一种光耦老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:41232601 阅读:14 留言:0更新日期:2024-05-09 23:48
本技术公开了一种光耦老化测试装置,包括老化板及测试工具;老化板包括老化板底板,老化板底板上设置若干个光耦焊盘,老化板底板上设置一个矩形状凸板,凸板上设置56P金属触点;测试工具包括测试底板,测试底板设置56P插排,56P插排与56P金属触点进行接插匹配连接;测试底板上设置若干与光耦焊盘位置相对应的双刀双掷开关,所述测试工具上还设置A,B,C三个孔,A孔接测试仪正极,B孔接测试仪IR控制端负极,C孔接测试仪PD控制端负极。本技术不仅可以提高测试准确性;还可以提高测试人员的效率,减少老化板的用量。

【技术实现步骤摘要】

本技术公开了一种光耦老化测试装置,属于led领域的测试工装。


技术介绍

1、光电耦合器是以光为媒介传输电信号的一种电一光一电转换器件。它由发光源和受光器两部分组成。把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内,彼此间用透明绝缘体隔离。

2、目前对于光耦老化后的测试方式,是采用人工单颗夹测的方式,由于光耦测试时对线路电阻比较敏感,夹测虚接会导致测试数据不准确,严重影响产品测试的结果,做出错误的判断。


技术实现思路

1、为了克服上述不足,本技术将老化板及测试工具结合的方式设计了一种光耦老化测试装置。

2、本技术的技术方案如下:

3、一种光耦老化测试装置,包括老化板及测试工具;

4、所述老化板包括老化板底板,所述老化板底板上设置若干个光耦焊盘,所述老化板底板上设置一个矩形状凸板,凸板上设置56p金属触点;

5、所述测试工具包括测试底板,测试底板设置56p插排,56p插排与56p金属触点进行接插匹配连接;所述测试底板上设置若干与光耦焊盘位置相对应的双刀双掷开关,所述测试工具上还设置a,b,c三个孔,a孔接测试仪正极,b孔接测试仪ir控制端负极,c孔接测试仪pd控制端负极,双刀双掷开关两端分布接b,c孔,控制光耦中ir和pd的通断,每组开关控制一颗光耦。

6、优选地,上述光耦焊盘设置两排,每排设置13个用于与双刀双掷开关相匹配的焊盘。

7、优选地,上述a,b,c三个孔均为香蕉头插孔,测试时测试仪通过香蕉插头孔与测试板连接。

8、优选地,上述测试底板上还设置若干个固定螺丝孔,用于测试板的固定。

9、本技术的有益效果是:

10、(1)、提高测试准确性;

11、(2)、提高测试人员的效率;

12、(3)、减少老化板的用量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光耦老化测试装置,其特征在于包括老化板及测试工具;

2.根据权利要求1所述的一种光耦老化测试装置,其特征在于所述光耦焊盘设置两排,每排设置13个用于与双刀双掷开关相匹配的焊盘。

3.根据权利要求1所述的一种光耦老化测试装置,其特征在于所述A,B,C三个孔均为香蕉头插孔,测试时测试仪通过香蕉插头孔与测试板连接。

4.根据权利要求1所述的一种光耦老化测试装置,其特征在于所述测试底板上还设置若干个固定螺丝孔,用于测试板的固定。

【技术特征摘要】

1.一种光耦老化测试装置,其特征在于包括老化板及测试工具;

2.根据权利要求1所述的一种光耦老化测试装置,其特征在于所述光耦焊盘设置两排,每排设置13个用于与双刀双掷开关相匹配的焊盘。

3.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈鑫阳李凯陶韵盛刚尤培明
申请(专利权)人:江苏欧密格光电科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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