【技术实现步骤摘要】
本技术涉及纳米晶带材生产制造，具体为一种超薄纳米晶带材卷收测量装置。
技术介绍
1、纳米晶是指利用高能聚合球体，把水中钙、镁离子、碳酸氢根等打包产生不溶于水的纳米级晶体，从而使水不生垢达到软化的目的，但是现有的检测装置不能在发现问题后及时停止，避免造成更大的损失。例如申请号为cn201920403529.6的专利文件公开了一种超薄纳米晶带材综合检测装置。该种检测装置通过利用滑块的上下运动，可以调节张紧辊的位置，从而带材张紧，从而提高带材后续测量的准确性。
2、但是上述类似方案，超薄纳米晶带材在送料过程中由于张力而容易断裂开，现有的设备无法处理非晶带材断裂的问题，只能停机手动进线续接，并且在生产过程中，带材的厚度不均匀，从而降低带材的品质，浪费原材料，在收卷的过程中，由于带材的表面有灰尘，从而导致收卷后带材表面不平滑。
3、于是，有鉴于此，针对现有的结构不足予以研究改良，提出一种超薄纳米晶带材卷收测量装置。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本技术提供了一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，解决了上述
技术介绍
中提出的上述类似方案，超薄纳米晶带材在送料过程中由于张力而容易断裂开，现有的设备无法处理非晶带材断裂的问题，只能停机手动进线续接，并且在生产过程中，带材的厚度不均匀，从而降低带材的品质，浪费原材料，在收卷的过程中，由于带材的表面有灰尘，从而导致收卷后带材表面不平滑的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种超薄纳米晶带材卷收测量装置
3、进一步的，所述夹持组件包括滑块、导轨、限位块和夹持板，且所述箱体的前端面设置有导轨，所述导轨的前端面设置有所述滑块，且所述滑块靠近带子的一侧设置有夹持板，并且所述导轨的右侧设置有限位块。
4、进一步的，所述厚度检测组件的右侧设置有引导辊，且所述引导辊的高度低于辊轴的高度。
5、进一步的，所述引导辊的右侧设置有收卷组件，且所述收卷组件包括收卷盘、挡板和转轴，所述箱体的前端面设置有所述收卷盘，且所述收卷盘的前端面设置有挡板，并且所述收卷盘的内侧设置有转轴。
6、进一步的，所述箱体的内腔左侧设置有驱动组件，且所述驱动组件包括第一电机、第一转轴、皮带和第二转轴，所述第一清洁辊的内侧设置有第一转轴，且所述第一转轴的一端连接有第一电机，所述第一转轴的下方设置有第二转轴，所述第一转轴和第二转轴的外壁均设置有皮带。
7、进一步的，所述箱体的内腔右侧设置有第二电机，且第二电机的输出端连接有转轴，并且第二电机的转动方向与第一电机的转动方向相反。
8、本技术提供了一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，具备以下有益效果：
9、能够在收卷过程中，当带材由于张力断开时，能够将断裂处自动焊接，且能够检测带材的厚度是否合格，进行及时调整，避免厚度不合格而导致原材料的浪费，能够在收卷过程中对带子进行清理，避免影响收卷后的带材的质量，其具体内容如下：
10、通过清洁辊将通过毛刷对带子进行清洁，带子由于张力断开，第二电机停止转动，带子断开后右端被夹持板夹持，带子的左端被滑块下端的夹持板夹持，夹持后滑块沿导轨向右滑动将左右两端的带子上下重合，伸缩杆带动焊接板向带子压紧进行焊接。
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1.一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，包括箱体(1)、焊接组件(5)和厚度检测组件(6)，其特征在于：所述箱体(1)的外侧设置有第一辊轴(2)，且第一辊轴(2)的右侧设置有清洁组件(3)，所述清洁组件(3)包括第一清洁辊(301)、第二清洁辊(302)和毛刷(303)，所述箱体(1)的外侧设置有第一清洁辊(301)，且所述第一清洁辊(301)的下方设置有第二清洁辊(302)，所述第一清洁辊(301)和所述第二清洁辊(302)的外侧均设置有毛刷(303)，所述清洁组件(3)的右侧设置有夹持组件(4)，所述焊接组件(5)位于所述夹持组件(4)的右侧，所述焊接组件(5)包括伸缩杆(501)和焊接板(502)，所述箱体(1)的前端面设置有两组焊接板(502)，且两组所述焊接板(502)的外侧均连接有伸缩杆(501)，所述厚度检测组件(6)位于所述焊接组件(5)的右侧，所述厚度检测组件(6)包括辊轴(601)和红外测距传感器(602)，所述箱体(1)的前端面设置有辊轴(601)，所述辊轴(601)的上方设置有红外测距传感器(602)。
2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材卷
3.根据权利要求2所述的一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，其特征在于，所述厚度检测组件(6)的右侧设置有引导辊(7)，且所述引导辊(7)的高度低于辊轴(601)的高度。
4.根据权利要求3所述的一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，其特征在于，所述引导辊(7)的右侧设置有收卷组件(8)，且所述收卷组件(8)包括收卷盘(801)、挡板(802)和转轴(803)，所述箱体(1)的前端面设置有所述收卷盘(801)，且所述收卷盘(801)的前端面设置有挡板(802)，并且所述收卷盘(801)的内侧设置有转轴(803)。
5.根据权利要求4所述的一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，其特征在于，所述箱体(1)的内腔左侧设置有驱动组件(9)，且所述驱动组件(9)包括第一电机(901)、第一转轴(902)、皮带(903)和第二转轴(904)，所述第一清洁辊(301)的内侧设置有第一转轴(902)，且所述第一转轴(902)的一端连接有第一电机(901)，所述第一转轴(902)的下方设置有第二转轴(904)，所述第一转轴(902)和第二转轴(904)的外壁均设置有皮带(903)。
6.根据权利要求5所述的一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，其特征在于，所述箱体(1)的内腔右侧设置有第二电机(10)，且第二电机(10)的输出端连接有转轴(803)，并且第二电机(10)的转动方向与第一电机(901)的转动方向相反。
...【技术特征摘要】
1.一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，包括箱体(1)、焊接组件(5)和厚度检测组件(6)，其特征在于：所述箱体(1)的外侧设置有第一辊轴(2)，且第一辊轴(2)的右侧设置有清洁组件(3)，所述清洁组件(3)包括第一清洁辊(301)、第二清洁辊(302)和毛刷(303)，所述箱体(1)的外侧设置有第一清洁辊(301)，且所述第一清洁辊(301)的下方设置有第二清洁辊(302)，所述第一清洁辊(301)和所述第二清洁辊(302)的外侧均设置有毛刷(303)，所述清洁组件(3)的右侧设置有夹持组件(4)，所述焊接组件(5)位于所述夹持组件(4)的右侧，所述焊接组件(5)包括伸缩杆(501)和焊接板(502)，所述箱体(1)的前端面设置有两组焊接板(502)，且两组所述焊接板(502)的外侧均连接有伸缩杆(501)，所述厚度检测组件(6)位于所述焊接组件(5)的右侧，所述厚度检测组件(6)包括辊轴(601)和红外测距传感器(602)，所述箱体(1)的前端面设置有辊轴(601)，所述辊轴(601)的上方设置有红外测距传感器(602)。
2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材卷收测量装置，其特征在于，所述夹持组件(4)包括滑块(401)、导轨(402)、限位块(403)和夹持板(404)，且所述箱体(1)的前端面设置有导轨(402)，所述导轨(402)的前端面设置有所述滑块(401)，且所述滑块(401)靠近带子的一侧设置有夹持板(404)，并且所述导轨(4...
【专利技术属性】
技术研发人员：吉云飞，谷胜，江向荣，江沐风，
申请(专利权)人：上海天新纳米技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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