【技术实现步骤摘要】
本公开涉及电路板，特别是涉及一种5g高频高速板缺陷过滤监控方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
1、pcb生产制程中，aoi(自动光学检测)是用于检测基板制程缺陷的作业方法，通过aoi&vrs可以快速识别线路板的缺陷，包括开路、短路、针孔、线路缺口和残铜等。现有业内aoi机台可检验出线路缺口、残铜、线路短路等外观缺陷，此缺陷只是仅限于线路面或外观的检出。传统的aoi检测设备对pcb中的aoi扫描制程，设备将蚀刻后pcb板面进行识别扫描后，实物图与cam图进行对比缺陷，将不符合品质要求的缺陷位置进行标识反馈便于检修。
2、然而，传统的aoi检测设备会将板面上轻微的毛屑、异物但不影响品质得异常点报出，导致点数过多，影响识别及后续检修效率，而且，缺陷位置标识反馈后，会有人在电脑上对不良缺陷进行识别比对，区分假点、品质是否可接受，过滤缺陷点数，将低点数提供后续检修效率，但人工过滤存在漏失风险。
技术实现思路
1、本公开的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效提高对缺陷过滤检测效率的5g高频高速板缺陷过滤监控方法、装置、计算机设备和存储介质。
2、本公开的目的是通过以下技术方案来实现的：
3、一种5g高频高速板缺陷过滤监控方法，所述方法包括：
4、获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数；
5、将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值；
6、根据所述铜面光检缺陷差
7、在其中一个实施例中，所述获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：获取所述5g高频高速板的铜面刮花刮伤长度。
8、在其中一个实施例中，所述将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值，包括：求取所述铜面刮花刮伤长度与预设刮伤长度的差值，得到刮花刮伤长度差。
9、在其中一个实施例中，所述根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态，包括：检测所述刮花刮伤长度差与预设刮伤长度差是否匹配；当所述刮花刮伤长度差与所述预设刮伤长度差匹配时，向所述自动光学视检机发送铜面刮花过滤通行信号。
10、在其中一个实施例中，所述获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：获取所述5g高频高速板的凹陷占孔比。
11、在其中一个实施例中，所述将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值，包括：求取所述凹陷占孔比与预设占孔比的差值，得到凹陷占比差。
12、在其中一个实施例中，所述根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态，包括：检测所述凹陷占比差与预设占比差是否匹配；当所述凹陷占比差与所述预设占比差不匹配时，向所述自动光学视检机发送铜面凹陷过滤禁行信号。
13、一种5g高频高速板缺陷过滤监控装置，包括：电路板铜面采集模块、光检差分处理模块以及缺陷过滤模块；所述电路板铜面采集模块用于获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数；所述光检差分处理模块用于将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值；所述缺陷过滤模块用于根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态。
14、一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
15、获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数；
16、将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值；
17、根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态。
18、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
19、获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数；
20、将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值；
21、根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态。
22、与现有技术相比，本公开至少具有以下优点：
23、通过对铜面光学缺陷参数的采集，以对5g高频高速板的当前铜箔表面缺陷情况进行采集，之后将铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行对应处理，以得到两者之间的铜箔表面缺陷差异程度，最后根据上述差异情况，对应发送铜面缺陷过滤通禁信号，便于确定5g高频高速板的板面存在的对应缺陷程度，从而便于过滤不影响品质的缺陷，有效地提高了对缺陷过滤检测效率。
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1.一种5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述获取5G高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：
3.根据权利要求2所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值，包括：
4.根据权利要求3所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5G高频高速板的缺陷过滤状态，包括：
5.根据权利要求1所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述获取5G高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：
6.根据权利要求5所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值，包括：
7.根据权利要求6所述的5G高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机
8.一种5G高频高速板缺陷过滤监控装置，其特征在于，包括：
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种5g高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的5g高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：
3.根据权利要求2所述的5g高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述将所述铜面光学缺陷参数与预设光学缺陷参数进行光检差分处理，得到铜面光检缺陷差分值，包括：
4.根据权利要求3所述的5g高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述根据所述铜面光检缺陷差分值向自动光学视检机发送铜面缺陷过滤通禁信号，以调整所述5g高频高速板的缺陷过滤状态，包括：
5.根据权利要求1所述的5g高频高速板缺陷过滤监控方法，其特征在于，所述获取5g高频高速板的铜面光学缺陷参数，包括：
6.根据权利要求5所...
【专利技术属性】
技术研发人员：时越，周爱明，蒋代波，庄浩月，程少东，
申请(专利权)人：湖北金禄科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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