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基于多帧快照的问题定位方法、设备及存储介质技术

技术编号:40967006 阅读:4 留言:0更新日期:2024-04-18 20:47
本发明专利技术涉及半导体技术领域,公开了一种基于多帧快照的问题定位方法、设备及存储介质。该方法包括:检测固态存储设备的触发事件;检测到触发事件时,检测芯片状态,得到芯片镜像信息,芯片镜像信息包括CPU关键镜像信息以及HW模块镜像信息;将芯片镜像信息作为快照进行存储,并判断触发事件是否为预设触发事件;若触发事件为预设触发事件,根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到目标快照集,并将目标快照集存储至预设表格区域;在预设表格区域中目标快照集的数据量达到预设数据量时,对目标快照集执行数据分析操作,得到分析结果;根据分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型。在本发明专利技术实施例中,提高了问题定位的精准度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体,尤其涉及一种基于多帧快照的问题定位方法、设备及存储介质


技术介绍

1、在固态存储设备开发中,出错现场往往并不是导致问题的第一现场,这是因为固态存储设备涉及到多个组件和层级的交互,问题可能发生在不同的层次上。

2、例如固件层面问题、硬件层面问题、应用程序问题、环境条件问题等。如果只针对固态存储设备进行问题定位,可能导致了固态存储设备的数据可靠性低,可见现有的问题定位方式考虑不全面,导致问题定位的精准度低。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于解决问题定位的精准度低的技术问题。

2、本专利技术第一方面提供了一种基于多帧快照的问题定位方法,所述基于多帧快照的问题定位方法包括:

3、检测固态存储设备的触发事件;

4、检测到所述触发事件时,检测芯片状态,得到芯片镜像信息;

5、将所述芯片镜像信息作为快照进行存储,并判断所述触发事件是否为预设触发事件;

6、若所述触发事件为预设触发事件,根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到目标快照集,并将所述目标快照集存储至预设表格区域;

7、在所述预设表格区域中所述目标快照集的数据量达到预设数据量时,对所述目标快照集执行数据分析操作,得到分析结果;

8、根据所述分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型。

9、可选的,在本专利技术第一方面的第一种实现方式中,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤包括:

<p>10、判断所述触发事件是否为所述固态存储设备的当前温度大于预设温度;

11、若所述固态存储设备的当前温度大于所述预设温度,判定所述触发事件为预设触发事件。

12、可选的,在本专利技术第一方面的第二种实现方式中,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤还包括:

13、判断所述触发事件是否为所述固态存储设备的开发进度处于预设进度;

14、若所述固态存储设备的开发进度处于所述预设进度,判定所述触发事件为预设触发事件。

15、可选的,在本专利技术第一方面的第三种实现方式中,所述若所述触发事件为预设触发事件,根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到目标快照集,并将所述目标快照集存储至预设表格区域的步骤包括:

16、若所述触发事件为预设触发事件,将所述芯片镜像信息作为快照进行存储,并根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到快照集;

17、检测所述快照集的快照数量是否大于预设数量;

18、若所述快照集的快照数量大于预设数量,根据采集时间,对所述快照集中的所述快照执行筛除操作,得到目标快照集,并将所述目标快照集存储至预设表格区域。

19、可选的,在本专利技术第一方面的第四种实现方式中,所述检测芯片状态,得到芯片镜像信息的步骤包括:

20、获取cpu关键镜像信息,并获取hw模块镜像信息;

21、将所述cpu关键镜像信息和所述hw模块镜像信息整合成一个数据结构,得到芯片镜像信息。

22、可选的,在本专利技术第一方面的第五种实现方式中,述根据所述分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型的步骤还包括:

23、若所述分析结果表征芯片正常,判定所述固态存储设备异常,并将固态存储设备异常作为问题类型。

24、可选的,在本专利技术第一方面的第六种实现方式中,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤之后,所述方法还包括:

25、若所述触发事件不为预设触发事件,返回执行检测固态存储设备的触发事件的步骤。

26、可选的,在本专利技术第一方面的第七种实现方式中,所述根据所述分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型的步骤之后,所述方法还包括:

27、获取所述问题类型关联的解决方案,并输出所述问题类型、所述问题原因以及所述解决方案。

28、本专利技术第二方面提供了一种基于多帧快照的问题定位设备,包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令,所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连;所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令,以使得所述基于多帧快照的问题定位设备执行上述的基于多帧快照的问题定位方法。

29、本专利技术的第三方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述的基于多帧快照的问题定位方法。

30、在本专利技术实施例中,基于多帧快照的问题定位设备通过检测固态存储设备的触发事件,可以及时捕捉到可能存在的问题,从而在早期阶段进行处理,避免问题进一步扩大,提高固态存储设备开发过程的稳定性和可靠性。将芯片镜像信息作为快照存储,可以保留重要的系统状态数据,以便后续分析和问题定位。通过判断触发事件是否为预设事件,可以区分正常情况和异常情况,有助于更精确地定位问题。当目标快照集的数据量达到预设数据量时,可以对其进行数据分析操作,从中获取分析结果,并进一步执行问题定位操作,该问题定位方法全面考虑了各个层面的问题,提高了问题定位的精准度。

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【技术保护点】

1.一种基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述基于多帧快照的问题定位方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤还包括:

4.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述若所述触发事件为预设触发事件,根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到目标快照集,并将所述目标快照集存储至预设表格区域的步骤包括:

5.根据权利要求1-4任一项所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述检测芯片状态,得到芯片镜像信息的步骤包括:

6.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述根据所述分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型的步骤还包括:

7.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤之后,所述方法还包括:

8.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述根据所述分析结果,执行问题定位操作,得到问题类型的步骤之后,所述方法还包括:

9.一种基于多帧快照的问题定位设备,其特征在于,所述基于多帧快照的问题定位设备包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令,所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连;

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的基于多帧快照的问题定位方法。

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【技术特征摘要】

1.一种基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述基于多帧快照的问题定位方法包括:

2.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述判断所述触发事件是否为预设触发事件的步骤还包括:

4.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述若所述触发事件为预设触发事件,根据预设周期返回执行检测芯片状态的步骤,得到目标快照集,并将所述目标快照集存储至预设表格区域的步骤包括:

5.根据权利要求1-4任一项所述的基于多帧快照的问题定位方法,其特征在于,所述检测芯片状态,得到芯片镜像信息的步骤包括:

6.根据权利要求1所述的基于多帧快照的问题定位方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:余云锋焦千吴大畏李晓强
申请(专利权)人:合肥致存微电子有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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