一种适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置制造方法及图纸

技术编号:41003155 阅读:5 留言:0更新日期:2024-04-18 21:40
本技术公开了一种适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,包括加载装置和固设在加载装置上端的弯曲装置,所述加载装置设有竖直朝上的压头,所述弯曲装置包括上支撑台、下支撑台以及固接在上支撑台和下支撑台之间的多个支撑立柱,所述上支撑台设有一对条形调节孔以及通过螺母锁紧在条形调节孔中的支撑头。本装置通过结构设计,能够灵活调整支撑头间距,测试试样尺寸范围更广泛;且本申请所设计的三点弯曲装置安装拆卸简易,体积小,适配性高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,属于x射线显微成像领域以及材料研究领域。


技术介绍

1、断裂是材料领域最重点的研究重点之一。通过原位sem,能够实现裂纹演化过程的实时观察,进行裂纹萌生及扩展行为的研究,但受限于表征手段本身,在分析材料深度方向的信息时,具有很大的局限性。计算机断层扫描(ct)技术能够实现直接对样品进行高分辨率的微纳尺度三维成像,无损检测样品内部裂纹、气孔、夹杂等缺陷,很大程度的解决了这一难题,结合加载系统甚至能够对裂纹的扩展情况进行三维可视化的原位表征。

2、三点弯曲试验,是检验材料断裂韧性最常用的实验方法,但目前存在原位装置结构复杂,安装困难,体积大,兼容度不足等问题限制了其应用,因此亟需一种安装拆卸简易,体积小,适配性高的三点弯曲装置,实现对裂纹萌生扩展的原位观察。


技术实现思路

1、本技术的专利技术目的是提供一种适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,且本装置安装拆卸简易、体积小、适配性高,解决现有技术中存在的不足。

2、为达到上述专利技术目的,本技术采用的技术方案是:一种适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,包括加载装置和固设在加载装置上端的弯曲装置,所述加载装置设有竖直朝上的压头,

3、所述弯曲装置包括上支撑台、下支撑台以及固接在上支撑台和下支撑台之间的多个支撑立柱,

4、所述上支撑台设有一对条形调节孔以及通过螺母锁紧在条形调节孔中的支撑头,

5、所述下支撑台上表面的两端均设有凹槽,所述凹槽内设置有预紧台,所述下支撑台中间开设有通孔,所述压头穿过通孔。

6、优选的技术方案中,所述压头和支撑头处于同一竖直平面内且相互平行。

7、优选的技术方案中,所述压头的顶部所在水平面与支撑头的顶部所在水平面之间留有间隔,用于放置样品。

8、优选的技术方案中,所述条形调节孔设有刻度尺。

9、优选的技术方案中,所述凹槽呈圆形,所述预紧台为圆柱体,所述圆柱体设置在圆形的凹槽内。

10、优选的技术方案中,所述支撑立柱的数量为4个。

11、由于上述技术方案运用,本技术与现有技术相比具有下列优点:

12、1.本装置通过结构设计,在满足了力学要求的同时,使装置对成像的遮挡效果降低至可接受范围。

13、2.本装置通过结构优化设计,使材料在加载过程中能够将试样两臂保持在垂直于弯曲轴的平面上,较好的满足了平面应变假设。

14、3.本装置通过结构设计,能够灵活调整支撑头间距,测试试样尺寸范围更广泛;且本申请所设计的三点弯曲装置安装拆卸简易,体积小,适配性高。

15、4.与现有技术相比,本装置通过加载装置施加载荷,结合现有ct成像装置,在变形过程中成像实现原位的三点弯曲ct表征,适用于大部分的金属、高分子等材料。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:包括加载装置(8)和固设在加载装置(8)上端的弯曲装置,所述加载装置(8)设有竖直朝上的压头(7),

2.根据权利要求1所述的适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述压头(7)和支撑头(4)处于同一竖直平面内且相互平行。

3.根据权利要求1所述的适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述压头(7)的顶部所在水平面与支撑头(4)的顶部所在水平面之间留有间隔,用于放置样品(9)。

4.根据权利要求1所述的适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述条形调节孔设有刻度尺(2)。

5.根据权利要求1所述的适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述凹槽呈圆形,所述预紧台(6)为圆柱体,所述圆柱体设置在圆形的凹槽内。

6.根据权利要求1所述的适用于X射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述支撑立柱(1)的数量为4个。

【技术特征摘要】

1.一种适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:包括加载装置(8)和固设在加载装置(8)上端的弯曲装置,所述加载装置(8)设有竖直朝上的压头(7),

2.根据权利要求1所述的适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述压头(7)和支撑头(4)处于同一竖直平面内且相互平行。

3.根据权利要求1所述的适用于x射线显微镜的三点弯曲试验装置,其特征在于:所述压头(7)的顶部所在水平面与支撑头(4)的顶部所...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨尚京
申请(专利权)人:微旷科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1