【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法和装置。
技术介绍
1、本部分旨在为权利要求书或说明书中陈述的内容提供背景或上下文，此处描述的内容不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
2、静态测试向量压缩(static test vector compression)是在芯片测试中使用的一种技术，旨在减少测试数据的存储需求和测试时间，同时保持对芯片功能的全面覆盖。在芯片测试中，需要使用大量的测试向量来验证芯片的功能和性能。这些测试向量是一系列输入数据，用于激励芯片并观察输出结果。然而，测试向量的数量通常非常庞大，特别是对于复杂的芯片设计，这可能导致存储需求和测试时间的大幅增加。
3、静态测试向量压缩技术通过利用测试向量之间的冗余性和重复性，以及芯片内部的状态信息，实现对测试向量的压缩。具体而言，它可以通过以下几种方式来实现压缩：
4、1)基于编码的压缩：该方法使用编码技术将测试向量转换为更紧凑的表示形式。例如，可以使用行程长度编码(run-length encoding)将连续相同的位模式编码为一个计数值，从而减少存储空间。
5、2)基于模式匹配的压缩：该方法通过识别和存储测试向量之间的重复模式来实现压缩。当发现相同的测试向量或相似的测试向量序列时，只需存储一次该模式，然后使用相应的指令或参数来重现该模式。
6、3)基于状态压缩的压缩：该方法利用芯片内部的状态信息来压缩测试向量。通过存储和重用芯片在测试过程中的内部状态，可以减少所
7、静态测试向量压缩技术可以显著减少测试数据的存储需求和测试时间，从而降低了芯片测试的成本和复杂性。然而，静态测试向量压缩技术也面临一些挑战。例如，压缩和解压缩过程可能会增加测试时间，因为需要进行额外的计算和操作。此外，压缩算法的设计和实现需要考虑到芯片的特性和测试需求，以确保压缩后的测试向量仍能有效地覆盖芯片的功能。
8、针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法和装置，以至少解决相关技术中向量压缩比较耗时的技术问题。
2、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法，包括：获取目标芯片的原始测试向量集和测试故障集，其中，所述原始测试向量集包括多条测试向量，所述测试故障集包括多个测试故障；利用所述原始测试向量集的第一测试向量子集，对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述测试故障集的已测故障子集，其中，所述原始测试向量集包括所述第一测试向量子集和第二测试向量子集，所述测试故障集包括所述已测故障子集和未测故障子集，所述已测故障子集用于保存被测出的测试故障，所述未测故障子集用于保存未被测出的测试故障；利用所述第二测试向量子集和所述未测故障子集，建立局部故障字典，其中，所述局部故障字典用于记录所述第二测试向量子集中测试向量与所述未测故障子集中测试故障之间的关联；调用pure maxsat问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量。
3、可选地，利用所述原始测试向量集的第一测试向量子集，对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述测试故障集的已测故障子集，包括：按照预设比例将所述原始测试向量集分为所述第一测试向量子集和所述第二测试向量子集，其中，所述第二测试向量子集中测试向量的数量多于所述第一测试向量子集中测试向量的数量；利用所述第一测试向量子集对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述已测故障子集。
4、可选地，利用所述第二测试向量子集和所述未测故障子集，建立局部故障字典，包括：利用所述第二测试向量子集中的测试向量对所述未测故障子集中的测试故障进行故障仿真，得到每条测试向量与所有测试故障之间的关系；利用每条测试向量与所有测试故障之间的关系建立所述局部故障字典，其中，所述局部故障字典的每一行对应一个测试向量或测试故障，每一列对应一个测试故障或测试向量，任意一行与一列交叉的元素用于表示对应测试向量与对应测试故障之间的关系，在该元素的取值为1时表示测试向量能检测到测试故障，在该元素的取值为0时表示测试向量不能检测到测试故障。
5、可选地，在调用pure maxsat问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量之后，所述方法还包括：将得到的所述第二测试向量子集的精简测试向量和所述第一测试向量子集作为所述目标芯片的最终测试向量。
6、可选地，获取目标芯片的原始测试向量集，包括：在调用自动测试向量生成atpg工具为所述目标芯片生成测试向量之前，将所述自动测试向量生成工具的测试模式设置为指定测试模式，其中，所述指定测试模式用于指示一个测试故障所需的向量数量n，n的值为2或3；调用所述自动测试向量生成atpg工具为所述目标芯片生成所述原始测试向量集。
7、可选地，调用pure maxsat问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量，包括：对所述局部故障字典进行处理，得到待输入pure maxsat问题求解器的wcnf文件，其中，所述wcnf文件中记录有所述局部故障字典的数据结构；将所述wcnf文件输入所述pure maxsat问题求解器进行求解，得到所述精简测试向量。
8、可选地，在将所述wcnf文件输入所述pure maxsat问题求解器进行求解的过程中，所述方法还包括：识别所述wcnf文件中的关键向量，其中，所述关键向量为唯一能够检测某一测试故障的测试向量；将所述关键向量作为必须保留的向量来进行求解。
9、根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩装置，包括：获取单元，用于获取目标芯片的原始测试向量集和测试故障集，其中，所述原始测试向量集包括多条测试向量，所述测试故障集包括多个测试故障；确定单元，用于利用所述原始测试向量集的第一测试向量子集，对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述测试故障集的已测故障子集，其中，所述原始测试向量集包括所述第一测试向量子集和第二测试向量子集，所述测试故障集包括所述已测故障子集和未测故障子集，所述已测故障子集用于保存被测出的测试故障，所述未测故障子集用于保存未被测出的测试故障；创建单元，用于利用所述第二测试向量子集和所述未测故障子集，建立局部故障字典，其中，所述局部故障字典用于记录所述第二测试向量子集中测试向量与所述未测故障子集中测试故障之间的关联；压缩单元，用于调用pure maxsat问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量。
10、根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种存储介质，该存储介质包括存储的程序，程序运行时执行上述的方法。
11、根据本申请实施例的另一方面，还提供本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述原始测试向量集的第一测试向量子集，对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述测试故障集的已测故障子集，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述第二测试向量子集和所述未测故障子集，建立局部故障字典，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取目标芯片的原始测试向量集，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，调用Pure MaxSAT问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在将所述WCNF文件输入所述Pure MaxSAT问题求解器进行求解的过程中，所述方法还包括：
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的方法，其特征在于，在调用Pure MaxSAT问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量之后，所述方法还包括：
8.一种基于布尔可满足性的电路自
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行上述权利要求1至7任一项中所述的方法。
10.一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器通过所述计算机程序执行上述权利要求1至7任一项中所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种基于布尔可满足性的电路自动测试向量的压缩方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述原始测试向量集的第一测试向量子集，对所述测试故障集中的所有测试故障进行故障仿真，确定所述测试故障集的已测故障子集，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述第二测试向量子集和所述未测故障子集，建立局部故障字典，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取目标芯片的原始测试向量集，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，调用pure maxsat问题求解器对所述局部故障字典进行求解，从而得到精简测试向量，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在将...
【专利技术属性】
技术研发人员：晁志腾，叶靖，
申请(专利权)人：中科鉴芯北京科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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