【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体加工，尤其涉及一种加工件精密测量设备。
技术介绍
1、半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。例如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，半导体在生产完成后会使用测量设备对半导体测量。
2、经检索，公告号为cn218313152u的技术公开了一种半导体精密件测试夹具，包括主体板、气缸和电极块，所述主体板的一侧固定有固定板，所述气缸安装在固定板远离主体板的一面，所述固定板朝向主体板的一测固定有u型架，所述u型架位于主体板的上方，上述专利还存在以下不足之处：
3、1、上述半导体精密件测试夹具在对半导体夹持时，对不同尺寸大小的半导体进行测量时，设备不便于根据不同尺寸做出对应的固定松紧度，可能导致夹持不牢固或者过紧对半导体造成损坏，不能够对半导体进行精密测量；
4、针对上述问题，本技术文件提出了一种加工件精密测量设备。
技术实现思路
1、本技术提供了一种加工件精密测量设备，解决了现有技术中存在对不同尺寸大小的半导体进行测量时，设备不便于根据不同尺寸做出对应的固定松紧度，可能导致夹持不牢固或者过紧对半导体造成损坏的缺点。
2、本技术提供了如下技术方案：
3、一种加工件精密测量设备，包括底板，所述底板的上表面设有两条交错设置贯穿的滑槽，所述滑槽的两端均固定连接有固定块，同一条滑槽内的两个固定
4、两个所述滑槽内均滑动连接有两个滑块，两个所述滑块相对的一侧均固定连接有三角形的夹持块，所述双向螺杆的一端均固定连接有蜗轮，其中相邻的两个所述固定块的一侧均转动连接有蜗杆，所述蜗轮均与蜗杆啮合；
5、所述底板的上表面固定连接有龙门架，所述龙门架的底部设有多个测量尺，所述测量尺用于半导体的测量。
6、在一种可能的设计中，所述龙门架的上表面转动连接有贯穿的转动柱，所述转动柱的底部固定连接有连接架，所述连接架的内部固定连接有夹板，多个所述测量尺均在夹板的内部滑动连接，所述夹板的一侧转动连接有凸轮。
7、在一种可能的设计中，多个所述测量尺的两侧均设有刻度表。
8、在一种可能的设计中，两个所述滑槽交接处固定连接有固定板，所述固定板的底部设有“+”型的转动槽，两个所述双向螺杆均在转动槽内转动连接。
9、在一种可能的设计中，所述转动柱的顶部固定连接有指针。
10、在一种可能的设计中，所述龙门架的上表面固定连接有刻度环，所述刻度环与转动柱同心设置。
11、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。
12、本技术中，通过双向螺杆的设置，转动蜗杆带动蜗轮转动，蜗轮带动双向螺杆转动，双向螺杆带动两个滑块在滑槽内移动，便于通过滑块带动夹持块中心处移动，便于对半导体进行固定，由于蜗轮和蜗杆具有自锁的特性，便于对两个夹持块进行固定，防止夹持块移动，还能够有效的调节松紧度；
13、本技术中，通过测量尺的设置，多个测量尺可对半导体进行轮廓测量，防止半导体的形状不符合标准，在进行轮廓测量的同时，测量尺表面的刻度表便于测量半导体的厚度和宽度，实用性能较高，能够进行多种测量；
14、本技术中，通过刻度环的设置，刻度环固定在龙门架的上表面，当转动柱转动时，带动指针转动，指针指向刻度环，便于查看测量尺转动的角度。
15、本技术中，由于蜗轮和蜗杆具有自锁的特性，便于对两个夹持块进行固定，防止夹持块移动，还能够有效的调节松紧度，测量尺表面的刻度表便于测量半导体的厚度和宽度，实用性能较高，指针指向刻度环，便于查看测量尺转动的角度。
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1.一种加工件精密测量设备，其特征在于，包括：底板(1)，所述底板(1)的上表面设有两条交错设置贯穿的滑槽(9)，所述滑槽(9)的两端均固定连接有固定块(10)，同一条滑槽(9)内的两个固定块(10)之间均转动连接有双向螺杆(8)，两个所述双向螺杆(8)错位设置；
2.根据权利要求1所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，所述龙门架(2)的上表面转动连接有贯穿的转动柱(16)，所述转动柱(16)的底部固定连接有连接架(4)，所述连接架(4)的内部固定连接有夹板(3)，多个所述测量尺(5)均在夹板(3)的内部滑动连接，所述夹板(3)的一侧转动连接有凸轮(12)。
3.根据权利要求2所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，多个所述测量尺(5)的两侧均设有刻度表(11)。
4.根据权利要求1所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，两个所述滑槽(9)交接处固定连接有固定板(15)，所述固定板(15)的底部设有“+”型的转动槽，两个所述双向螺杆(8)均在转动槽内转动连接。
5.根据权利要求2所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，所述
6.根据权利要求1所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，所述龙门架(2)的上表面固定连接有刻度环(18)，所述刻度环(18)与转动柱(16)同心设置。
...【技术特征摘要】
1.一种加工件精密测量设备，其特征在于，包括：底板(1)，所述底板(1)的上表面设有两条交错设置贯穿的滑槽(9)，所述滑槽(9)的两端均固定连接有固定块(10)，同一条滑槽(9)内的两个固定块(10)之间均转动连接有双向螺杆(8)，两个所述双向螺杆(8)错位设置；
2.根据权利要求1所述的一种加工件精密测量设备，其特征在于，所述龙门架(2)的上表面转动连接有贯穿的转动柱(16)，所述转动柱(16)的底部固定连接有连接架(4)，所述连接架(4)的内部固定连接有夹板(3)，多个所述测量尺(5)均在夹板(3)的内部滑动连接，所述夹板(3)的一侧转动连接有凸轮(12)。
3.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：邬松，刘辉，刁章宇，
申请(专利权)人：苏州微飞半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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