【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及视觉相关，尤其涉及高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法。
技术介绍
1、相移条纹结合格雷码相位展开原理是：首先对相移码解码求得包裹相位对n位格雷码条纹进行解码得到条纹阶次，将二值化后的格雷码条纹gi(x，y)按照公式(1)由高位到低位的顺序按位异或得到二进制序列bi(x，y)由此完成格雷码到二进制码的转换，然后利用公式(2)计算得到十进制条纹级次k(x,y)；最后，将包裹相位与格雷码条纹阶次结合采用公式(3)得到连续递增的绝对相位
2、
3、
4、
5、以下为与本申请相关的近似现有技术：
6、1、基于边缘格雷码和线移的结构光3d测量技术，专利号cn200710072183.8
7、一种基于边缘格雷码和线移的结构光3d测量技术，其特征是：采用亚像素定位技术提取的各幅强度二值化前图像中的条纹边缘，将边缘上点作为图像采样点，然后按其在强度二值化后图像中的灰度值0或1求取格雷码，利用格雷码码值找到强度图像和编码图案中边缘的对应关系。
8、2、三维对象重建方法及终端设备，专利号cn202010759565.3
9、一种三维对象重建方法，其特征在于，包括：获取预设数量个检测对象图像，所述预设数量个检测对象图像是由预设数量个编码图案投射在三维对象上而对应确定的，其中所述每一编码图案由在编码方向上的预设数量个平行的编码条纹组成；基于预设的二叉树的每一层中的预设数量个节点所分别对应的条纹交界，确定各个检测对象图像的像素在所述二
10、3、融合结构光和光度学的三维对象重建方法及终端设备，专利号cn202010738438.5
11、一种融合结构光和光度学的三维对象重建方法，其特征在于，包括：获取n个第一图像，每个第一图像是通过将具有编码条纹序列的编码图案投射至三维对象后拍摄所得，n为正整数；基于所述n个第一图像，确定所述三维对象的结构光深度信息；获取m个第二图像，所述m个第二图像是通过将p个光源分别从不同方向投射至所述三维对象后拍摄所得，m和p均为正整数；基于所述m个第二图像，确定所述三维对象的光度信息；基于所述结构光深度信息和所述光度信息，重建所述三维对象。
12、上述现有技术的缺陷在于：
13、1、相移结构光在高反光物体表面投影条纹会出现采集到的条纹信息出现缺失。由于投影的条纹的光照强度随着相位的变化而变化，当投影到高反光物体表面时会出现过曝情况，导致相机采集到的相移条纹光强值会集中于255或过分偏大，导致该区域得到的截断相位值出现成片的差错。
14、2、线移结构光编码方式分布不均匀导致采集到的投影条纹受周围条纹影响出现消失或像素值与预期值偏差过大。当采用的线移条纹图，黑条纹和白条纹的条纹宽度分布不均匀，导致某一条纹过宽或过窄，当投影到高反光物体表面时会出现过过宽条纹向窄条纹扩散，使窄条纹的信息出现确实，与预期值偏差过大。
15、3、现有的线移结构光编解码方法投射条纹图过多。由于现有的线移条纹生成截断线位图时，在线移条纹二值化后仅仅使用线移条纹进行求解截断线位图，充分利用格雷码二值化后与线移条纹的关系使投影的条纹图过多。
16、有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法。
2、为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，依次包括以下步骤：
4、步骤s1、通过解格雷码条纹获取级次k1和错半个周期级次k2；
5、步骤s2、通过线移条纹l、级次k1、最小周期的格雷码图案g融合获得截断线位图w；
6、步骤s3、通过k1，k2，w获取展开线位图p。
7、作为本专利技术的进一步改进，步骤s1依次包括以下步骤：
8、步骤s11、设任意一张格雷码条纹图为gl某一像素值素点(i,j)的值为则通过公式(4)解格雷码获得级次k1为：
9、
10、其中，gl即在共有h张图片中的第l张图片，1<＝l<＝h；
11、步骤s12、将另外继续多投射一副格雷码图像，通过公式(5)获取一个错半个周期级次k2为：
12、
13、作为本专利技术的进一步改进，步骤s2依次包括以下步骤：
14、步骤s21、设级次k1在某一像素点(i,j)的值为最小周期的格雷码图案二值化后在该像素点的值为gi，j，则，
15、
16、步骤s22、设任意一张线移条纹图lm某一像素点(i,j)的值为则，
17、
18、其中，lm指在共有n张图片中的第m张图片，1<＝m<＝n。
19、作为本专利技术的进一步改进，步骤s3具体包括：
20、设级次k1在某一像素点(i,j)的值为级次k2在某一像素点(i,j)的值为截断线位图w在某一像素点(i,j)的值为wi，j，则展开线位图p：
21、
22、其中，t指截断线位周期。
23、借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：
24、1、本专利技术可以解决传统中相移结构光在高反光物体表面投影条纹会出现采集到的条纹信息出现缺失的问题；
25、2、本专利技术可以解决传统线移结构光编码方式分布不均匀导致采集到的投影条纹受周围条纹影响出现消失或像素值与预期值偏差过大的问题；
26、2、本专利技术可以解决现有的线移结构光编解码方法投射条纹图过多的问题。
27、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
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1.高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，依次包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，所述步骤S1依次包括以下步骤：
3.如权利要求1所述的高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，所述步骤S2依次包括以下步骤：
4.如权利要求1所述的高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：
【技术特征摘要】
1.高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，依次包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的高反光场景下的线移条纹与格雷码条纹融合编解码方法，其特征在于，所述步骤s1依次包括以下步骤：
3....
【专利技术属性】
技术研发人员：李向民，周坤，周剑，
申请(专利权)人：苏州深浅优视智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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