激励,最终输出为复位信号。本方法可以实现通过芯片内部产生复位信号,而不需要来自芯片外部的复位信号,不仅可以得到寄存器复位引脚的测试覆盖率,同时可以减少来自外部的复位端口,从而节省芯片PAD的使用,可以实现更好的可测性设计质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试方法,具体涉及一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法


技术介绍

1、随着芯片工艺尺寸的不断缩小,集成度和复杂度的不断提升,对芯片的质量要求也越来越高,芯片的可测性设计也逐渐成为了大规模芯片设计生产流程中的重要一环。可测性设计是通过在集成电路中增加扫描链等结构,通过自动产生的测试向量进行观测和测试的一种集成电路测试技术。而芯片测试覆盖率是衡量可测性设计质量的一个关键指标,测试覆盖率越高,芯片的测试质量就越高。

2、由于集成电路芯片中含有大量的复位引脚,为了获得这些复位点的测试覆盖率,提高整体电路的测试覆盖率,必须在测试电路中加入对应的复位信号。现有的方法是通过芯片端口引入外部的复位信号。但是这种方法会引入额外的端口pad。因此,需要一种方法,可以通过芯片测试电路的内部逻辑产生复位信号。


技术实现思路

1、专利技术目的:针对上述现有技术,提出一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,可以通过芯片测试电路的内部逻辑产生复位信号。

2、技术方案:一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,包括如下步骤:

3、步骤1:根据芯片可测性设计所需复位信号位数,将芯片测试电路内部的一个或多个级联的寄存器作为时钟链模块;

4、步骤2:通过芯片测试电路的内部逻辑构建时钟选择模块,并与所述时钟链模块组合成复位信号控制器;

5、步骤3:根据芯片测试模式的时钟加载信号、压缩功能信号以及扫描链功能信号的状态,经过所述时钟选择模块的相关组合逻辑得到控制所述时钟链模块的时钟信号;

6、步骤4:根据所述时钟链模块的时钟信号的控制,将测试输入信号移位到所述时钟链上模块的寄存器,进一步根据所述寄存器的状态,得到初始复位信号;

7、步骤5:根据所述时钟选择模块中负沿检测器的输出信号,控制所述初始复位信号的持续时间,并得到所述复位信号控制器输出的最终复位信号。

8、进一步的,所述步骤3中,所述压缩功能信号经过一个反相器后和所述扫描链功能信号一起输入一个与门,该与门的输出与所述时钟加载信号一起输入一个或门,该或门的输出控制一个门控时钟逻辑输出所述时钟信号。

9、进一步的,所述步骤4中,所述初始复位信号输出到所述钟选择模块中二路选择器的一个输入端,所述二路选择器的另外一个输入端处于接地为0的状态。

10、进一步的,所述步骤5中,测试模式使能信号控制所述时钟选择模块中另一个门控时钟逻辑为负沿检测器提供时钟信号;同时,所述扫描链功能信号作为所述负沿检测器的输入,所述负沿检测器的输出控制所述二路选择器的选择端。

11、进一步的,所述步骤5中,当所述扫描链功能信号的状态为低时,扫描链处于捕获阶段,经过所述二路选择器的选择将所述初始复位信号输出为所述最终复位信号,持续时间直到所述扫描链功能信号的状态变化高。

12、有益效果:本专利技术的一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,可以将芯片内部的时钟信号通过构建时钟选择模块、时钟链模块,经过测试功能信号、压缩功能信号、扫描链功能信号等相关控制及输入信号的激励,最终输出为复位信号。本方法可以实现通过芯片内部产生复位信号,而不需要来自芯片外部的复位信号,不仅可以得到寄存器复位引脚的测试覆盖率,同时可以减少来自外部的复位端口,从而节省芯片pad的使用,可以实现更好的可测性设计质量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤3中,所述压缩功能信号经过一个反相器后和所述扫描链功能信号一起输入一个与门,该与门的输出与所述时钟加载信号一起输入一个或门,该或门的输出控制一个门控时钟逻辑输出所述时钟信号。

3.根据权利要求2所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤4中,所述初始复位信号输出到所述钟选择模块中二路选择器的一个输入端,所述二路选择器的另外一个输入端处于接地为0的状态。

4.根据权利要求3所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤5中,测试模式使能信号控制所述时钟选择模块中另一个门控时钟逻辑为负沿检测器提供时钟信号;同时,所述扫描链功能信号作为所述负沿检测器的输入,所述负沿检测器的输出控制所述二路选择器的选择端。

5.根据权利要求4所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤5中,当所述扫描链功能信号的状态为低时,扫描链处于捕获阶段,经过所述二路选择器的选择将所述初始复位信号输出为所述最终复位信号,持续时间直到所述扫描链功能信号的状态变化高。

...

【技术特征摘要】

1.一种适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤3中,所述压缩功能信号经过一个反相器后和所述扫描链功能信号一起输入一个与门,该与门的输出与所述时钟加载信号一起输入一个或门,该或门的输出控制一个门控时钟逻辑输出所述时钟信号。

3.根据权利要求2所述的适用于芯片可测性设计的复位信号生成方法,其特征在于,所述步骤4中,所述初始复位信号输出到所述钟选择模块中二路选择器的一个输入端,所述二路选择器的另外一个输入端处于接地为0的状...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘丽东王洪超闫阳
申请(专利权)人:西安电子科技大学杭州研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1