【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及闪存生产领域，尤其涉及一种质量可追溯的flash生产方法、设备及存储介质。
技术介绍
1、当前，工业生产flash闪存硬盘时，对nand flash的质量管控流程多、规范多。并且，flash的颗粒筛选、主控筛选、产品级各类测试、产品生产流程等操作的环节多且过程数据类型多。
2、由于工业生产flash闪存硬盘的质量和可靠性要求很高，需要生产过程中确保flash闪存硬盘的产品数据是符合质量管控和各类生产流程规范，但是目前的flash闪存硬盘的生产数据只保留在生产设备的数据中，使得flash闪存硬盘数据调取困难且无法追溯生产测试流程的数据，导致flash闪存硬盘的生产与测试过程改进困难。因此，针对当前的问题，需要一种新的技术来解决该问题。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于解决flash闪存硬盘数据调取困难且无法追溯生产测试流程数据的问题。
2、本专利技术第一方面提供了一种质量可追溯的flash生产方法，所述质量可追溯的flash生产方法包括：
3、基于预置flash生产工艺流程，生产得到所述生产工艺流程对应的工艺节点数据；
4、在待检测的flash上设置黑匣子物理块，其中，所述黑匣子物理块设置为不可擦除；
5、根据预置检测工艺流程，对所述flash进行检测处理，得到检测节点数据；
6、基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash
7、可选的，在本专利技术第一方面的第一种实现方式中，在所述根据预置检测工艺流程，对所述flash进行检测处理，得到检测节点数据之后，还包括：
8、将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入外部spi flash中，以便对所述flash的生产测试数据备份。
9、可选的，在本专利技术第一方面的第二种实现方式中，所述在所述待检测的flash上设置黑匣子物理块包括：
10、设置所述待检测的flash的部分slc物理块为黑匣子物理块。
11、可选的，在本专利技术第一方面的第三种实现方式中，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash包括：基于时间轴，将所述工艺节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中；
12、判断所述flash的黑匣子物理块是否存在存储空间；
13、若存在存储空间，则基于时间轴，将所述检测节点数据写入所述flash黑匣子物理块中；
14、判断所述flash的黑匣子物理块是否存在存储空间；
15、若存在存储空间，则将所述flash确定为质量可追溯的flash。
16、可选的，在本专利技术第一方面的第四种实现方式中，所述工艺节点数据包括：温度曲线、写入数据量、读取数据量、写入速度曲线、读取速度曲线、掉电次数、擦除异常数据、编程异常数据、读取出错信息等。
17、可选的，在本专利技术第一方面的第五种实现方式中，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash包括:
18、读取所述flash的黑匣子物理块的存储空间值；
19、判断所述工艺节点数据和所述检测节点数据的数据总量是否小于所述存储空间值；
20、若小于所述存储空间值，则基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash。
21、可选的，在本专利技术第一方面的第六种实现方式中，在所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash之后，还包括：
22、读取所述质量可追溯的flash对应的唯一序列号；
23、基于所述唯一序列号，将所述质量可追溯的flash对应黑匣子物理块中的数据上传至云端数据库备份。
24、可选的，在本专利技术第一方面的第七种实现方式中，所述检测节点数据包括：读写性能测试数据、擦除性能测试数据、加密解密性能测试数据、物理块可靠性测试数据，其中，所述读写性能测试数据、所述擦除性能测试数据、所述加密解密性能测试数据、所述物理块可靠性测试数据均为加密形式，以便保证数据完整和安全。
25、本专利技术第二方面提供了一种质量可追溯的flash生产设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述质量可追溯的flash生产设备执行上述的质量可追溯的flash生产方法。
26、本专利技术的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的质量可追溯的flash生产方法。
27、在本专利技术实施例中，通过在flash闪存硬盘的物理块中开辟预留存储空间，按照数据生成的先后顺序，将生产和测试流程各环节的数据存储在预留空间中，当flash闪存硬盘发现质量问题，可以快速追查到生产或者是测试环节中异常数据，以便改善生产和测试的工艺流程，解决了flash闪存硬盘数据调取困难且无法追溯生产测试流程的数据的技术问题。
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1.一种质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，在所述根据预置检测工艺流程，对所述Flash进行检测处理，得到检测节点数据之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，所述在所述待检测的Flash上设置黑匣子物理块包括：
4.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述Flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的Flash包括：
5.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，所述工艺节点数据包括：温度曲线、写入数据量、读取数据量、写入速度曲线、读取速度曲线、掉电次数、擦除异常数据、编程异常数据、读取出错信息等。
6.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述Flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的Flash包括:p>
7.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，在所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述Flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的Flash之后，还包括：
8.根据权利要求1所述的质量可追溯的Flash生产方法，其特征在于，所述检测节点数据包括：读写性能测试数据、擦除性能测试数据、加密解密性能测试数据、物理块可靠性测试数据，其中，所述读写性能测试数据、所述擦除性能测试数据、所述加密解密性能测试数据、所述物理块可靠性测试数据均为加密形式，以便保证数据完整和安全。
9.一种质量可追溯的Flash生产设备，其特征在于，所述质量可追溯的Flash生产设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令，所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连；
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的质量可追溯的Flash生产方法。
...【技术特征摘要】
1.一种质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述的质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，在所述根据预置检测工艺流程，对所述flash进行检测处理，得到检测节点数据之后，还包括：
3.根据权利要求1所述的质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，所述在所述待检测的flash上设置黑匣子物理块包括：
4.根据权利要求1所述的质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，得到质量可追溯的flash包括：
5.根据权利要求1所述的质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，所述工艺节点数据包括：温度曲线、写入数据量、读取数据量、写入速度曲线、读取速度曲线、掉电次数、擦除异常数据、编程异常数据、读取出错信息等。
6.根据权利要求1所述的质量可追溯的flash生产方法，其特征在于，所述基于时间轴，将所述工艺节点数据和所述检测节点数据写入所述flash的黑匣子物理块中，...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨尧堂，吴大畏，李晓强，
申请(专利权)人：深圳市硅格半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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