System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于荧光相位变化检测的pH传感器制造技术_技高网
当前位置: 首页 > 专利查询>浙江大学专利>正文

一种基于荧光相位变化检测的pH传感器制造技术

技术编号:41202923 阅读:14 留言:0更新日期:2024-05-07 22:28
本发明专利技术公开了一种基于荧光相位变化检测的pH传感器,包括单片机、长波长LED、短波长LED、氢离子敏感荧光薄膜、带通滤光片、光电探测器、鉴相器、温度采集电路、上位机。选取可调频LED作为光源,在检测端固定氢离子敏感的荧光膜,调制LED光源为高频方波并在检测端激发荧光信号,通过鉴相器测量荧光相位变化,得到相应pH。本发明专利技术泛用性好,精度高,抗干扰能力强,可用于海水、工业废水等长期原位监测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于传感器检测,涉及一种基于荧光相位变化检测的ph传感器。


技术介绍

1、ph检测在环境科学、工业制药、食品工业、医疗诊断学、农业等领域都占据了极其重要的地位,在水质监测方面更是尤为关键。现阶段,随着工业制造业飞速发展,带来的水质问题越来越受到人们的关注,水污染严重危害人类的健康,如果工业废水的排放不加以监测和控制,很可能造成不可逆转的危害。

2、常见的定量测量ph的方法包括电化学ph传感器和光化学ph传感器。然而,电化学ph计的寿命很短,不能微型化,容易受到电磁波和射频的干扰,且在高酸碱度范围内存在误差和化学劣化。近年来,光化学传感器由于其灵敏度高、抗干扰性强、生物相容性好、无污染、成本低等优点,引起了研究人员的广泛关注。荧光传感器基于荧光猝灭原理,由于h+是许多荧光敏感物质的良性猝灭剂,所以h+的浓度和荧光指示剂的一些本征参数具有一定的定量关系,通过测量指示剂的荧光强度或者荧光寿命,分析计算所测体系中的h+含量。传统基于荧光强度的传感器有许多缺点:对光源和光路变化的敏感性,以及由于荧光染料降解或浸出引起的漂移。

3、锁相和鉴相技术在许多领域有着广泛的应用,如通信、生物医学、光学测量等领域。它在提高信号采集、处理和分析的精度和可靠性方面发挥着关键作用,为信号处理领域的进一步发展和应用提供了重要支持。


技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足,本专利技术提出了一种基于荧光相位变化检测的ph传感器。本专利技术,1)采用了荧光淬灭法配合相位变化技术进行检测,并利用鉴相器和单片机进行信号的产生和采集;2)制备了纳米级材料(culns2)限域氢离子敏感荧光量子点指示剂,荧光效率高、指示剂泄露少;3)以涂覆氢离子敏感荧光薄膜的玻璃片作为荧光源,检测端固定有吸收型带通滤光片的光电探测器感知并传输被测量信号,对数据进行处理并实现对ph的实时在线测量和系统自检功能。

2、为达到上述目的,本专利技术采用的技术方案是:

3、一种基于荧光相位变化检测的ph传感器,包括单片机、长波长led、短波长led、氢离子敏感荧光薄膜、带通滤光片、光电探测器、鉴相器、上位机;单片机在上位机的控制下分时输出两路方波调制信号;其中,一路方波信号驱动长波长led,发射参考光,参考光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜的检测端,反射后经过带通滤光片照射至光电探测器,通过鉴相器探测参考光信号相对于长波长led调制信号的相位延迟,以此确定参考光相位差;另一路方波信号一段时间后驱动短波长led,发射激发光,激发光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜的检测端,激发的荧光经过带通滤光片照射至光电探测器,通过鉴相器探测荧光信号相对于短波长led调制信号的相位延迟,对比参考光相位差可得荧光真实相位差;荧光真实相位差与待测溶液中h+的浓度相关,氢离子敏感荧光膜与溶液中h+发生荧光淬熄,导致敏感膜荧光寿命改变,光吸收和发射之间存在时间延迟,产生荧光真实相位差。

4、所述的氢离子敏感荧光薄膜的材料为金属有机框架(mofs)限域氢离子敏感荧光量子点指示剂;利用乙醇溶解量子点制备ph敏感液,涂覆在玻璃片上形成氢离子敏感荧光薄膜。

5、检测端固定有吸收型带通滤光片的光电探测器,用于排除入射光干扰。

6、所述的鉴相器集成了锁相放大电路,用于滤除低频或高频背景噪声干扰。

7、所述的单片机与温度采集电路相连,用于实时采集环境温度用于引入温度校正系数,将水样温度为t℃时的ph,换算成25℃下的ph。

8、所述的长波长led的波长为570nm;短波长led的波长为370nm。

9、本专利技术的有益效果

10、本专利技术提出的一种基于荧光相位变化检测的ph传感器:

11、1)制备了集成化ph在线传感器,其泛用性和,精度高,抗干扰能力强,可用于长期原位监测;

12、2)利用有机金属框架(mofs)限域氢离子敏感荧光量子点指示剂制备的荧光薄膜,解决了荧光指示剂泄露问题;

13、3)打破了目前基于指示剂的ph传感器检测范围窄的壁垒。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于:包括单片机(1)、长波长LED(2)、短波长LED(3)、氢离子敏感荧光薄膜(4)、带通滤光片(5)、光电探测器(6)、鉴相器(7)、上位机(9);单片机(1)在上位机(9)的控制下分时输出两路方波调制信号;其中,一路方波信号驱动长波长LED(2),发射参考光,参考光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜(4)的检测端,反射后经过带通滤光片(5)照射至光电探测器(6),通过鉴相器(7)探测参考光信号相对于长波长LED调制信号的相位延迟,以此确定参考光相位差;另一路方波信号一段时间后驱动短波长LED(3),发射激发光,激发光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜(4)的检测端,激发的荧光经过带通滤光片(5)照射至光电探测器(6),通过鉴相器(7)探测荧光信号相对于短波长LED调制信号的相位延迟,对比参考光相位差可得荧光真实相位差;荧光真实相位差与待测溶液中H+的浓度相关,氢离子敏感荧光膜(4)与溶液中H+发生荧光淬熄,导致敏感膜荧光寿命改变,光吸收和发射之间存在时间延迟,产生荧光真实相位差。

2.根据权利要求1所述的基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于,所述的氢离子敏感荧光薄膜(4)的材料为金属有机框架(MOFs)限域氢离子敏感荧光量子点指示剂;利用乙醇溶解量子点制备pH敏感液,涂覆在玻璃片上形成氢离子敏感荧光薄膜(4)。

3.根据权利要求1所述的基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于,检测端固定有吸收型带通滤光片(5)的光电探测器(6),用于排除入射光干扰。

4.根据权利要求1所述的基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于,所述的鉴相器(7)集成了锁相放大电路,用于滤除低频或高频背景噪声干扰。

5.根据权利要求1所述的基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于,所述的单片机(1)与温度采集电路(8)相连,用于实时采集环境温度用于引入温度校正系数,将水样温度为T℃时的pH,换算成25℃下的pH。

6.根据权利要求1所述的基于荧光相位变化检测的pH传感器,其特征在于,所述的长波长LED(2)的波长为570nm;短波长LED(3)的波长为370nm。

...

【技术特征摘要】

1.一种基于荧光相位变化检测的ph传感器,其特征在于:包括单片机(1)、长波长led(2)、短波长led(3)、氢离子敏感荧光薄膜(4)、带通滤光片(5)、光电探测器(6)、鉴相器(7)、上位机(9);单片机(1)在上位机(9)的控制下分时输出两路方波调制信号;其中,一路方波信号驱动长波长led(2),发射参考光,参考光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜(4)的检测端,反射后经过带通滤光片(5)照射至光电探测器(6),通过鉴相器(7)探测参考光信号相对于长波长led调制信号的相位延迟,以此确定参考光相位差;另一路方波信号一段时间后驱动短波长led(3),发射激发光,激发光传导至涂覆有氢离子敏感荧光薄膜(4)的检测端,激发的荧光经过带通滤光片(5)照射至光电探测器(6),通过鉴相器(7)探测荧光信号相对于短波长led调制信号的相位延迟,对比参考光相位差可得荧光真实相位差;荧光真实相位差与待测溶液中h+的浓度相关,氢离子敏感荧光膜(4)与溶液中h+发生荧光淬熄,导致敏感膜荧光寿命改变,光吸收和发射之间存在时间延迟,产生荧光真实相位差。

【专利技术属性】
技术研发人员:何赛灵杨涛杨安琪
申请(专利权)人:浙江大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1