【技术实现步骤摘要】
本申请涉及离子阱质谱仪，特别涉及一种离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
1、质谱仪具有分辨力高、灵敏度高、分析速度快以及定性能力强等特点，因此在组学研究、临床医疗、环境监测、公共安全等领域广泛应用。离子阱技术则进一步将质谱分析由实验室拓展至现场化场景，然而却面临恒定气压和突变气流对仪器性能的影响、单质量分析器分析模式单一的问题，因此需要对离子阱质谱仪进行质量精度校准。
2、目前离子阱质谱仪的质量校准方法均比较简单，基于离子在离子阱内的稳定阈，目前质量精度校准方法分别主要基于两种参数。第一种是固定rf(radio frequency，射频电源)电源在扫描过程中的频率，离子阱所扫描到的离子的质荷比与电源电压成线性关系，因此在标定过程中，只需要找到三个以上的离子所对应的电压，再进行线性拟合即可得到质荷比与电压的关系。但是这种方法就如同一般的线性拟合一般，虽然随着参与拟合的点数量的增加，平均误差会减小，但是在每一个点，仍然可能存在误差，导致定标不准确，使得质谱仪在实际测量中产生误差。另一种扫描的方式，被称作反向世俗频率扫描，是质量分析过程中，射频电源的幅值与频率不变，然后从高频到低频扫描ac的频率实现离子从低到高的分析。在这种标定方法中，需要更多的点进行拟合，拟合曲线近似于反比例函数曲线。
3、但是上述两种方法只能从单一维度对质荷比进行拟合，且在拟合过程中的部分误差无法消除，进一步导致离子阱质谱仪质量校准精度较低。
技术实现思路
1、本申
2、本申请第一方面实施例提供一种离子阱质谱仪质量精度校准方法，包括以下步骤：获取质荷比参考样品；将质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪，在不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下采集标定完成的离子阱质谱仪的质荷比；根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，利用曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。
3、可选地，根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，包括：建立扫描频率、电源幅值和质荷比的三维坐标系；确定不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比在三维坐标系下的多个三维坐标，根据多个三维坐标生成曲面拟合函数。
4、可选地，根据多个三维坐标生成曲面拟合函数，包括：将多个三维坐标输入深度学习模型，深度学习模型对多个三维坐标进行三维平面拟合得到曲面拟合函数。
5、可选地，深度学习模型包括判别器网络和生成器网络。
6、可选地，利用曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准，包括：利用曲面拟合函数预测目标离子阱质谱仪的质荷比；根据预测的质荷比对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。
7、本申请第二方面实施例提供一种离子阱质谱仪质量精度校准装置，包括：获取模块，用于获取质荷比参考样品；采集模块，用于将质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪，在不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下采集标定完成的离子阱质谱仪的质荷比；校准模块，用于根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，利用曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。
8、可选地，校准模块进一步用于：建立扫描频率、电源幅值和质荷比的三维坐标系；确定不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比在三维坐标系下的多个三维坐标，根据多个三维坐标生成曲面拟合函数。
9、可选地，校准模块进一步用于：将多个三维坐标输入深度学习模型，深度学习模型对多个三维坐标进行三维平面拟合得到曲面拟合函数。
10、可选地，深度学习模型包括判别器网络和生成器网络。
11、可选地，校准模块进一步用于：利用曲面拟合函数预测目标离子阱质谱仪的质荷比；根据预测的质荷比对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。
12、本申请第三方面实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序，以实现如上述实施例的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
13、本申请第四方面实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行，以用于实现如上述实施例的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
14、本申请第五方面实施例提供一种计算机程序，计算机程序被执行时，以用于实现如上述实施例的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
15、由此，本申请至少具有如下有益效果：
16、本申请实施例能够考虑不同扫描频率、电源幅值和质荷比之间的相互影响，拟合扫描频率、电源幅值和质荷比之间的非线性关系得到曲面拟合函数，减小拟合误差，使得拟合结果准确，进一步提高质量校准的精度。由此，解决了相关技术中对质荷比拟合过程中部分误差无法消除，导致离子阱质谱仪质量校准精度较低等技术问题。
17、本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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1.一种离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，包括：
3.根据权利要求2所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述根据所述多个三维坐标生成所述曲面拟合函数，包括：
4.根据权利要求3所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述深度学习模型包括判别器网络和生成器网络。
5.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述利用所述曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准，包括：
6.一种离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，所述校准模块进一步用于：
8.根据权利要求7所述的离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，所述校准模块进一步用于：
9.根据权利要求8所述的离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，所述深度学习模
10.根据权利要求6所述的离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，所述校准模块进一步用于：
11.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序，以实现如权利要求1-5任一项所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行，以用于实现如权利要求1-5任一项所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
13.一种计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被执行时，以用于实现权利要求1-5任一项所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法。
...【技术特征摘要】
1.一种离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述根据不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，包括：
3.根据权利要求2所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述根据所述多个三维坐标生成所述曲面拟合函数，包括：
4.根据权利要求3所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述深度学习模型包括判别器网络和生成器网络。
5.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，所述利用所述曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准，包括：
6.一种离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的离子阱质谱仪质量精度校准装置，其特征在于，所述校准模块进一步用于：
8.根据权利...
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