一种适用双通道运算放大器的测试电路板制造技术

本技术公开一种适用双通道运算放大器的测试电路板，属于半导体集成电路技术领域，包括PCB电路板、集成电路测试系统和双通道运算放大器，所述双通道运算放大器连接在PCB电路板上，所述PCB电路板连接所述集成电路测试系统进行测试；所述PCB电路板包括转接口和双通道适配器，所述双通道适配器中设有第一测试接口和第二测试接口，所述第一测试接口和第二测试接口与双通道运算放大器的管脚相适配；设计了针对双通道运算放大器的通用转接口，通过通过通用接口可快速切换适配器，测试准备时间短。无需再专门搭建不同的测试电路，测试系统通过继电器切换参数测量，多参数一次测量完毕；测试方式简便。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种适用双通道运算放大器的测试电路板，属于半导体集成电路。

技术介绍

1、双通道运算放大器由两个独立的比较器组成，可以在宽电压范围内单电源供电，也可以使用双电源供电。只需要两个电源之间的电压差处于2v至36v范围内且vcc比输入共模电压至少高1.5v。静态电流消耗与电源电压无关。输出可以连接到其他集电极开路输出，以达到线与关系。主要应用于工业、汽车、电源监控、振荡器峰值探测器、逻辑电压转换等系统。现有技术中对双通道运算放大器的测试采用搭建电路的模式，测量不同的参数需搭建不同电路。如中国专利公开号为：cn104865515a，公开的一种多通道集成运算放大器性能参数在线测试系统，它是由agilent高精密电源、5v直流开关电源、sf124rh运算放大器、测试电路、控制信号输入与驱动电路、采集控制模块和pc端监控程序组成。它是通过切换单刀双掷开关用“辅助放大器测试法”和“简易反馈测试法”两种方式来测试运算放大器的输入失调电压、失调电流和偏置电流的性能参数。通过设计不同的测试电路对运算放大器进行测试，测试准备时间长，测试效率低，电路设计复杂，测试稳定性差，精度易受连接性影响，且对测试人员要求较高。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种适用双通道运算放大器的测试电路板，解决了现有技术中出现的问题。

2、本技术所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，包括pcb电路板、集成电路测试系统和双通道运算放大器测试座，所述双通道运算放大器测试座连接在pcb电路板上，所述pcb电路板连接所述集成电路测试系统进行测试；

3、所述pcb电路板包括转接口和双通道适配器，所述双通道适配器中设有第一测试接口和第二测试接口，所述第一测试接口和第二测试接口与双通道运算放大器的管脚相适配；

4、所述第一测试接口上设有outa输出通道、ina-负端输入通道、ina+正端输入通道和v-反向电压通道，所述第二测试接口上设有v+电源电压通道、outb输出通道、inb-负端输入通道和inb+正端输入通道，所述转接口上设有dps1s端口、dps2s端口、agnd1端口、agnd2端口、in1+端口，in2+端口、in1-端口、in2-端口、out1端口和out2端口，其中v+电源电压通道与dps1s端口以及agnd1端口连接；v-反向电压通道与dps2s端口以及agnd2端口连接；outa输出通道与out1端口连接；ina-负端输入通道与in1-端口连接；ina+正端输入通道与in1+端口连接；outb输出通道与out2端口连接；inb-负端输入通道与in2-端口连接；inb+正端输入通道与in2+端口连接；测试时通过控制各端口输出不同高低电平或采集电压信息，完成对双通道适配器不同参数的测试。

5、针对lm2903、lm2904系列双通道运算放大器进行测试，测试过程简单，易于实现。

6、进一步的，v+电源电压通道经过第一电容与agnd2端口连接；v-反向电压通道经过第二电容与agnd1端口连接。

7、进一步的，集成电路测试系统包括数字电压表、低电压电流源、电压电流源和继电器驱动模块。

8、进一步的，转接口包括第一插接槽和第二插接槽，所述第一插接槽和第二插接槽均连接在pcb电路板上，其中第一插接槽连接集成电路测试系统，第二插接槽连接双通道适配器。

9、本技术与现有技术相比，具有如下有益效果：

10、本技术所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，设计了针对双通道运算放大器的通用转接口，通过通用接口可快速切换适配器，测试准备时间短。无需再专门搭建不同的测试电路，测试系统通过继电器切换参数测量，多参数一次测量完毕；测试方式简便，对测试人员要求降低；贴合器件引脚外形，抗干扰电路设计，避免电路交叉干扰。解决了现有技术中存在的问题。

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【技术保护点】

1.一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：包括PCB电路板(8)、集成电路测试系统(1)和双通道运算放大器测试座(11)，所述双通道运算放大器测试座(11)连接在PCB电路板(8)上，所述PCB电路板(8)连接所述集成电路测试系统(1)进行测试；

2.根据权利要求1所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：所述的V+电源电压通道经过第一电容(3)与AGND2端口连接；V-反向电压通道经过第二电容(5)与AGND1端口连接。

3.根据权利要求1所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：所述的集成电路测试系统(1)包括数字电压表、低电压电流源、电压电流源和继电器驱动模块。

4.根据权利要求1所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：所述的转接口(2)包括第一插接槽(10)和第二插接槽(9)，所述第一插接槽(10)和第二插接槽(9)均连接在PCB电路板(8)上，其中第一插接槽(10)连接集成电路测试系统(1)，第二插接槽(9)连接双通道适配器(4)。

【技术特征摘要】

1.一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：包括pcb电路板(8)、集成电路测试系统(1)和双通道运算放大器测试座(11)，所述双通道运算放大器测试座(11)连接在pcb电路板(8)上，所述pcb电路板(8)连接所述集成电路测试系统(1)进行测试；

2.根据权利要求1所述的一种适用双通道运算放大器的测试电路板，其特征在于：所述的v+电源电压通道经过第一电容(3)与agnd2端口连接；v-反向电压通道经过第二电容(5)与agnd1端口连接。

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【专利技术属性】
技术研发人员：赵福健，高俊，吴南，徐振垚，
申请(专利权)人：山东华昇微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：