【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电容测试，尤其涉及一种触摸板盖板电容值的测试方法。
技术介绍
1、触摸板是一种广泛应用于电子产品上的输入设备，其利用感应用户手指的移动来控制指针的动作。触摸板最上层的盖板根据用户需求，可采用各种不同的材质（如玻璃盖板或麦拉片盖板等），而每一种材质产生的电容值都不同，较多客户在触摸板签样阶段，会要求触控芯片原厂根据实际触摸板项目检测触摸板盖板的表面电容值的一致性，以防触摸板盖板的电容值一致性较差或有些区域电容值较大导致触控ic性能不好，出现触摸跳点或不报点的情况。因此，每次触摸板盖板来料后，都需要检测表面电容值是否在标准范围内。
2、目前相关触摸板盖板测试方案较少，没有统一的测试方案和标准，通常是使用lcr数字电桥搭建的测试平台对触摸板盖板表面的电容值进行测试，数字电桥是一种能够测量电阻、电容、电感等参数的仪器。
3、但采用数字电桥的测试方法局限性较大，所涉及的辅助配件较多，如需搭配触摸板盖板的测试治具、电极测试pcb板、bnc连接线、开短路校准片等配件结合使用。且该测试方案并不是真实反应实际项目的盖板对触摸板干扰电容值，只是针对触摸板盖板进行压测的一个物理容值，精准度稍欠佳，同时需要人工手动依次分别对触摸盖板的测试区域进行测试，使得测试时间长、测试效率低下，且lcr电桥仪器费用贵、触摸板盖板的测试治具需要定制局限性大。
4、在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：
5、采用数字电桥测试触摸板盖板的电容值局限性大，需要搭配多种辅助配件，测试成本
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种触摸板盖板电容值的测试方法，以解决现有技术中存在的采用数字电桥测试触摸板盖板的电容值局限性大，需要搭配多种辅助配件，测试成本高的技术问题。本专利技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了以下技术方案：
3、本专利技术提供的一种触摸板盖板电容值的测试方法，所述触摸板包括盖板和触摸感应层，通过互电容检测电路对所述盖板的电容值进行测试，包括以下步骤：s1、将所述盖板、触摸感应层皆划分为n个区域；其中，所述区域包括至少一个互电容节点，n≥1；所述盖板、触摸感应层的每个区域一一对应；s2、通过所述互电容检测电路，测试所述触摸感应层每个所述区域的第一平均电容变化值c1；s3、通过所述互电容检测电路，测试所述盖板每个所述区域的第二平均电容变化值c2；其中，所述第一平均电容变化值c1、第二平均电容变化值c2为所述区域内，所述互电容节点的电容变化值的平均值；s4、根据所述第一平均电容变化值c1、第二平均电容变化值c2，计算每个所述区域对应的所述盖板的电容值。
4、优选的，步骤s3中，通过测试单个所述互电容节点得到所述第二平均电容变化值，包括以下步骤：s21、基于所述互电容检测电路中的基准电容等于cb，对所述触摸感应层进行测试，得到第一输出电压v1；s22、将所述基准电容调整为a*cb，测试得到第二输出电压v2；其中，a为正实数；s23、将所述基准电容调回为cb，对整个所述触摸板进行测试，得到第三输出电压v3；s24、根据所述第一输出电压v1、第二输出电压v2以及第三输出电压v3，计算所述互电容节点的电容变化值。
5、优选的，步骤s25中，计算所述互电容节点的电容变化值的公式为：
6、*cb；
7、其中，v1为第一输出电压；v2为第二输出电压；v3为第三输出电压；v4为第四输出电压；cb为基准电容。
8、优选的，步骤s4中，计算所述盖板的电容值的公式为：
9、*cb；
10、其中，c1为第一平均电容变化值；c2为第二平均电容变化值；cb为基准电容。
11、优选的，所述互电容检测电路包括运算放大器、第一基准电容、反馈电容、反馈电阻、开关及波形发生器；所述运算放大器的正向输入端连接参考电压，反向输入端与输出端之间分别并联有所述反馈电阻、反馈电容，所述第一输出电压v1、第二输出电压v2及第三输出电压v3均由所述输出端输出；所述第一基准电容的一端连接所述运算放大器的反向输入端，另一端连接所述开关的第一端；所述开关的第二端连接所述波形发生器。
12、优选的，通过将所述互电容节点接入所述互电容检测电路进行测试；所述互电容节点的感应端连接所述运算放大器的反向输入端，驱动端通过所述开关连接所述波形发生器。
13、优选的，步骤s22和s24中，通过给所述第一基准电容并联第二基准电容，将所述基准电容调为a*cb；其中，所述第一基准电容等于cb，所述第二基准电容等于（a-1）*cb。
14、优选的，步骤s4之后还包括：s51、判断每个所述区域的电容值是否皆小于检测标准值，若是，则执行步骤s53；否则，执行步骤s52；s52、所述触摸板的盖板没有通过检测，所述盖板的电容值一致性不合格；s53、所述触摸板的盖板通过检测，所述盖板的电容值一致性合格。
15、优选的，步骤s1中，每个所述区域中的所述互电容节点数量相同或不同。
16、优选的，步骤s1中，将整个所述触摸板平均划分为九宫格或十八宫格。
17、实施本专利技术上述技术方案中的一个技术方案，具有如下优点或有益效果：
18、本专利技术通过互电容检测电路分别测试出触摸板各个区域，在盖上盖板前后的电容变化值，从而推算出盖板对触摸板电容值的影响，能够真实反应出盖板在触摸板上的真实电容值对触摸板互容数据的实际影响；本专利技术方法无需购买高价的lrc电桥仪器，以及搭配相关辅助设备，降低了局限性，通过互电容检测原理，实现自动检测触摸板盖板的表面电容值，检测成本低，一次性就能检测盖板的所有区域，省去人工对每个区域的电容值进行单独压测，不仅提高了测试效率还能保证检测的准确度。
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1.一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，所述触摸板包括盖板和触摸感应层，通过互电容检测电路对所述盖板的电容值进行测试，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S3中，通过测试单个所述互电容节点得到所述第二平均电容变化值，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S24中，计算所述互电容节点的电容变化值的公式为：
4.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S4中，计算所述盖板的电容值的公式为：
5.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，所述互电容检测电路包括运算放大器、第一基准电容、反馈电容、反馈电阻、开关及波形发生器；所述运算放大器的正向输入端连接参考电压，反向输入端与输出端之间分别并联有所述反馈电阻、反馈电容，所述第一输出电压V1、第二输出电压V2及第三输出电压V3均由所述输出端输出；所述第一基准电容的一端连接所述运算放大器的反向输入端，另一端连接所述开关的第一端；所述开关的
6.根据权利要求5所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，通过将所述互电容节点接入所述互电容检测电路进行测试；所述互电容节点的感应端连接所述运算放大器的反向输入端，驱动端通过所述开关连接所述波形发生器。
7.根据权利要求6所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S22和S24中，通过给所述第一基准电容并联第二基准电容，将所述基准电容调为a*Cb；其中，所述第一基准电容等于Cb，所述第二基准电容等于（a-1）*Cb。
8.根据权利要求1所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S4之后还包括：
9.根据权利要求1所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S1中，每个所述区域中的所述互电容节点数量相同或不同。
10.根据权利要求1所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤S1中，将整个所述触摸板平均划分为九宫格或十八宫格。
...【技术特征摘要】
1.一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，所述触摸板包括盖板和触摸感应层，通过互电容检测电路对所述盖板的电容值进行测试，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤s3中，通过测试单个所述互电容节点得到所述第二平均电容变化值，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤s24中，计算所述互电容节点的电容变化值的公式为：
4.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，步骤s4中，计算所述盖板的电容值的公式为：
5.根据权利要求2所述的一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，所述互电容检测电路包括运算放大器、第一基准电容、反馈电容、反馈电阻、开关及波形发生器；所述运算放大器的正向输入端连接参考电压，反向输入端与输出端之间分别并联有所述反馈电阻、反馈电容，所述第一输出电压v1、第二输出电压v2及第三输出电压v3均由所述输出端输出；所述第一基准电容的一端连接所述运算...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴宇文，李兵，谢克华，
申请(专利权)人：深圳贝特莱电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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