System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪及粒度分布测试方法技术_技高网

硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪及粒度分布测试方法技术

技术编号:40932062 阅读:16 留言:0更新日期:2024-04-18 14:52
本发明专利技术涉及硅酸锆超细粉加工技术领域,提出了硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪及粒度分布测试方法,其中,硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,包括:进料支架、投料机构、输送机构和检测机构,进料支架上设置有进料箱体,进料箱体上设置有清洁组件,进料支架的一侧设置有检测支架,检测支架上设置有检测箱体,进料箱体上设置有投料板,投料机构设置在投料板上,输送机构设置在进料箱体上,检测机构设置在检测箱体内,通过上述技术方案,解决了相关技术中大部分激光粒度分布仪是对多个样品依次检测,检测操作较为麻烦,导致检测速度低下的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硅酸锆超细粉加工,具体涉及硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪及粒度分布测试方法


技术介绍

1、硅酸锆是一种常用的无机材料,硅酸锆具有耐高温、耐腐蚀和化学稳定性好等特点,广泛应用于陶瓷、电子和光学等领域,硅酸锆生产流程主要包括原料处理、煅烧、磨矿和制粉等步骤,在制粉过程中对粉末颗粒的质量会严格把控,硅酸锆超细粉通过激光粒度分布仪对其进行质量监测,以保证生产质量,但是在检测过程中,为保证检测结果的准确性一般需要取多个样品进行检测。

2、激光粒度分布仪通过在水中加入分散剂,通过对分散剂和水进行搅拌,使分散剂充分溶解之后再加入样品,再进行搅拌,然后水和硅酸锆细粉流动到检测池内,硅酸锆细粉在检测池内通过循环管循环流动,然后通过激光检测组件进行检测。

3、现有技术中激光粒度分布仪在对硅酸锆细粉进行质量检测过程中,会有一部分细分颗粒会粘到检测池的内壁上,需要对其进行检测完毕一次之后,对进料口和检测池进行清洗,或者更换检测池,再对下一个样品进行检测,操作起来步骤较为繁琐,导致检测速度较低。


技术实现思路

1、本专利技术提出硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪及粒度分布测试方法,解决了相关技术中大部分激光粒度分布仪是对多个样品依次检测,检测操作较为麻烦,导致检测速度低下的问题。

2、本专利技术的技术方案如下:硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,包括:

3、进料支架,所述进料支架上设置有进料箱体,所述进料箱体上设置有清洁组件,所述进料支架的一侧设置有检测支架,所述检测支架上设置有检测箱体;

4、投料机构,所述进料箱体上设置有投料板,所述投料机构设置在所述投料板上,用于放置取样瓶并将取样瓶内的样品倒入检测箱体内;

5、输送机构,所述输送机构设置在所述进料箱体上,用于接收样品并对样品进行输送;

6、检测机构,所述检测机构设置在所述检测箱体内,用于对多个样品进行检测;

7、其中,所述检测机构包括:

8、检测组件,所述检测组件设置有多个,多个所述检测组件设置在所述检测箱体内,用于对多个样品进行检测;

9、升降组件,所述升降组件设置在所述检测箱体内,用于带动多个检测组件与输送机构依次对齐。

10、进一步的,所述清洁组件包括:

11、清洁壳体,所述清洁壳体设置在所述进料箱体上;

12、螺纹杆一,所述螺纹杆一设置在所述清洁壳体上;

13、电机一,所述电机一设置在所述清洁壳体上,所述电机一的输出端贯穿所述清洁壳体与所述螺纹杆一连接;

14、升降柱一,所述升降柱一设置在所述螺纹杆一上;

15、旋转柱一,所述旋转柱一设置在所述升降柱一上,所述升降柱一上开设有与所述旋转柱一相匹配的清洁开口;

16、电机二,所述旋转柱一上设置有清洁支板,所述电机二设置在所述清洁支板上,所述电机二的输出端贯穿所述清洁支板连接有清洁轴;

17、清洁板,所述清洁板设置有两个,两个所述清洁板设置在所述清洁轴上,两个所述清洁板之间设置有多个清洁弧板;

18、弹簧一,所述弹簧一设置有多个,多个所述清洁弧板分别通过多个所述弹簧一与所述清洁轴连接。

19、再进一步的,所述输送机构包括:

20、进料筒体,所述进料筒体设置在所述进料箱体上,所述进料箱体上开设有与所述进料筒体相匹配的进料开口;

21、进料管,所述进料管连通设置在所述进料筒体上,所述进料管的输出端连通设置有旋转水管,所述进料管上设置有单向阀一;

22、旋转杆,所述旋转杆设置有多个,多个所述旋转杆设置在所述旋转水管上,多个所述旋转杆贯穿所述进料箱体顶部连接有旋转钮;

23、排放壳体,所述排放壳体设置在所述进料箱体内部,所述排放壳体上连通设置有排放管;

24、接收组件,所述接收组件设置在所述进料箱体上;

25、传送组件,所述传送组件设置在所述进料箱体和所述检测箱体之间;

26、搅拌组件,所述搅拌组件设置在所述进料箱体上。

27、更进一步的,所述接收组件包括:

28、推进壳体,所述推进壳体设置在所述进料箱体上,所述推进壳体内设置有推进隔板,通过所述推进隔板将所述推进壳体分为盛放腔和推进腔;

29、接收壳,所述接收壳设置有多个,多个所述接收壳设置在所述盛放腔内,多个所述接收壳上均设置有接收开口,多个所述接收壳上均设置有两个捅进开口,所述接收壳体和所述进料箱体上开设有与所述接收壳相对应的推进开口;

30、气缸,所述气缸设置在所述推进腔内,所述气缸的输出端设置有推进板;

31、限位支架,所述限位支架设置在所述进料箱体内。

32、作为本专利技术进一步的方案,所述传送组件包括:

33、倾斜板,所述倾斜板设置在所述进料箱体内;

34、弹簧支柱,所述弹簧支柱设置在所述进料箱体内,所述弹簧支柱上设置有弹簧二,所述弹簧二通过弹簧板与所述倾斜板连接;

35、伸缩杆,所述伸缩杆设置在所述倾斜板与所述进料箱体之间,所述倾斜板与所述进料箱体之间设置有固定杆;

36、传送支架,所述传送支架设置有四个,四个所述传送支架两两一组分别设置在所述进料箱体和所述检测箱体上,四个所述传送支架之间设置有两个传送轴,两个所述传送轴之间设置有传送带,所述传送带两侧设置有限位板,所述检测箱体和所述进料箱体上均开设有与所述传送带相匹配的传送开口;

37、保护壳体,所述进料箱体与所述检测箱体之间设置有所述保护壳体;

38、电机三,所述电机三设置在其中一个所述传送支架上,所述电机三的输出端贯穿所述传送支架与其中一个所述传送轴连接。

39、在前述方案的基础上,优选的,所述搅拌组件包括:

40、搅拌壳体,所述搅拌壳体设置在所述进料箱体上;

41、螺纹杆二,所述螺纹杆二设置在所述搅拌壳体上;

42、电机四,所述电机四设置在所述搅拌壳体上,所述电机四的输出端贯穿所述搅拌壳体与所述螺纹杆二连接;

43、升降柱二,所述升降柱二设置在所述螺纹杆二上;

44、旋转柱二,所述旋转柱二设置在所述升降柱二上,所述升降柱二上开设有与所述旋转柱二相匹配的搅拌开口;

45、电机五,所述旋转柱二上设置有搅拌支板,所述电机五设置在所述搅拌支板上;

46、搅拌轴,所述电机五的输出端贯穿所述搅拌支板与所述搅拌轴连接,所述搅拌轴上设置有多个搅拌叶,多个搅拌叶呈倾斜状态设置在所述搅拌轴上,多个所述搅拌叶上开设有多个搅拌孔。

47、进一步的,所述升降组件包括:

48、升降支罩,所述升降支罩设置有两个,两个所述升降支罩设置在所述检测箱体内,其中一个所述升降支罩上设置有辅助轴;

49、螺纹杆三,所述螺纹杆三设置在所述升降支罩上;

50、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述清洁组件包括:

3.根据权利要求2所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述输送机构包括:

4.根据权利要求3所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述接收组件包括:

5.根据权利要求4所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述传送组件包括:

6.根据权利要求5所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述搅拌组件包括:

7.根据权利要求6所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述升降组件包括:

8.根据权利要求7所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述检测组件包括:

9.根据权利要求8所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述投料机构包括:

10.硅酸锆超细粉粒度分布测试方法,使用了权利要求9所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,包括以下步骤:

...

【技术特征摘要】

1.硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述清洁组件包括:

3.根据权利要求2所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述输送机构包括:

4.根据权利要求3所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述接收组件包括:

5.根据权利要求4所述的硅酸锆超细粉加工用激光粒度分布仪,其特征在于,所述传送组件包括:

6.根据权利要求5所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔海燕张立军
申请(专利权)人:唐山市康陶新材料有限公司
类型:发明
国别省市:

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