本发明专利技术公开了一种对大豆种质霜霉病抗性鉴定的转录检测方法。本发明专利技术公开的对大豆种质霜霉病抗性鉴定的转录检测方法包括利用SAGT1基因特异引物检测大豆中SAGT1基因的表达水平，利用PR1基因特异引物检测大豆中PR1基因的表达水平，依据SAGT1和PR1基因表达水平确定大豆的霜霉病抗性。实验证明，SAGT1和PR1基因的转录表达水平与大豆霜霉病抗性高度正相关，利用SAGT1与PR1的表达水平检测大豆抗病性结果与田间鉴定结果的一致性高达70.00％，本发明专利技术的方法可用于大豆种质资源霜霉病抗性的鉴定和筛选。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及生物中，一种对大豆种质霜霉病抗性鉴定的转录检测方法。
技术介绍
1、在植物病理学研究中，将植物的抗病性分为垂直抗性和水平抗性。垂直抗病性又称小种特异性抗病性，即寄主品种对病原菌某个或少数生理小种免疫或高抗，而对另一些生理小种则高度感染。垂直抗性通常由单个或少数几个主效基因控制。由于垂直抗性是小种或生物型专化的，生产上大面积推广后，容易导致致病生理小种上升为优势小种而被感染和淘汰，因而抗病性不能稳定和持久。水平抗病性称非小种特异性抗性，通常由多个基因控制，能抗多个或所有小种，减缓病害的发展速率，使寄主群体受害较轻。水平抗性对病原菌生理小种不形成定向选择压力，不致引起生理小种的变化，因而也不会导致品种抗性的丧失，抗性是稳定和持久的。
2、过去育种上注重单基因显性抗病基因的发掘和利用，取得了重要进展，但对如何提高水平抗性以获得广谱持久抗病性，缺乏分子操作的思路。随着抗病信号传导途径研究的不断深入，特别是sa信号传导途径以及转录组测序技术的进步，为解决这一问题提供了新的线索。迄今已知作物对专性寄生菌和兼性寄生菌的抗性受水杨酸(sa)信号途径的调控。对水杨酸的生物合成、代谢、远距离运输及关键节点基因等分子机理的研究，充分明了sa信号通路在植物抗病性中的重要作用。抗病转录组测序分析已在不同作物、不同病种上积累了大量数据，但海量数据如何在作物育种中快速、简便应用，仍是一个悬而未决的难题。为此，在国际最新进展和申请人多年对大豆霜霉病(sdm)抗病基因sagt1研究和转录组分析的基础上，提出了转录育种(tb)的新概念。</p>3、转录育种的分子基础是，选择能代表sa通路整体抗病水平的关键靶位和关键靶点基因，检测它们的转录表达水平，综合评价不同材料的抗病等级(高抗hr，抗r，中抗mr，感s，高感hs)，直接利用植物长期进化出来的先天性、内生抗病机制，通过杂交，聚合和累加sa通路中各种抗病正调控因子的作用，培育具有广谱持久抗病性的新种质和新品种。
4、分子标记辅助育种(marker-aided selection，mas)在叠加r基因、提高作物的抗病性上取得了明显成效。但mas关注的只是一个或几个点，仅一小段dna序列，通过杂交叠加(pyramiding)也只是叠加少数几个r基因，是点叠加。而tb关注的是包含大量基因的sa信号网络，通过杂交实现的是网叠加，其效果应更加明显。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是如何检测大豆霜霉病抗性。
2、为解决上述技术问题，本专利技术首先提供了检测sagt1和/或pr1基因表达水平的物质在检测或辅助检测大豆霜霉病抗性中的应用。
3、上述应用中，所述检测sagt1和pr1基因表达水平的物质可由检测sagt1基因表达水平的物质(如sagt1基因特异引物对)与检测pr1基因表达水平的物质(如pr1基因特异引物对)组成。
4、上述应用中，所述检测sagt1基因表达水平的物质可包括(也可为)序列表中seqid no.1与seq id no.2所示两条单链dna组成的sagt1基因引物对或序列表中seq id no.5与seq id no.6所示两条单链dna组成的sagt1基因引物对。
5、所述检测sagt1基因表达水平的物质还可包括内参基因(如actin基因)的特异引物。
6、所述检测sagt1基因表达水平的物质可由sagt1基因引物对与内参基因的特异引物组成。
7、所述检测pr1基因表达水平的物质可包括(也可为)序列表中seq id no.3与seqid no.4所示两条单链dna组成的pr1基因引物对或序列表中seq id no.7与seq id no.8所示两条单链dna组成的pr1基因引物对。
8、所述检测pr1基因表达水平的物质还可包括内参基因(如actin基因)的特异引物。
9、所述检测pr1基因表达水平的物质可由pr1基因引物对与内参基因的特异引物组成。
10、上文中，所述内参基因的特异引物可为由seq id no.9与seq id no.10所示的两条单链dna组成的actin基因引物对或由seq id no.11与seq id no.12所示的两条单链dna组成的actin基因引物对。
11、本专利技术还提供了检测或辅助检测大豆霜霉病抗性的方法，所述方法包括：利用所述检测sagt1和pr1基因表达水平的物质检测待测大豆sagt1和pr1基因相对于actin基因的表达水平，根据两个基因的相对表达水平依据如下i-v确定待测大豆的霜霉病抗性：
12、i：sagt1基因相对表达水平>10且pr1基因相对表达水平>3的待测大豆为或候选为高抗大豆；
13、ii：ii-1或ii-2：
14、ii-1：sagt1基因相对表达水平>10且pr1基因相对表达水平0.5-3(不包括0.5，包括3)的待测大豆为或候选为抗病大豆；
15、ii-2：sagt1基因相对表达水平5-10(不包括5，包括10)且pr1基因相对表达水平>3的待测大豆为或候选为抗病大豆；
16、iii：iii-1或iii-2或iii-3：
17、iii-1：sagt1基因相对表达水平0-5(包括5)且pr1基因相对表达水平>3的待测大豆为或候选为中抗大豆；
18、iii-2：sagt1基因相对表达水平5-10(不包括5，包括10)且pr1基因相对表达水平0.5-3(不包括0.5，包括3)的待测大豆为或候选为中抗大豆；
19、iii-3：sagt1基因相对表达水平>10且pr1基因相对表达水平0-0.5(包括0.5)的待测大豆为或候选为中抗大豆；
20、iv：iv-1或iv-2：
21、iv-1：sagt1基因相对表达水平0-5(包括5)且pr1基因相对表达水平0.5-3(不包括0.5，包括3)的待测大豆为或候选为感病大豆；
22、iv-2：sagt1基因相对表达水平5-10(不包括5，包括10)且pr1基因相对表达水平0-0.5(包括0.5)的待测大豆为或候选为感病大豆；
23、v：sagt1基因相对表达水平0-5(包括5)且pr1基因相对表达水平0-0.5(包括0.5)的待测大豆为或候选为高感大豆。
24、上述方法中，所述大豆sagt1和pr1基因表达水平可为sagt1和pr1基因在大豆叶片中的表达水平。
25、本专利技术还提供了下述任一方法：
26、x1)检测或辅助检测大豆霜霉病抗性的方法，包括：利用所述检测sagt1基因表达水平的物质检测大豆sagt1基因相对于actin基因的表达水平，根据sagt1基因的相对表达水平确定大豆霜霉病抗性：
27、sagt1基因相对表达水平>10的待测大豆为或候选为高抗大豆；sagt1基因相对表达水平5-10(不包括5本文档来自技高网
...
【技术保护点】
1.检测SAGT1和/或PR1基因表达水平的物质在检测或辅助检测大豆霜霉病抗性中的应用。
2.根据权利要求1所述的应用，其特征在于：所述检测SAGT1和PR1基因表达水平的物质由检测SAGT1基因表达水平的物质与检测PR1基因表达水平的物质组成。
3.根据权利要求2所述的应用，其特征在于：所述检测SAGT1基因表达水平的物质包括序列表中SEQ ID No.1与SEQ ID No.2所示两条单链DNA组成的引物对或序列表中SEQIDNo.5与SEQ ID No.6所示两条单链DNA组成的引物对；
4.检测或辅助检测大豆霜霉病抗性的方法，包括：利用权利要求1-3中任一所述检测SAGT1和PR1基因表达水平的物质检测待测大豆SAGT1和PR1基因相对于Actin基因的表达水平，根据两个基因的相对表达水平依据如下I-V确定待测大豆的霜霉病抗性：
5.下述任一方法：
6.筛选抗霜霉病大豆的方法，包括：利用权利要求1-3中任一所述检测SAGT1和PR1基因表达水平的物质检测大豆SAGT1和PR1基因相对于Actin基因的表达水平，根据两个基因的相对表达水平依据如下I-V筛选抗霜霉病大豆：
7.下述任一方法：
8.权利要求1-3中任一所述检测SAGT1和/或PR1基因表达水平的物质。
9.权利要求1-3中任一所述检测SAGT1和/或PR1基因表达水平的物质在制备检测或辅助检测大豆霜霉病抗性产品中的应用。
...
【技术特征摘要】
1.检测sagt1和/或pr1基因表达水平的物质在检测或辅助检测大豆霜霉病抗性中的应用。
2.根据权利要求1所述的应用，其特征在于：所述检测sagt1和pr1基因表达水平的物质由检测sagt1基因表达水平的物质与检测pr1基因表达水平的物质组成。
3.根据权利要求2所述的应用，其特征在于：所述检测sagt1基因表达水平的物质包括序列表中seq id no.1与seq id no.2所示两条单链dna组成的引物对或序列表中seqidno.5与seq id no.6所示两条单链dna组成的引物对；
4.检测或辅助检测大豆霜霉病抗性的方法，包括：利用权利要求1-3中任一所述检测sagt1和pr1基因表达水平的物质检...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘昱辉，李梅，黄赳，贾士荣，
申请(专利权)人：中国农业科学院生物技术研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。