【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体测试，尤其是指一种基于测试机的指令执行方法。
技术介绍
1、测试机(open/short–tester)是主要用于测试电子器件的连接情况的机器，顾名思义，是一种快速检测芯片的各个管脚间是否有短路，及在芯片封装时是否missing bondwires的测试机台。通常在芯片投入使用之前对芯片进行测试。它能在测试时发现芯片管脚接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题。开短路测试应用非常的广泛，例如：测试pcb板，测试ic邦定线，测试ic的封装，测试线材，测试fpc，测试薄膜开关，测试连接器等等，不同的应用又有比较特别的需求，例如，测试pcb板是不仅要测试开短路，还要测试漏电，测薄膜开关还要测试连线的电阻值；对于线材测试仪，比较精密的线材根据要求，有些也要测试漏电与阻值及其他的要求，由于这些测试不仅要测试开短路，还要测试其他的参数，因此本专利技术提出一种基于测试机的指令执行方法，能够满足市场上各种芯片的开短路测试需求。
技术实现思路
1、为此，本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中测试存在的不足，提供一种基于测试机的指令执行方法，将多种指令集中在指令测试机中，覆盖多种测试需求，通过指令执行机可以通过多种指令快速检测芯片各个管脚之间的连接情况，优化测试效率的同时提高测试精度和测试功能，并可依据不同的芯片指定不同的测试标准。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种基于测试机的指令执行方法，该指令执行方法如下：
3、s1、从带有指令格式的测
4、s2、对指令执行机进行参数初始化；
5、s3、将dut的待测管脚与测试机的测量线路连接，选中所用到的测试组资源，使得dut的每个管脚状态达到需求状态，用于测试准备；
6、s4、设置与dut待测管脚相连的测试线路上的驱动类型、钳位值类型，测量类型和比较器类型；
7、s5、寄存器按下行指令信息进行寄存器编码，进行延时处理，写入寄存器；
8、s6、指令信息写入寄存器后，通过测试机的pmu核驱动电流或电压至测量线路，从而驱动测量线路，使得测量线路与dut处于正常运行状态；
9、s7、指令执行机设置adc运行状态和采样参数，并进行采样时间超时处理，下发给测试机指令执行机；
10、s8、利用指令执行机对采样值进行处理，将多次采样值转化为模拟值；
11、s9、返回上行指令信息，即将测试结果数据返回到指令执行机，同时将测量线路进行下电。
12、在本专利技术的一个实施例中，所述测试计划中的指令包括对内诊断指令和对外测试指令，所述对内诊断指令和对外测试指令的指令格式相同。
13、在本专利技术的一个实施例中，所述步骤s3中进行参数初始化之后，先利用所述测试计划中的对内诊断指令对测试机进行自检。
14、在本专利技术的一个实施例中，所述测试机包括多个pmu核，所述测试机进行自检时，将测试机的其中两个pmu核的测量线路一一通过线缆连接。
15、在本专利技术的一个实施例中，所述对内测试指令包括itfo,itgd,itcv,itci,itoe。
16、在本专利技术的一个实施例中，所述itfo指令用于检测pmu内部force和measure电压功能是否正常且在精度范围内；所述itgd指令用来检测pmu内部force和measure电流功能是否正常且在精度范围内。
17、在本专利技术的一个实施例中，所述itcv指令用于检测pmu内部电压钳位功能是否正常且在精度范围内；所述itci指令用来检测pmu内部电流钳位功能是否正常且在精度范围内；所述itoe指令用于检测pmu内部的测试回路是否正常。
18、在本专利技术的一个实施例中，所述对外测试指令包括p,n,pt,nt,o,s,ns,res,rsr,cap,k,l。
19、在本专利技术的一个实施例中，所述指令p用来验证dut待测管脚与其他管脚之间的正向二极管是否导通；所述指令n用来验证dut待测管脚与其他管脚之间的负向二极管是否导通；所述pt指令用来验证dut待测管脚与指定管脚之间的正向二极管是否导通；所述nt指令用来验证dut待测管脚与指定管脚之间的负向二极管是否导通；所述指令o用来验证dut待测管脚与其他管脚之间是否开路；所述s指令用来测量dut多个管脚(作为一个测试组)之间是否短路；ns指令用来测量dut多个管脚(作为一个测试组)之间是否开路。
20、在本专利技术的一个实施例中，所述res指令用来验证dut待测管脚与指定管脚之间的电阻值；所述cap指令用来验证dut待测管脚与指定管脚之间的电容值；所述rsr指令用来验证dut待测管脚与指定管脚之间的电阻值；所述指令k用于测试dut待测管脚的负向漏电流；所述指令l用于测试dut待测管脚的正向漏电流。
21、本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
22、本专利技术所述的一种基于测试机的指令执行方法，将多种测试功能结合在指令执行机内，可以通过多种指令快速检测芯片各个管脚之间的连接情况，优化测试效率的同时提高测试精度和测试功能，并可依据不同的芯片指定不同的测试标准，可以进行多种不同需求的测试，对芯片进行较全面的测试，且测试精度和实用性较高，能够大大提升芯片良率测试的效率和准确率。
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1.一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：该指令执行方法如下：
2.根据权利要求1所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述测试计划中的指令包括对内诊断指令和对外测试指令，所述对内诊断指令和对外测试指令的指令格式相同。
3.根据权利要求2所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述步骤S3中进行参数初始化之后，先利用所述测试计划中的对内诊断指令对测试机进行自检。
4.根据权利要求3所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述测试机包括多个PMU核，所述测试机进行自检时，将测试机的其中两个PMU核的测量线路一一通过线缆连接。
5.根据权利要求4所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述对内测试指令包括ITFO,ITGD,ITCV,ITCI,ITOE。
6.根据权利要求5所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述ITFO指令用于检测PMU内部Force和Measure电压功能是否正常且在精度范围内；所述ITGD指令用来检测PMU内部Force和Measure电流功能是否正常且
7.根据权利要求5所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述ITCV指令用于检测PMU内部电压钳位功能是否正常且在精度范围内；所述ITCI指令用来检测PMU内部电流钳位功能是否正常且在精度范围内；所述ITOE指令用于检测PMU内部的测试回路是否正常。
8.根据权利要求2所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述对外测试指令包括P,N,PT,NT,O,S,NS,RES,RSR,CAP,K,L。
9.根据权利要求8所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述指令P用来验证DUT待测管脚与其他管脚之间的正向二极管是否导通；所述指令N用来验证DUT待测管脚与其他管脚之间的负向二极管是否导通；所述PT指令用来验证DUT待测管脚与指定管脚之间的正向二极管是否导通；所述NT指令用来验证DUT待测管脚与指定管脚之间的负向二极管是否导通；所述指令O用来验证DUT待测管脚与其他管脚之间是否开路；所述S指令用来测量DUT多个管脚之间是否短路；NS指令用来测量DUT多个管脚之间是否开路。
10.根据权利要求8所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述RES指令用来验证DUT待测管脚与指定管脚之间的电阻值；所述CAP指令用来验证DUT待测管脚与指定管脚之间的电容值；所述RSR指令用来验证DUT待测管脚与指定管脚之间的电阻值；所述指令K用于测试DUT待测管脚的负向漏电流；所述指令L用于测试DUT待测管脚的正向漏电流。
...【技术特征摘要】
1.一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：该指令执行方法如下：
2.根据权利要求1所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述测试计划中的指令包括对内诊断指令和对外测试指令，所述对内诊断指令和对外测试指令的指令格式相同。
3.根据权利要求2所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述步骤s3中进行参数初始化之后，先利用所述测试计划中的对内诊断指令对测试机进行自检。
4.根据权利要求3所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述测试机包括多个pmu核，所述测试机进行自检时，将测试机的其中两个pmu核的测量线路一一通过线缆连接。
5.根据权利要求4所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述对内测试指令包括itfo,itgd,itcv,itci,itoe。
6.根据权利要求5所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述itfo指令用于检测pmu内部force和measure电压功能是否正常且在精度范围内；所述itgd指令用来检测pmu内部force和measure电流功能是否正常且在精度范围内。
7.根据权利要求5所述的一种基于测试机的指令执行方法，其特征在于：所述itcv指令用于检测pmu内部电压钳位功能是否正常且在精度范...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐润生，鄢书丹，朱艳青，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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