【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试相关，尤其涉及一种芯片生产用除尘式测试平台。
技术介绍
1、芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的chip之后的测试。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的，一般是将晶圆放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试，而芯片在测试前需要对其测试品台进行除尘，故此，特别需要一种芯片生产用除尘式测试平台。
2、但是现有的芯片生产用除尘式测试平台，需要人工手动来对测试平台上的灰尘进行清理，而清理的不够干净时还会影响芯片测试的效果。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种芯片生产用除尘式测试平台，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的一种芯片生产用除尘式测试平台，但是现有的芯片生产用除尘式测试平台，需要人工手动来对测试平台上的灰尘进行清理，而清理的不够干净时还会影响芯片测试的效果的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：包括支架和除尘机构，所述除尘机构包括限位槽、气缸、液压杆、垫片、固定块、驱动电机、旋转轴、扇叶和挡板，所述支架的表面固定连接有电器柜，所述支架的底部表面固定连接有支撑脚，所述支架的顶部表面固定连接有工作台，所述工作台的表面固定连接有固定柱，所述固定柱的表面固定连接有控制器，所述固定柱的顶部表面固定连接有显示屏，所述工作台的表面固定连接有测试台，所述工作台的表面设置有除尘机构，所述测试台的表面设置有集尘机构。
3、优选的，所述支撑脚
4、优选的，所述工作台的表面开设有限位槽，所述限位槽的内壁表面固定连接有气缸，所述气缸的一端表面固定连接有液压杆，所述液压杆的一端表面固定连接有垫片，所述垫片的一端表面固定连接有固定块，所述固定块的内壁表面固定连接有驱动电机，所述驱动电机的一端表面固定连接有旋转轴，所述旋转轴的表面固定连接有扇叶，所述固定块的一侧表面固定连接有挡板。
5、优选的，所述固定块以工作台的中轴线对称设置有两组，所述驱动电机、旋转轴和扇叶在固定块的内壁表面设置有多组。
6、优选的，所述固定块的尺寸与限位槽的尺寸相吻合。
7、优选的，所述集尘机构包括集尘槽、集尘盖、卡孔、弹簧、挡块和卡销，所述测试台的表面开设有集尘槽，所述集尘槽的表面滑动连接有集尘盖，所述集尘盖的一端表面开设有卡孔，所述卡孔的外壁表面固定连接有弹簧，所述弹簧的一端表面固定连接有挡块，所述挡块的一端表面固定连接有卡销。
8、优选的，所述卡销的尺寸与卡孔的尺寸相吻合。
9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：该一种芯片生产用除尘式测试平台，通过限位槽、气缸、液压杆、垫片、固定块、驱动电机、旋转轴、扇叶和挡板的设置，测试平台在使用前，启动限位槽内的气缸，使液压杆通过垫片推动固定块从限位槽内露出，推动至适宜位置时，停止气缸并启动驱动电机，旋转轴随之旋转并带动扇叶快速旋转，多组扇叶同时旋转对测试台上的灰尘进行清理，挡板保护着固定块内部的零件，防治扇叶受到外界的损坏，在此过程中，不再需要人工手持来对检测台进行清理，随着风力的增强，能够加强清理效果。
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1.一种芯片生产用除尘式测试平台，包括支架(1)和除尘机构(9)，其特征在于：所述除尘机构(9)包括限位槽(901)、气缸(902)、液压杆(903)、垫片(904)、固定块(905)、驱动电机(906)、旋转轴(907)、扇叶(908)和挡板(909)，所述支架(1)的表面固定连接有电器柜(2)，所述支架(1)的底部表面固定连接有支撑脚(3)，所述支架(1)的顶部表面固定连接有工作台(4)，所述工作台(4)的表面固定连接有固定柱(5)，所述固定柱(5)的表面固定连接有控制器(6)，所述固定柱(5)的顶部表面固定连接有显示屏(7)，所述工作台(4)的表面固定连接有测试台(8)，所述工作台(4)的表面设置有除尘机构(9)，所述测试台(8)的表面设置有集尘机构(10)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述支撑脚(3)以支架(1)的中轴线对称设置有多组，且均匀的分布在支架(1)的四角处。
3.根据权利要求1所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述工作台(4)的表面开设有限位槽(901)，所述限位槽(901)的内壁表
4.根据权利要求3所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述固定块(905)以工作台(4)的中轴线对称设置有两组，所述驱动电机(906)、旋转轴(907)和扇叶(908)在固定块(905)的内壁表面设置有多组。
5.根据权利要求3所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述固定块(905)的尺寸与限位槽(901)的尺寸相吻合。
6.根据权利要求1所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述集尘机构(10)包括集尘槽(1001)、集尘盖(1002)、卡孔(1003)、弹簧(1004)、挡块(1005)和卡销(1006)，所述测试台(8)的表面开设有集尘槽(1001)，所述集尘槽(1001)的表面滑动连接有集尘盖(1002)，所述集尘盖(1002)的一端表面开设有卡孔(1003)，所述卡孔(1003)的外壁表面固定连接有弹簧(1004)，所述弹簧(1004)的一端表面固定连接有挡块(1005)，所述挡块(1005)的一端表面固定连接有卡销(1006)。
7.根据权利要求6所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述卡销(1006)的尺寸与卡孔(1003)的尺寸相吻合。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片生产用除尘式测试平台，包括支架(1)和除尘机构(9)，其特征在于：所述除尘机构(9)包括限位槽(901)、气缸(902)、液压杆(903)、垫片(904)、固定块(905)、驱动电机(906)、旋转轴(907)、扇叶(908)和挡板(909)，所述支架(1)的表面固定连接有电器柜(2)，所述支架(1)的底部表面固定连接有支撑脚(3)，所述支架(1)的顶部表面固定连接有工作台(4)，所述工作台(4)的表面固定连接有固定柱(5)，所述固定柱(5)的表面固定连接有控制器(6)，所述固定柱(5)的顶部表面固定连接有显示屏(7)，所述工作台(4)的表面固定连接有测试台(8)，所述工作台(4)的表面设置有除尘机构(9)，所述测试台(8)的表面设置有集尘机构(10)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述支撑脚(3)以支架(1)的中轴线对称设置有多组，且均匀的分布在支架(1)的四角处。
3.根据权利要求1所述的一种芯片生产用除尘式测试平台，其特征在于：所述工作台(4)的表面开设有限位槽(901)，所述限位槽(901)的内壁表面固定连接有气缸(902)，所述气缸(902)的一端表面固定连接有液压杆(903)，所述液压杆(903)的一端表面固定连接有垫片(904)，所述垫片(904)的一端表面固定连接有固定块(905)，所述固定块(905)的内壁表面固定连接有驱动电机(...
【专利技术属性】
技术研发人员：王浩酽，冯凯，杨焱武，刘东东，
申请(专利权)人：深圳市因梦晶凯测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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