【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片检测，具体为一种id芯片检验装置。
技术介绍
1、共聚焦主机工作时，需要通过探头才能正常工作，将人体的组织细胞清晰地呈现在上位机配套软件中。探头内植入有一个能与主机通讯的id(identification card)芯片，让主机能够正确地识别探头类型及型号等一系列关键的参数，从而确保探头的信息能够通过上位机软件读写，为了确保探头的生产质量，生产过程中就需要对id芯片进行检测。
2、经检所专利公告号为cn215494995u公开了一种id芯片检验装置，属于芯片测试
，本技术的id芯片检验装置包括箱体和顶板，箱体包括至少一个侧面和一个底面，箱体的侧面设置有通讯接口；顶板与箱体可拆卸连接，顶板上设置有id芯片插座，id芯片插座包括设有芯片卡槽的底座；箱体和顶板合围成一个容置腔，id芯片插座位于容置腔外侧，容置腔内设置有评估系统电路板，评估系统电路板通过连接器与id芯片插座电连接；评估系统电路板与通讯接口电连接。该方案系统集成度高，箱体对评估系统电路板起到很好的保护作用；操作方式单一、便于生产人员操作，且id芯片配合上位机软件使得检验结果更直观，与阻抗量测法相比较，不良品筛选率更高。
3、然而该专利尚有不足，该专利在检测过程中需要将id芯片插入芯片卡槽中，然后通过夹紧器盖板对id芯片进行固定，再等待id芯片的检测结果，然后将id芯片取出，放入新的的id芯片再次进行检测，检测过程中需要耗费大量的等待时间，检测的工作效率较低，不适用于大批量的id芯片检测，且id芯片放置在芯片卡槽中时，由于id芯片
4、为此，我们提出了一种id芯片检验装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种id芯片检验装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种id芯片检验装置，包括底架，所述底架上固定安装有检测台，所述检测台上固定安装有底座，所述底座顶端设置有转盘，所述转盘上预留有多个放置槽，所述转盘的底端固定安装有连接轴，所述连接轴的底端转动连接在底座内，多个所述放置槽内底端均设置有托板，多个所述托板的底端均固定安装有顶杆，所述转盘的底端位于每个顶杆的两侧均固定安装有限位架，每个所述顶杆的底端固定安装有连接板，每个所述连接板的两侧均固定安装有限位片，两个所述限位片均滑动连接在限位架内，两个所述限位片的顶端均固定安装有弹簧，两个所述弹簧的顶部均固定安装在限位架内顶端。
3、可选的，所述连接轴上套设有限位环，所述限位环转动连接在底座内，通过限位环能够对连接轴形成限位。
4、可选的，所述连接轴的底端固定安装有从动齿轮，所述检测台底端位于从动齿轮的后部固定安装有支架，所述支架内固定安装有马达，所述马达的输出端上固定安装有主动齿轮，所述主动齿轮啮合连接在从动齿轮上，通过马达带动主动齿轮转动有利于本设备的使用。
5、可选的，所述连接轴的底端延伸出检测台外，通过此种设计有利于本设备的使用。
6、可选的，每个所述连接板远离连接轴的一侧均固定安装有捏合板，所述转盘上对应多个捏合板处均固定安装有固定片，通过将捏合板朝着固定片一侧捏合，即可使得托板将id芯片拖出便于拿取。
7、可选的，所述检测台上位于转盘的后端固定安装有安装架，所述安装架的底端固定安装有检测模块，通过检测模块便于对id芯片进行检测。
8、可选的，所述安装架的前端固定安装有控制主机，通过控制主机便于控制本设备进行工作。
9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
10、通过转盘、底座、连接轴、从动齿轮、主动齿轮、马达、弹簧、连接板、放置槽、托板、顶杆、限位架和限位片的相互配合，能够在检测过程中利用等待时间，提前放入待检测的id芯片或者取出检测好的id芯片，充分利用时间，减少检测间隔时间，从而进一步提高了检测的工作效率，同时能够在检测结束后利用托板将id芯片推出放置槽外，方便拿取，从而进一步提高了本设备使用的便捷性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种ID芯片检验装置，其特征在于，包括底架(1)，所述底架(1)上固定安装有检测台(2)，所述检测台(2)上固定安装有底座(8)，所述底座(8)顶端设置有转盘(3)，所述转盘(3)上预留有多个放置槽(18)，所述转盘(3)的底端固定安装有连接轴(9)，所述连接轴(9)的底端转动连接在底座(8)内，多个所述放置槽(18)内底端均设置有托板(19)，多个所述托板(19)的底端均固定安装有顶杆(20)，所述转盘(3)的底端位于每个顶杆(20)的两侧均固定安装有限位架(21)，每个所述顶杆(20)的底端固定安装有连接板(17)，每个所述连接板(17)的两侧均固定安装有限位片(22)，两个所述限位片(22)均滑动连接在限位架(21)内，两个所述限位片(22)的顶端均固定安装有弹簧(15)，两个所述弹簧(15)的顶部均固定安装在限位架(21)内顶端。
2.根据权利要求1所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，所述连接轴(9)上套设有限位环(14)，所述限位环(14)转动连接在底座(8)内。
3.根据权利要求1所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，所述连接轴(9)
4.根据权利要求1所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，所述连接轴(9)的底端延伸出检测台(2)外。
5.根据权利要求1所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，每个所述连接板(17)远离连接轴(9)的一侧均固定安装有捏合板(6)，所述转盘(3)上对应多个捏合板(6)处均固定安装有固定片(7)。
6.根据权利要求1所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，所述检测台(2)上位于转盘(3)的后端固定安装有安装架(4)，所述安装架(4)的底端固定安装有检测模块(16)。
7.根据权利要求6所述的一种ID芯片检验装置，其特征在于，所述安装架(4)的前端固定安装有控制主机(5)。
...【技术特征摘要】
1.一种id芯片检验装置，其特征在于，包括底架(1)，所述底架(1)上固定安装有检测台(2)，所述检测台(2)上固定安装有底座(8)，所述底座(8)顶端设置有转盘(3)，所述转盘(3)上预留有多个放置槽(18)，所述转盘(3)的底端固定安装有连接轴(9)，所述连接轴(9)的底端转动连接在底座(8)内，多个所述放置槽(18)内底端均设置有托板(19)，多个所述托板(19)的底端均固定安装有顶杆(20)，所述转盘(3)的底端位于每个顶杆(20)的两侧均固定安装有限位架(21)，每个所述顶杆(20)的底端固定安装有连接板(17)，每个所述连接板(17)的两侧均固定安装有限位片(22)，两个所述限位片(22)均滑动连接在限位架(21)内，两个所述限位片(22)的顶端均固定安装有弹簧(15)，两个所述弹簧(15)的顶部均固定安装在限位架(21)内顶端。
2.根据权利要求1所述的一种id芯片检验装置，其特征在于，所述连接轴(9)上套设有限位环(14)，所述限位环(14)转动连接在底座(8)内。
3.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：林郁玲，
申请(专利权)人：深圳市卓尔维教育有限公司，
类型：新型
国别省市：
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