【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电数字数据处理，特别是涉及一种eda约束检测系统。
技术介绍
1、电子设计自动化（eda）设计工具软件在使用过程中，存在大量的动态关系型数据，其中约束管理器中的约束数据呈现复杂的层次结构和依赖关系。约束管理器的作用就是管理电子约束，约束即用户定义的附加到网络或者管脚对上的要求，电子约束管理着网络和管脚对的行为。约束数据有着非常复杂的层次结构和依赖关系，同时在eda设计过程中会不断引入新的约束或修改现有约束，因此约束数据具有动态性的特点；而且，约束数据的数据量还很大，占用的存储空间较大。如何减少约束数据占用的存储空间大小，是亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术目的在于，提供一种eda约束检测系统，能够减少约束数据占用的存储空间。
2、根据本专利技术，提供了一种eda约束检测系统，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序
3、s100，获取待检测的电子约束的类型type’和名称name’。
4、s200，根据type’和name’在所述电子器件约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’。
5、s300，如果node’的数据域没有存储约束条件且node’+的数据域存储有约束条件，则将node’+的数据域存储的约束条件确定为待检测的电子约束的约束条件；node’+为node’的指针域存储的父节点。
6、本专利技术与现有技术相比，其至少具有以下有益效果：
7、本专利技术的eda约束检测系统包括存储器，存储器中存储有电子器件约束树，该电子器件约束树包括n个节点，每一节点对应一组电子约束，电子约束即用户定义的附加到网络或者管脚对上的要求；每一节点包括数据域和指针域，其中数据域存储有该节点对应的电子约束的类型和名称，指针域存储有该节点对应的父节点或/和孩子节点；在此基础上，如果有待检测的电子约束，则根据该待检测的电子约束的类型和名称在该电子器件约束树中进行匹配，得到匹配的节点；如果该匹配的节点的数据域中没有存储约束条件且该匹配的节点的父节点的数据域中存储有约束条件，则将该匹配的节点的父节点的数据域中存储的约束条件确定为待检测的电子约束的约束条件。本专利技术利用树形结构来存储电子约束的约束条件，当需要孩子节点对应的电子约束继承父节点对应的电子约束的约束条件时，孩子节点的数据域无需再存储约束条件，由此，本专利技术可以减少约束条件占用的存储空间。而且，本专利技术以树的形式管理约束条件，方便约束条件的查找和修改，且便于维护、更新和扩展。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种EDA约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
2.根据权利要求1所述的EDA约束检测系统，其特征在于，所述存储器还存储有n个数组，其中第i个数组为mtei，mtei=(combi,addi)，不同nodei对应的combi不同，addi为nodei对应的存储地址，mtei在存储器中的存储区域根据combi对应的哈希值hasi得到，combi为由typei和namei构成的字符串
3.根据权利要求1所述的EDA约束检测系统，其特征在于，S300还包括：如果node’和node’+的数据域中均存储有约束条件，则进入S400；
4.根据权利要求3所述的EDA约束检测系统，其特征在于，S600还包括：如果con’中不包括attk的约束条件且con’+中包括attk的约束条件，则将con’+中attk的约束条件确定为待检测的电子约束的对应于attk的约束条件。
5.根据权利要求3所述的EDA约束检测系统，其特征在于，S600还包括：如果con’和con’+中均不包括attk的约束条件，则进入S610；
6.根据权利要求3所述的EDA约束检测系统，其特征在于，S600还包括：如果con’中包括attk的约束条件且con’+中不包括attk的约束条件，则进入S601；
7.根据权利要求3所述的EDA约束检测系统，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，在S700之后，还实现以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种eda约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：
2.根据权利要求1所述的eda约束检测系统，其特征在于，所述存储器还存储有n个数组，其中第i个数组为mtei，mtei=(combi,addi)，不同nodei对应的combi不同，addi为nodei对应的存储地址，mtei在存储器中的存储区域根据combi对应的哈希值hasi得...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭太秀，廖志刚，曹立言，冯德旭，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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