System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种常压制备厘米级二硫化钼薄膜的方法技术_技高网

一种常压制备厘米级二硫化钼薄膜的方法技术

技术编号:41241090 阅读:5 留言:0更新日期:2024-05-09 23:53
本发明专利技术公开了一种常压制备厘米级二硫化钼薄膜的方法,属于半导体材料制备技术领域。本发明专利技术中,设计了一种两阶段生长法,第一阶段使氧化钼融入熔融态的钠钙玻璃;第二阶段在钠离子的催化下,硫粉和氧化钼在熔融态的钠钙玻璃内部反应生成二硫化钼,进而扩散到熔融态玻璃表面,最后在载气带动下,在上方的二氧化硅/硅衬底上沉积形成连续薄膜。本发明专利技术在二氧化硅/硅衬底直接合成的厘米级高质量二硫化钼薄膜,有望促进其在电学器件上的进一步应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体材料制备,尤其涉及一种常压制备厘米级二硫化钼薄膜的方法


技术介绍

1、二维过渡金属硫族化合物(tmdcs)是一类面内以共价键连接、层间以范德华力相互作用的层状材料。二硫化钼(mos2)作为最早被研究的tmdcs之一,因其独特的电学性能被认为是下一代半导体材料的热门候选,因此研究mos2薄膜的制备在基础研究和实际应用上都具有重要的研究意义。

2、研究显示钠(na)离子的存在将有效降低mos2的形成势垒,促进其晶畴的横向生长,从而获得更大晶畴更少缺陷的mos2薄膜。当前在生长中引入na离子辅助mos2生长的方式主要有两种:一是在钼源里加入氯化钠粉末,但制备的mos2薄膜表面往往会残留未反应的过量na2s颗粒,这将影响薄膜性能的均匀性及下一步应用;二是在钠钙玻璃上直接生长mos2薄膜,但之后需要将mos2薄膜转移到二氧化硅/硅(sio2/si)工作衬底上以便进一步应用,转移过程显然将影响薄膜的性能,因此如何在二氧化硅/硅衬底直接生长mos2薄膜的过程中引入na离子的辅助,仍然是一个值得探索的问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于:提供一种常压制备厘米级mos2薄膜的方法,在二氧化硅/硅衬底上生长的过程中有效引入na离子的辅助,在此基础上获得高质量的mos2薄膜,进一步推动其在电学器件上的应用。

2、本专利技术采用的技术方案如下:

3、一种通过常压制备厘米级mos2薄膜的方法,包括以下步骤:

4、(1)清洗石墨舟和衬底:分别将石墨舟、厘米级的钠钙玻璃和重掺p型sio2/si衬底放入丙酮超声15min,无水乙醇15min,去离子水15min,用氮气枪吹干。

5、(2)用电子秤称量硫粉(s),送入管式炉的第一温区;用电子秤称量氧化钼粉(moo3),将称量好的moo3粉末平铺在石墨舟,然后盖上钠钙玻璃,接着将sio2/si衬底放置在钠钙玻璃上方,最后将石墨舟里送入管式炉的第二温区,如图1所示;在氩气100sccm下,将第一温区和第二温区升温至110℃,保温10min,去除水蒸气。

6、(3)保持第一温区温度不变,将第二温区升温至750℃,然后在一定氩气气氛下保温一定时间,使moo3粉末溶解在熔融态的钠钙玻璃中。

7、(4)在一定氩气气氛下,将第一温区和第二温区分别升温至150-350℃和750-900℃,然后在大气压下保温生长时间,进行mos2薄膜生长,最后自然冷却至室温,即得到厘米级的mos2薄膜。

8、进一步地,步骤(2)中,s粉质量为30-2000mg。

9、进一步地,步骤(2)中,moo3粉末质量为1-50mg。

10、进一步地,步骤(3)中,氩气流量为5-20sccm。

11、进一步地,步骤(3)中,保温时间为10-30min。

12、进一步地,步骤(4)中,氩气流量为10-200sccm。

13、进一步地,步骤(4)中,第一温区温度为150-350℃。

14、进一步地,步骤(4)中,第二温区温度为750-900℃。

15、进一步地,步骤(4)中,生长时间为5-60min。

16、综上所述,采用了上述技术方案,本专利技术的有益效果是:

17、(1)本专利技术中,步骤(3)中,此时第一温区只有110℃,意味着硫没有蒸发起来参与反应;第二温区温度为750℃,钠钙玻璃变成熔融状态,由于moo3放置在钠钙玻璃下面,因此moo3将融进钠钙玻璃中,不会蒸发到上方的sio2/si衬底上。moo3融入熔融态的钠钙玻璃作为mo源,有益于步骤(4)中mos2的反应都在熔融态的钠钙玻璃处发生,以便na离子起到催化作用。

18、(2)本专利技术中,步骤(4)中,此时第一温区和第二温区分别提高到生长温度,硫被蒸发起来,在载气的带动下来到熔融的钠钙玻璃,在na离子的催化下和moo3反应在熔融的钠钙玻璃内部生成mos2;接着,mos2扩散来到熔融态玻璃表面;最后在载气的带动下在上方的sio2/si衬底上沉积形成连续薄膜。na离子的存在将有效降低mos2的形成势垒,进而促进晶畴的横向生长和抑制缺陷的形成,进而形成高质量的薄膜。

19、(3)本专利技术中,mos2薄膜的层数可以通过步骤(2)中的moo3质量和步骤(4)中的生长时间等加以控制。

20、(4)本专利技术中,高质量的厘米级mos2薄膜直接在sio2/si衬底上合成,有利于下一步在电学器件上的应用。

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【技术保护点】

1.一种通过常压制备厘米级二硫化钼(MoS2)薄膜的方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种常压制备厘米级MoS2薄膜的方法,其特征在于:步骤(3)中,此时第一温区只有110℃,意味着硫没有蒸发起来参与反应;第二温区温度为750℃,钠钙玻璃变成熔融状态,由于MoO3放置在钠钙玻璃下面,因此MoO3将融进钠钙玻璃中,不会蒸发到上方的SiO2/Si衬底上。MoO3融入熔融态的钠钙玻璃作为Mo源,有益于步骤(4)中MoS2的反应都在熔融态的钠钙玻璃处发生,以便Na离子起到催化作用。

3.根据权利要求1所述的一种常压制备厘米级MoS2薄膜的方法,其特征在于:步骤(4)中,此时第一温区和第二温区分别提高到生长温度,硫被蒸发起来,在载气的带动下来到熔融的钠钙玻璃,在Na离子的催化下和MoO3反应在熔融的钠钙玻璃内部生成MoS2;接着,MoS2扩散来到熔融态玻璃表面;最后在载气的带动下在上方的SiO2/Si衬底上沉积形成连续薄膜。Na离子的存在将有效降低MoS2的形成势垒,进而促进晶畴的横向生长和抑制缺陷的形成,进而形成高质量的薄膜。

4.根据权利要求1所述的一种常压制备厘米级MoS2薄膜的方法,其特征在于:MoS2薄膜的层数可以通过步骤(2)中的MoO3质量和步骤(4)中的生长时间等加以控制。

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【技术特征摘要】

1.一种通过常压制备厘米级二硫化钼(mos2)薄膜的方法,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种常压制备厘米级mos2薄膜的方法,其特征在于:步骤(3)中,此时第一温区只有110℃,意味着硫没有蒸发起来参与反应;第二温区温度为750℃,钠钙玻璃变成熔融状态,由于moo3放置在钠钙玻璃下面,因此moo3将融进钠钙玻璃中,不会蒸发到上方的sio2/si衬底上。moo3融入熔融态的钠钙玻璃作为mo源,有益于步骤(4)中mos2的反应都在熔融态的钠钙玻璃处发生,以便na离子起到催化作用。

3.根据权利要求1所述的一种常压制备厘米级mos2薄膜的...

【专利技术属性】
技术研发人员:鄢琳宜吴潇健李萍剑李雪松
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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