System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 孔隙设备和微粒测定系统技术方案_技高网

孔隙设备和微粒测定系统技术方案

技术编号:41061604 阅读:7 留言:0更新日期:2024-04-24 11:13
本发明专利技术提供能够进行准确的信息管理的孔隙设备。孔隙设备(100A)与计测装置(200A)一起使用。孔隙设备(100A)具有孔隙芯片(102)、以及由孔隙芯片(102)划分的腔室即芯片盒(130)。测定用端子组(110)是为了从计测装置(200A)向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置(200A)而设置的。接口单元(150)与非易失性存储器(140)连接,是为了从外部访问非易失性存储器(140)而设置的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及孔隙设备。


技术介绍

1、已知有被称为电感带法(库尔特原理)的粒度分布测定法。在该测定法中,使包含颗粒的电解液通过被称为纳米孔的细孔。在颗粒通过细孔时,细孔中的电解液减少相当于颗粒的体积的量,使细孔的电阻增加。因此,能够通过测定细孔的电阻来测定粒径。

2、图1是使用了电感带法的微粒测定系统1r的框图。微粒测定系统1r具备孔隙设备100r、计测装置200r以及数据处理装置300。

3、孔隙设备100r的内部充满包含检测对象的颗粒4的电解液2。孔隙设备100r的内部被孔隙芯片102隔成两个空间,在两个空间内设置有电极106和电极108。当在电极106与电极108之间产生电位差时,在电极间流动离子电流,并且,通过电泳,颗粒4经由细孔104从一方的空间向另一方的空间移动。

4、计测装置200r使电极对106、108之间产生电位差,并且取得与电极对之间的电阻值rp具有关联的信息。计测装置200r包括跨阻放大器210、电压源220、数字转换器230。电压源220使电极对106、108之间产生电位差vb。该电位差vb是电泳的驱动源,并且成为用于测定电阻值rp的偏置信号。

5、在电极对106、108之间流动与细孔104的电阻成反比例的微小电流is。

6、is=vb/rp…(1)

7、跨阻放大器210将微小电流is转换成电压信号vs。在将转换增益设为r时,以下的式子成立。

8、vs=-r×is…(2)

9、在将式(1)代入式(2)时,得到式(3)。

10、vs=-vb×r/rp…(3)

11、数字转换器230将电压信号vs转换成数字数据ds。这样,通过计测装置200r,能够得到与细孔104的电阻值rp成反比例的电压信号vs。

12、图2是由计测装置200r测定的例示的微小电流is的波形图。需要说明的是,在本说明书中参照的波形图、时序图的纵轴和横轴是为了容易理解而适当进行了放大、缩小的图,并且所表示的各波形也是为了容易理解而被简化或者夸大或强调。

13、在颗粒通过的短期间内,细孔104的电阻值rp增大。因此,在每次颗粒通过时,电流is呈脉冲状减少。各个脉冲电流的振幅与粒径具有关联。数据处理装置300对数字数据ds进行处理,对电解液2中包含的颗粒4的个数、粒径分布等进行解析。数据处理装置300的一部分也可以是服务器、云。

14、先行技术文献

15、专利文献

16、专利文献1:日本特开2017-016881号公报

17、专利文献2:日本特开2014-219235号公报

18、专利文献3:日本特开2018-054594号公报

19、专利文献4:国际公开第2002/084306号公报


技术实现思路

1、专利技术要解决的问题

2、微粒计测大体分为测定工序和解析工序。测定工序是使用计测装置来测定微小电流is的工序。解析工序是基于微小电流is的波形数据来导出颗粒的个数、粒径分布等的工序。

3、在解析工序中,孔隙设备的制造信息(孔径、设计版本、制造日、批次)是在正确地解析由计测装置得到的信号的方面非常重要的信息。尤其是,孔隙设备每天都在进行改良、更新,因此,如果无法正确地取得这些信息,则对解析结果产生影响。

4、利用了孔隙设备的粒度分布测定法的实际应用时间很短,因此,孔隙设备并不是一个完善的技术/产品,可以说仍具有改良的余地。因此,孔隙设备每天都在进行改良、更新。因此,在计测工序中得到的数据有时与以往的数据不同,知晓该因素对于开发更好的孔隙设备是重要的。

5、另外,孔隙设备是以一次性为前提的消耗品,存在能够用于测定的使用期限,因此,还需要何时制造这样的日期时间的信息。

6、此外,孔隙设备的使用信息(使用颗粒、颗粒通过数量、使用溶液、测定设备序列等)成为对于孔隙设备的品质管理以及今后的开发的重要的反馈信息。

7、在人类管理这些重要的信息的情况下,不可避免人为错误,正确的信息有可能消失。另外,在孔隙设备的制造者、参与测定工序的使用者、参与解析工序的解析者是不同的组的情况下,要求对孔隙设备的信息进行统一管理的技术。

8、本专利技术是在这种状况下完成的,其某个方案的例示的目的之一在于,提供一种能够进行准确的信息管理的孔隙设备。

9、用于解决问题的方案

10、本专利技术的某个方案涉及与计测装置一起使用的孔隙设备。孔隙设备具备孔隙芯片、由孔隙芯片划分的腔室、用于从计测装置向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置的测定用端子组、非易失性存储器、以及与非易失性存储器连接并用于从外部访问非易失性存储器的接口单元。

11、本专利技术的另一个方案是微粒测定系统。该微粒测定系统具备孔隙设备和计测装置。孔隙设备具备孔隙芯片、由孔隙芯片划分的腔室、用于从计测装置向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置的测定用端子组、非易失性存储器、以及与非易失性存储器连接并用于从外部访问非易失性存储器的接口单元。

12、需要说明的是,将以上的构成要素任意组合而得到的方案、将构成要素、表现在方法、装置、系统等之间相互置换而得到的方案作为本专利技术或本公开的方案也是有效的。此外,该部分(用于解决问题的方案)的记载并非说明本专利技术的不可欠缺的所有特征,因此,所记载的这些特征的子组合也可以属于本专利技术。

13、专利技术效果

14、根据本专利技术的某个方案,能够进行准确的信息管理。

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【技术保护点】

1.一种孔隙设备,其与计测装置一起使用,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的孔隙设备,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

4.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

5.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

6.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

7.一种微粒测定系统,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的微粒测定系统,其特征在于,

9.根据权利要求7或8所述的微粒测定系统,其特征在于,

10.根据权利要求7或8所述的微粒测定系统,其特征在于,

11.根据权利要求7或8所述的微粒测定系统,其特征在于,

12.根据权利要求7或8所述的微粒测定系统,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种孔隙设备,其与计测装置一起使用,其特征在于,

2.根据权利要求1所述的孔隙设备,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

4.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

5.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

6.根据权利要求1或2所述的孔隙设备,其特征在于,

【专利技术属性】
技术研发人员:今井康晴鹫津信荣生沼浩介
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试
类型:发明
国别省市:

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