【技术实现步骤摘要】
本技术涉及传感器测试，特别涉及一种测试装置。
技术介绍
1、传感器可将压力、温度等物理量转换为电信号，进而可通过电控系统实现对各种物理量的检测，可用于实现各种控制系统的自动控制，其精度可靠性直接影响相应控制系统的可靠性，而受生产误差影响，传感器的实际性能并非为固定的理想值，因此，在出厂前需要进行测试和标定，以保障出厂传感器的实际精度。
2、在传感器的测试和标定中，在传感器对标准量的测试值与实际值的偏差超出精度范围时，需要对传感器进行编程，对偏差进行补偿，以调控传感器的逻辑，标定其性能。其中，编程程序需要由上位机提供，测试数据和标定过程均需要由上位机进行处理和控制，使得在现有技术中，对传感器的测试主要通过将被测传感器与上位机单独连接，单独进行测试和标定，测试和标定完成后，由人工更换下一被测传感器，对于批量生产的大量传感器的测试和标定需求，测试和标定的效率低，不利于产能的提升。
技术实现思路
1、基于此，本技术的目的是提供一种测试装置，以实现单个上位机对多个传感器类负载的自动测试和标定，提高测试效率，提高产能。
2、本技术一方面提供一种测试装置，用于传感器类负载的测试及标定，所述测试装置包括：主控制器、io扩展电路、多路测试通道和多通道负载接口，其中，
3、所述主控制器包括测试通信端和片选信号输出端，以及与上位机连接的上位通信端；
4、所述io扩展电路包括与所述主控制器的片选信号输出端连接的片选信号输入端，以及与所述多路测试通道的控制端一
5、所述多路测试通道的一端并联至所述测试通信端，另一端与所述多通道负载接口的各接触端子一一对应连接，以通过所述接触端子与待测负载连接。
6、可选地，所述多路测试通道包括与每一路测试通道一一对应的多个继电器开关，各所述继电器开关的继电器线圈通过晶体管接地，且反向并联有二极管，各所述晶体管的栅极与所述多路测试通道的控制端一一对应连接，且栅极通过电阻器接地。
7、可选地，所述继电器开关包括第一组常开触点和第二组常开触点，其中，
8、所述第一组常开触点的两端分别与所述测试通信端和所述接触端子的单总线触点连接；
9、所述第二组常开触点的第一端和第二端分别与负载供电电源和所述接触端子的电源触点连接。
10、可选地，还包括电源管理模块，所述电源管理模块包括与所述上位机连接的总电源输入端，与所述主控制器和所述第二组常开触点的第一端连接的第一供电电源输出端，以及与所述继电器线圈的供电端连接的第二供电电源输出端。
11、可选地，所述主控制器包括微控制单元、烧录通信指示灯、校准通信指示灯和故障指示灯，其中，所述微控制单元的接收串口连接至所述烧录通信指示灯的控制端，发送串口连接至所述校准通信指示灯的控制端，故障指示端口连接至所述故障指示灯的控制端，烧录通信端和校准通信端并联至所述测试通信端。
12、可选地，所述多通道负载接口至少设置有两个。
13、本技术提供的测试装置用于传感器类负载的测试及标定，其包括：主控制器、io扩展电路、多路测试通道和多通道负载接口，其中，所述主控制器包括测试通信端和片选信号输出端，以及与上位机连接的上位通信端；所述io扩展电路包括与所述主控制器的片选信号输出端连接的片选信号输入端，以及与所述多路测试通道的控制端一一对应连接的多个通道选通控制信号输出端；所述多路测试通道的一端并联至所述测试通信端，另一端与所述多通道负载接口的各接触端子一一对应连接。其中，主控制器与上位机通信连接，可从上位机获得测试程序，以根据测试程序提供相应的片选信号至io扩展电路，顺次选择开启各路测试通道，自动顺次进行多通道负载接口的各接触端子接入的各负载的测试和标定，实现多负载的自动测试和标定。本技术提供的测试装置可实现对多传感器的自动测试和标定，降低了人工工作量，有效提高了传感器的测试和标定效率，提高了生产效率。且测试标定和通道控制均通过主控制器实现，无需在对每一个传感器的测试中均从上位机调用大量程序和数据，主控制器与上位机之间的数据交互需求小，可降低上位机功耗，进而提高系统整体效能。主控制器与上位机连接的上位通信端可复用为主控制器的工作逻辑程序的烧录传输接口，以及测试用程序的传输接口，可降低数据传输接口的需求数量，节约成本。
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1.一种测试装置，用于传感器类负载的测试及标定，其特征在于，所述测试装置包括：主控制器、IO扩展电路、多路测试通道和多通道负载接口，其中，
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多路测试通道包括与每一路测试通道一一对应的多个继电器开关，各所述继电器开关的继电器线圈通过晶体管接地，且反向并联有二极管，各所述晶体管的栅极与所述多路测试通道的控制端一一对应连接，且栅极通过电阻器接地。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述继电器开关包括第一组常开触点和第二组常开触点，其中，
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，还包括电源管理模块，所述电源管理模块包括与所述上位机连接的总电源输入端，与所述主控制器和所述第二组常开触点的第一端连接的第一供电电源输出端，以及与所述继电器线圈的供电端连接的第二供电电源输出端。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主控制器包括微控制单元、烧录通信指示灯、校准通信指示灯和故障指示灯，其中，所述微控制单元的接收串口连接至所述烧录通信指示灯的控制端，发送串口连接至所述校准通
6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多通道负载接口至少设置有两个。
...【技术特征摘要】
1.一种测试装置，用于传感器类负载的测试及标定，其特征在于，所述测试装置包括：主控制器、io扩展电路、多路测试通道和多通道负载接口，其中，
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多路测试通道包括与每一路测试通道一一对应的多个继电器开关，各所述继电器开关的继电器线圈通过晶体管接地，且反向并联有二极管，各所述晶体管的栅极与所述多路测试通道的控制端一一对应连接，且栅极通过电阻器接地。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述继电器开关包括第一组常开触点和第二组常开触点，其中，
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，还包括电源管理模...
【专利技术属性】
技术研发人员：李亚锋，朱效谷，
申请(专利权)人：冰零智能科技常州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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