用于测试触摸按键的测试装置和测试系统制造方法及图纸

技术编号:41136668 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-30 18:08
本申请涉及产品测试技术领域,公开一种用于测试触摸按键的测试装置和测试系统。其中,测试装置包括测试框架、移动组件和导电体。移动组件滑动设置于测试框架。导电体设置于移动组件,用于与待测件相接触。通过导电体设置于移动组件且与待测件相接触,移动组件滑动设置于测试框架,利用移动组件与测试框架相配合实现导电体的移动,以适应于触摸按键的设置位置,从而提升测试装置的测试灵活性,进而提升测试装置的适用范围。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及产品测试,例如涉及一种用于测试触摸按键的测试装置和测试系统


技术介绍

1、随着科学技术的发展,各种产品设备逐渐多元化。为方便用户操作设备实现其对应的功能,厂家往往在产品设备上设置或多或少的功能按键,用户通过操作功能按键对产品设备进行控制。因此,按键是否具有足够的灵敏度和准确性,严重影响着用户的产品使用体验。为确保按键具有足够的灵敏度和准确性,厂家需要对相应的产品设备进行按键灵敏度测试。相关技术中,通常采用人工按键测试,即测试人员手持测试铜棒进行反复按键测试。这种测试方式对测试人员要求较高,需要长时间保持同一姿势或维持同一动作,容易导致测试人员疲累而影响测试效率和准确性。

2、相关技术中,解决上述问题的方案是提供了一种感应按键测试装置。感应按键测试装置包括测试机架和活动连接于测试机架上的测试棒,测试棒可根据待测试按键的位置选择性地穿入测试机架。

3、在已公开的实施过程中,通过提供感应按键测试装置存在以下问题:该装置根据待测试按键位置选择性地将测试棒穿入测试机架,从而进行测试。这需要待测试按键的位置与测试机架的限位孔位置具有一定适配性,而每台测试机架限位孔的位置固定,从而导致该感应按键测试装置的测试灵活性较低,测试装置的适用范围有限。

4、需要说明的是,在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现思路

1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解,下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围,而是作为后面的详细说明的序言。

2、本公开实施例提供了一种用于测试触摸按键的测试装置和测试系统,通过移动组件实现对导电体的位置移动,以进行触摸按键测试,提升了测试装置的测试灵活性。

3、在一些实施例中,提供了一种用于测试按键的测试装置,包括:测试框架;移动组件,移动组件滑动设置于测试框架;导电体,设置于移动组件,用于与被测件相接触。

4、可选地,测试框架包括:第一横梁;第二横梁,与第一横梁平行设置,且沿测试框架的高度方向,第一横梁和第二横梁间隔设置;其中,移动组件设置于第一横梁和第二横梁之间,且移动组件能够相对于第一横梁和第二横梁滑动。

5、可选地,第一横梁包括:导向槽,与第二横梁平行设置,导向槽槽口沿测试框架的高度方向朝向第二横梁;其中,移动组件设置于导向槽内,且移动组件能够相对于导向槽滑动。

6、可选地,第二横梁包括:导向杆,与导向槽平行设置,移动组件与导向杆滑动连接;其中,移动组件设置于导向杆和导向槽之间,且移动组件能够相对于导向杆和导向槽滑动。

7、可选地,移动组件包括:滑动连接件,包括连接部;滑动杆,穿设于连接部,且部分滑动杆突出于连接部;卡接部,设置于滑动杆靠近测试框架一端;其中,滑动连接件滑动设置于测试框架,导电体与卡接部相卡接。

8、可选地,卡接部包括:卡接件,与滑动杆靠近测试框架一端连接设置;第一紧固件,设置于卡接件远离滑动杆一端;其中,导电体穿设于卡接件,卡接件与第一紧固件相配合用于限定导电体沿测试框架的高度方向移动。

9、可选地,卡接件包括:第一半环,包括第一端和第二端;第二半环,包括第三端和第四端,第一端和第三端固定连接,第三端和第四端通过第一紧固件连接设置;其中,第一半环和/或第二半环与滑动杆相连接。

10、可选地,移动组件还包括:第二紧固件,设置于滑动连接件;其中,滑动连接件包括紧固螺孔,第二紧固件穿设于紧固螺孔并与滑动杆抵接,第二紧固件与滑动连接件相配合用于限定滑动杆沿测试框架宽度方向水平移动。

11、可选地,用于测试触摸按键的测试装置还包括:传感测试器,与导电体连接,用于检测导电体的感应电流。

12、在一些实施例中,提供了一种测试系统,包括:测试平台,用于放置待测件;如上述任一实施例中用于测试触摸按键的测试装置,测试框架设置于测试平台上。

13、本公开实施例提供的用于测试触摸按键的测试装置和测试系统,可以实现以下技术效果:

14、本公开实施例提供的用于测试触摸按键的测试装置,包括测试框架、移动组件和导电体。移动组件滑动设置于测试框架。导电体设置于移动组件,用于与被测件相接触。

15、本公开提供的用于测试触摸按键的测试装置,通过导电体设置于移动组件且与被测件相接触,移动组件滑动设置于测试框架,利用移动组件与测试框架相配合实现导电体的移动,以适应于触摸按键的设置位置,从而提升测试装置的测试灵活性。

16、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的,不用于限制本申请。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,第一横梁包括:

3.根据权利要求2所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,第二横梁包括:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,移动组件包括:

5.根据权利要求4所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,卡接部包括:

6.根据权利要求5所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,卡接件包括:

7.根据权利要求4所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,移动组件还包括:

8.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,还包括:

9.一种测试系统,其特征在于,包括:

【技术特征摘要】

1.一种用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,第一横梁包括:

3.根据权利要求2所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,第二横梁包括:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于测试触摸按键的测试装置,其特征在于,移动组件包括:

5.根据权利要求4所述的用...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏守克黄子轩何振华
申请(专利权)人:青岛海尔空调器有限总公司
类型:新型
国别省市:

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