【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学领域，涉及光学系统指示光轴的引出方法，尤其涉及一种采用基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法。
技术介绍
1、激光测距系统是一种利用激光技术进行距离测量的装置，其主要作用在于实现对目标距离的高精度测量。激光测距系统在许多领域具有重要应用，例如激光雷达系统中用于远距离目标探测、三维扫描成像中的精确距离测量、工业自动化中的定位和测量等。
2、库德光路是激光测距系统中的一个重要组成部分，它是一种用于光学系统中的干涉仪结构。库德光路的作用在于将激光信号分解并重组，以实现用于距离测量的干涉效果。库德光路的重要性在于其能够提供稳定、精确的光学路径，以便在激光测距系统中实现高精度的距离测量。这种光路结构可以有效抵消机械振动和环境干扰对测距精度的影响，从而提高了激光测距系统的稳定性和可靠性。
3、但对于光学系统中库德光路的装调技术仍有问题亟待解决，包括无法精准地将主系统光轴传递到后续库德光路中，使得后续装调库德光路时缺少基准，仍然处于盲调状态。针对上述困难，本专利技术提出一种基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，结合精准的光学设计和精密的安装调试方法，能提高引出光轴的精确性，便于后续库德光路的装调。
技术实现思路
1、本专利技术解决的技术问题是克服现有技术的不足，提出了一种基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，可以精确地引出光学系统的指示光轴。此方法通用性强，可适用于多种类型的光学系统主光轴引出。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如
3、基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，按以下步骤进行：
4、步骤1：平面波干涉仪发射平行光通过第一分光棱镜反射入射到第二分光棱镜，由第二分光棱镜反射到一级缩束镜组，进而入射到主系统，经过标准平面镜自准直返回平面波干涉仪；调整第一分光棱镜、第二分光棱镜以及平面波干涉仪的位置，使得光束位于带刻度空心圆靶标中心且系统波像差最小、条纹最少，此时干涉仪光轴的位置即为光学系统光轴；
5、步骤2：当平面波干涉仪放置在光学系统光轴位置时，在第二分光棱镜与一级缩束镜组之间加入反射平面镜，调整反射平面镜直至光束经过标准平面镜自准直返回平面波干涉仪；
6、步骤3：安装指示激光器，使得指示激光器发出的光能够经过反射平面镜返回指示激光器的出光口，此时从第二分光棱镜透射端出射的激光即为指示光轴。
7、进一步的，步骤1包括如下步骤：
8、步骤1-1：在平面波干涉仪与机械轴十字丝之间插入第二分光棱镜，调整第二分光棱镜使得系统光束透过第二分光棱镜中央；使用带刻度的空心圆靶标标记此时光束边缘，并记录此时刻度；
9、步骤1-2：将平面波干涉仪置于第二分光棱镜的反射端；调节平面波干涉仪的姿态，使平面波干涉仪的出射光束对准步骤1-1中带刻度的空心圆靶标所标记的刻度，且系统波像差最小，干涉条纹最少；
10、步骤1-3：在平面波干涉仪与第二分光棱镜之间插入第一分光棱镜，调整第一分光棱镜使得系统光束透过带刻度的空心圆靶标透过第一分光棱镜中心；
11、步骤1-4：将平面波干涉仪置于第一分光棱镜的反射端；调节平面波干涉仪姿态，使平面波干涉仪的出射光束对准步骤1-1中带刻度的空心圆靶标所标记的刻度，且系统波像差最小，干涉条纹最少。
12、进一步的，所述平面波干涉仪的姿态是指平面波干涉仪相对于主光轴在x/y轴的偏心、z轴的离焦以及俯仰和倾斜。
13、进一步的，步骤2中，调整反射平面镜的俯仰及倾斜，光束经过标准平面镜自准直返回平面波干涉仪，直至条纹最少。
14、进一步的，步骤3中，选用发散角小于预定值的激光器作为指示激光器，安装指示激光器于光学系统远端；调节指示激光器的偏摆、俯仰及倾斜，观察返回光斑与出射光重合，此时第二分光棱镜透射端出射的激光即为装调系统的指示光轴，可作为后续光路的安装基准。
15、本专利技术具有如下有益效果：
16、本专利技术提供了一种基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，用于光学系统库德光路指示光轴的引出。该方法使用干涉仪和分光棱镜来装调光路，通用性强，适用于各种光路的光轴引出。本专利技术为光学系统指示光轴的引出提供了新的思路。
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1.基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，按以下步骤进行：
2.根据权利要求1所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，步骤1包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，所述平面波干涉仪的姿态是指平面波干涉仪相对于主光轴在X/Y轴的偏心、Z轴的离焦以及俯仰和倾斜。
4.根据权利要求1所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，步骤2中，调整反射平面镜的俯仰及倾斜，光束经过标准平面镜自准直返回平面波干涉仪，直至条纹最少。
5.根据权利要求1所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，步骤3中，选用发散角小于预定值的激光器作为指示激光器，安装指示激光器于光学系统远端；
【技术特征摘要】
1.基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，按以下步骤进行：
2.根据权利要求1所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，步骤1包括如下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于干涉仪测量的库德光路指示光轴引出方法，其特征在于，所述平面波干涉仪的姿态是指平面波干涉仪相对于主光轴在x/y轴的偏心、z轴的离焦以及俯仰和倾...
【专利技术属性】
技术研发人员：李金鹏，刘仁爱，宋左子菲，何鹏，
申请(专利权)人：中科院南京耐尔思光电仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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