【技术实现步骤摘要】
本技术涉及工业仪表源活度测量，具体而言，涉及一种钴60仪表源活度辅助测量工装。
技术介绍
1、钴60仪表源广泛应用于工业仪表领域，其钴60仪表源主要用于测量物体厚度、密度以及物体位置的测定和在线自动控制等。钴60仪表源的活度相对伽玛刀源较小，一般常用的钴60仪表源活度在37gbq左右，若采用常规的放射源活度快速测量装置则无法精确测量其活度大小，进而使得钴60仪表源的活度技术指标不能满足配套仪器的使用要求。
2、目前，由于钴60仪表源是在小热室内生产与测量，小热室由于空间较小无法放置并使用原有的放射源活度快速测量装置，进而在小热室外利用射源活度快速测量装置检测，但是，测试时存在受环境辐射的影响，导致钴60仪表源活度测量不准确的问题，影响了钴60仪表源的生产质量。
3、因此，针对钴60仪表源活度的测量装置的结构有待进一步的改进。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种钴60仪表源活度辅助测量工装，其解决了采用现有放射源活度快速测量装置针对钴60仪表源进行活度测量时，容易受环境辐射而导致测量不准确的问题。
2、本技术的实施例通过以下技术方案实现：一种钴60仪表源活度辅助测量工装，设置在测量仪器上，包括卧式支架，卧式支架顶部间隔设置有屏蔽组件和放置组件；屏蔽组件包括套接的不锈钢外保护壳和铅屏蔽层，用以屏蔽外界的辐射；放置组件包括连接的测量支架调节底座和测量支架，测量支架放置有钴60仪表源；不锈钢外保护壳内放置有测量仪器，铅屏蔽层设置有通孔，测量仪器通
3、进一步的，铅屏蔽层包括通孔依次减小的第一铅屏蔽挡板、第二铅屏蔽挡板和第三铅屏蔽挡板；
4、进一步的，不锈钢外保护壳包括铰接的上盖体和下盖体，上盖体和下盖体通过锁紧螺栓固定；
5、进一步的，上盖体和下盖体开合一侧设置有孔塞，用以辅助测量仪器的位置固定；
6、进一步的，不锈钢外保护壳内壁设置有铅屏蔽体；
7、进一步的，支架调节底座和测量支架为插接；
8、进一步的，不锈钢外保护壳为卧式放置。
9、本技术的技术方案至少具有如下优点和有益效果：首先，通过卧式支架的设置，能够在其上面安装屏蔽组件和放置组件，在此基础上，通过屏蔽组件的不锈钢外保护壳和铅屏蔽层的设置，能够使得放置在不锈钢保护壳内部的测量仪器避免外部环境的辐射干扰，提升了钴60仪表源活度测量的准确性；同时通过放置组件的测量支架调节底座和测量支架的设置，能够根据需要调整放置的钴60仪表源与不锈钢保护壳的相对位置，进而提升了测量装置的通用性；最后，测量仪器通过钳屏蔽层的通孔测量钴60仪表源的活度，能够避免环境辐射对测量装置进行干扰，进一步提升了钴60仪表源活度测量的准确性。
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1.一种钴60仪表源活度辅助测量工装，设置在测量仪器上，其特征在于，包括：
2.如权利要求1中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述铅屏蔽层(22)包括所述通孔依次减小的第一铅屏蔽挡板(221)、第二铅屏蔽挡板(222)和第三铅屏蔽挡板(223)。
3.如权利要求2中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述不锈钢外保护壳(21)包括铰接的上盖体(211)和下盖体(212)，所述上盖体(211)和所述下盖体(212)通过锁紧螺栓固定。
4.如权利要求3中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述上盖体(211)和所述下盖体(212)开合一侧设置有孔塞(213)，用以辅助所述测量仪器的位置固定。
5.如权利要求4中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述不锈钢外保护壳(21)内壁设置有铅屏蔽体(214)。
6.如权利要求5中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述支架调节底座和测量支架(32)为螺栓连接。
7.如权利要求1-6中任一项所述的钴60仪表源活
...【技术特征摘要】
1.一种钴60仪表源活度辅助测量工装，设置在测量仪器上，其特征在于，包括：
2.如权利要求1中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述铅屏蔽层(22)包括所述通孔依次减小的第一铅屏蔽挡板(221)、第二铅屏蔽挡板(222)和第三铅屏蔽挡板(223)。
3.如权利要求2中所述的钴60仪表源活度辅助测量工装，其特征在于，所述不锈钢外保护壳(21)包括铰接的上盖体(211)和下盖体(212)，所述上盖体(211)和所述下盖体(212)通过锁紧螺栓固定。
4.如权利要求3中所述的钴60...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨天伟，赵建华，
申请(专利权)人：成都中核高通同位素股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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