【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量，尤其涉及红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法。
技术介绍
1、在空间或空中目标红外辐射测量中，大气修正系统获取的大气透过率精度相对较低，需要对其进行校正，目前多采用红外辐射测量仪测量不同距离黑体的方法，校正大气透过率参数，将黑体放置在较远的距离，并且需要进行升降温操作，工作量比较大，耗时长，不适合经常使用，需要一种简便快速的大气校正方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术缺陷，提出了红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法。
2、为了实现上述目的，本专利技术提出了一种红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，基于红外辐射测量仪和大气修正子系统实现，所述方法包括：
3、步骤1)安装漫反射板；
4、步骤2)分别倾斜漫反射板至两个不同的状态，由红外辐射测量仪测量得到对应的两组λ光谱响应灰度和经漫反射板反射的太阳辐射值；
5、步骤3)由大气修正子系统对两组太阳辐射值分别进行归一化计算得到两组归一化太阳辐射；
6、步骤4)基于预先标定的线性响应模型，由步骤2)的两组λ光谱响应灰度和步骤3)的两组归一化太阳辐射，结合大气修正子系统计算获取的太阳路径上整层大气透过率结果，计算得到大气透过率改正因子；
7、步骤5)由大气修正子系统计算获取某路径大气透过率结果，基于大气透过率改正因子，得到修正后的某路径大气透过率，从而实现大气透过率校正。
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9、作为上述方法的一种改进，安装好的漫反射板上下边缘保持水平。
10、作为上述方法的一种改进，所述步骤2)包括：
11、倾斜漫反射板至第一状态θ1，由红外辐射测量仪得到第一λ光谱响应灰度dn1以及经漫反射板反射的第一太阳辐射值；
12、倾斜漫反射板至第二状态θ2，由红外辐射测量仪得到第二λ光谱响应灰度dn2以及经漫反射板反射的第二太阳辐射值。
13、作为上述方法的一种改进，所述步骤3)的两组归一化太阳辐射分别为第一归一化太阳辐射lbθ1和第二归一化太阳辐射lbθ2。
14、作为上述方法的一种改进，所述步骤4)包括：
15、根据预先标定的线性响应模型的响应斜率k，由下式得到太阳路径上整层大气透过率结果τes：
16、
17、结合大气修正子系统计算获取的太阳路径上整层大气透过率结果τesx，由下式得到大气透过率改正因子ga：
18、τes＝gaτesx。
19、作为上述方法的一种改进，所述步骤5)包括：由大气修正子系统计算获取某路径大气透过率结果τax，基于大气透过率改正因子ga，得到修正后的某路径大气透过率τa，从而实现大气透过率校正：
20、τa＝gaτax。
21、与现有技术相比，本专利技术的优势在于：
22、本方法借助光学设备自身的辐射测量测量特点，通过漫反射板将大气透过率设备性能参数建立联系，实现大气透过率校正，校正精度高，设施简单，校正速度快，适合设备现场使用。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，基于红外辐射测量仪和大气修正子系统实现，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述漫反射板为长方形，长边与短边分别不小于1.3倍和1.1倍红外辐射测量仪的望远镜直径。
3.根据权利要求2所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，安装好的漫反射板上下边缘保持水平。
4.根据权利要求3所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述步骤2)包括：
5.根据权利要求3所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述步骤3)的两组归一化太阳辐射分别为第一归一化太阳辐射Lbθ1和第二归一化太阳辐射Lbθ2。
6.根据权利要求5所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述步骤4)包括：
7.根据权利要求6所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述步骤5)包括：由大气修正子系统计算获取某路径大气透过率结果τax，基于大气透过率改正
...【技术特征摘要】
1.一种红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，基于红外辐射测量仪和大气修正子系统实现，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述漫反射板为长方形，长边与短边分别不小于1.3倍和1.1倍红外辐射测量仪的望远镜直径。
3.根据权利要求2所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，安装好的漫反射板上下边缘保持水平。
4.根据权利要求3所述的红外辐射测量仪测量太阳漫反射板的大气透过率校正方法，所述步骤2)包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：姜志富，冯旭辰，王技，孟宪增，李春雷，郝思嘉，黄辉，魏煜，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三六三六部队，
类型：发明
国别省市：
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