【技术实现步骤摘要】
本公开涉及一种电路布置。具体地说，本公开涉及用于检测包括电源电压变化(例如，瞬态变化)的毛刺的电路布置。
技术介绍
1、在一些情况下，电路的电源电压变化可能会导致电路发生故障。例如，在一些电路中，逻辑电路系统的电源电压可能被恶意改变，从而导致逻辑电路系统发生故障。具体地说，电路中的逻辑电路的操作可能会被本领域中已知为毛刺的电源电压的一个或多个瞬态变化中断。攻击者可能会故意操纵电路的电源电压，从而导致电路操作发生故障。还已知的是，电源电压的某些突发毛刺可能会导致时序问题或改变双稳态装置的状态。
技术实现思路
1、根据本公开的第一方面，提供一种用于检测电源电压上的毛刺的电路布置，所述电路布置包括：
2、电源端，所述电源端被配置成接收所述电源电压；
3、低通滤波器布置，所述低通滤波器布置耦合到所述电源端并且被配置成接收所述电源电压并提供滤波后电源电压；
4、第一检测器电路，所述第一检测器电路包括
5、pmos晶体管，以及
6、包括第一端和第二端的第一电阻器，所述pmos晶体管包括：
7、被配置成接收所述电源电压的源极端，
8、被配置成接收所述滤波后电源电压的栅极端，以及
9、耦合到所述第一电阻器的所述第一端的漏极端，其中所述第一电阻器的所述第二端耦合到参考电压端，所述参考电压端被配置成耦合到参考电压；以及
10、耦合到所述第一电阻器的所述第一端的第一检测器输出端，其中所述第一检测器
11、第二检测器电路，所述第二检测器电路包括
12、pmos晶体管，以及
13、nmos晶体管，其中
14、所述pmos晶体管包括：
15、被配置成接收所述滤波后电源电压的源极端，
16、被配置成接收所述电源电压的栅极端，以及
17、漏极端；
18、所述nmos晶体管包括：
19、漏极端，
20、被配置成接收所述电源电压的栅极端，
21、被配置成耦合到所述参考电压端的源极端，并且其中所述nmos晶体管的所述漏极端耦合到所述pmos晶体管的所述漏极端；
22、耦合到所述pmos晶体管的所述漏极且耦合到所述nmos晶体管的所述漏极的第二检测器输出端，其中所述第二检测器输出端被配置成提供指示包括所述电源电压的瞬态负向变化的毛刺的第二检测信号；以及
23、电路布置输出端，所述电路布置输出端被配置成提供输出信号，所述输出信号指示基于所述第一检测信号和所述第二检测信号检测到所述电源电压中的毛刺。
24、在一个或多个实施例中，所述电路布置可另外包括被配置成接收所述第一检测信号和所述第二检测信号的逻辑“或”电路系统，并且其中所述输出信号基于所述第一检测信号和所述第二检测信号中的任一者或两者指示毛刺。
25、在一个或多个实施例中，所述电路布置可另外包括被配置成接收第二电源电压的第二电源端，并且其中所述电路布置包括：
26、基于在所述电源端处提供的所述电源电压的第一电压域，以及
27、基于在所述第二电源端处提供的所述第二电源电压的第二电压域，其中
28、所述第一检测器电路和第二检测器电路形成所述第一电压域的一部分，并且所述电路布置输出端包括所述第二电压域的一部分，并且其中
29、所述电路布置包括电平移位器，所述电平移位器被配置成接收基于所述第一检测信号和所述第二检测信号的一个或多个信号，并将所述一个或多个信号电平移位到所述第二电压域以在所述电路布置输出端处提供所述输出信号。
30、在一个或多个例子中，所述电路布置可另外包括
31、电平移位器布置，所述电平移位器布置用于将所述输出信号从第一电源电压电平移位到第二不同电压电平，包括
32、第二电源端，
33、反相器布置，以及
34、电平移位器，其中
35、所述第二电源端耦合到第二不同电源电压，并且其中
36、所述输出信号基于所述电平移位器的输出，并且为处于第二电压电平的信号。
37、在一个或多个实施例中，所述第一电源电压电平可低于所述第二电压电平。
38、在一个或多个实施例中，所述第一电源电压电平可与所述第二电压电平相同。
39、在一个或多个例子中，所述第一电源电压电平可用于向所述电路的第一电压域中的组件供电，并且第二电源电压电平用于向所述电路的第二不同电压域中的组件或向被配置成耦合到外部电路的端供电。
40、在一个或多个例子中，第一电压域可为0.8v，并且第二电压域可为1.8v。
41、在一个或多个实施例中，所述电路布置可另外包括
42、锁存电路，所述锁存电路被配置成接收基于所述第一检测信号和所述第二检测信号中的一者或两者的至少一个信号，并且被配置成锁存所述输出信号以用于另一电路。
43、在一个或多个实施例中，所述锁存电路可为rs触发器。
44、在一个或多个实施例中，所述rs触发器可被配置成从所述另一电路接收复位信号。
45、在一个或多个实施例中，所述低通滤波器布置可包括：
46、第一低通滤波器，以及
47、第二低通滤波器，其中
48、所述第一低通滤波器被配置成接收所述电源电压并向所述第一检测器电路提供滤波后电源电压，并且其中
49、所述第二低通滤波器被配置成接收所述电源电压并向所述第二检测器电路提供滤波后电源电压。
50、在一个或多个实施例中，所述低通滤波器布置可包括至少一个rc滤波器。
51、在一个或多个实施例中，所述第一电阻器可具有基于在所述第一检测器中使用的所述pmos晶体管的断开电阻的电阻值。
52、在一个或多个实施例中，所述电路布置可另外包括：
53、逻辑“或”电路系统，所述逻辑“或”电路系统包括
54、第一逻辑输入端，
55、第二逻辑输入端，以及
56、逻辑输出端，其中
57、所述第一逻辑输入端连接到所述第一检测器输出端，并且
58、所述第二逻辑输入端连接到所述第二检测器输出端，并且其中
59、所述逻辑输出端耦合到所述电路布置输出端。
60、在一个或多个实施例中，所述电路布置可另外包括：
61、电平移位器布置，所述电平移位器布置包括：
62、第一电平移位器输入端，
63、第二电平移位器输入端，以及
64、电平移位器输出端，其中
65、所述第一电平移位器输入端和所述第二电平移位器输入端连接到所述逻辑输出端，并且其中
66、所述电平移位器输出端耦合到所述电路布置本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于检测电源电压上的毛刺的电路布置，其特征在于，包括
2.根据权利要求1所述的电路布置，其特征在于，另外包括被配置成接收所述第一检测信号和所述第二检测信号的逻辑“或”电路系统，并且其中所述输出信号基于所述第一检测信号和所述第二检测信号中的任一者或两者指示毛刺。
3.根据在前的任一项权利要求所述的电路布置，其特征在于，所述电路布置包括被配置成接收第二电源电压的第二电源端，并且其中所述电路布置包括：
4.根据权利要求3所述的电路布置，其特征在于，第一电源电压电平低于第二电压电平。
5.根据权利要求4所述的电路布置，其特征在于，所述第一电源电压电平与所述第二电压电平相同。
6.根据在前的任一项权利要求所述的电路布置，其特征在于，另外包括
7.根据权利要求6所述的电路布置，其特征在于，所述锁存电路为RS触发器。
8.根据权利要求7所述的电路布置，其特征在于，所述RS触发器被配置成从所述另一电路接收复位信号。
9.根据权利要求1所述的电路布置，其特征在于，另外包括：
10.一
...【技术特征摘要】
1.一种用于检测电源电压上的毛刺的电路布置，其特征在于，包括
2.根据权利要求1所述的电路布置，其特征在于，另外包括被配置成接收所述第一检测信号和所述第二检测信号的逻辑“或”电路系统，并且其中所述输出信号基于所述第一检测信号和所述第二检测信号中的任一者或两者指示毛刺。
3.根据在前的任一项权利要求所述的电路布置，其特征在于，所述电路布置包括被配置成接收第二电源电压的第二电源端，并且其中所述电路布置包括：
4.根据权利要求3所述的电路布置，其特征在于，第一电源电压电平低于第二电压电平。
...【专利技术属性】
技术研发人员：约阿希姆·约瑟夫·马里亚·克吕肯，万超，
申请(专利权)人：恩智浦有限公司，
类型：发明
国别省市：
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