System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于半导体模块封装的视觉检测设备制造技术_技高网

一种用于半导体模块封装的视觉检测设备制造技术

技术编号:40920910 阅读:10 留言:0更新日期:2024-04-18 14:45
本发明专利技术公开了一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,涉及半导体技术领域,包括底板,底板顶部固定连接有固定杆,固定杆顶部固定连接有工作盘,底板顶部固定连接有电动伸缩杆,电动伸缩杆顶部固定连接有托板,托板顶部固定连接有摄像机,摄像机内部设置有镜头,托板顶部固定连接有固定块,固定块外部设置有吸尘清洁机构,通过设置吸尘清洁机构,实时的对镜头外壁粘附的灰尘进行抽出,并随着重力掉落在收集槽内壁滑落至收集槽内壁与挡板之间的位置,进行集中收集,从而实现对镜头外壁进行抽气将灰尘抽离挡板外部并将周围空气中的大量灰尘抽至连通槽处进行过滤,对周围空气进行一定程度的净化,具有实用性强的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体,具体为一种用于半导体模块封装的视觉检测设备


技术介绍

1、半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程,视觉检测就是用机器代替人眼来做测量和判断,视觉检测是指通过机器视觉产品(即图像摄取装置,分cmos和ccd两种)将被摄取目标转换成图像信号,传送给专用的图像处理系统,根据像素分布和亮度、颜色等信息,转变成数字化信号,图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征,进而根据判别的结果来控制现场的设备动作,是用于生产、装配或包装的有价值的机制,它在检测缺陷和防止缺陷产品被配送到消费者的功能方面具有不可估量的价值;

2、参考专利号为cn111863651a的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,包括底座,底座上固定有缸体,缸体的活塞杆上固定有第一环形板,第一环形板上设置有环形槽,环形槽内滑动设置有滑块,滑块上固定有第二环形板,第二环形板上固定有支撑杆,支撑杆上固定有支撑板,支撑板上固定嵌入有灯珠,支撑板还固定有摄像头,摄像头通过数据线与计算机主机连接,可通过计算机边进行摄像头的操作以及边观看拍摄情况。通过摄像头的上下移动以及转动,可在半导体在操作台上加工时,进行拍摄,且摄像头可进行位置调整,满足拍摄需求;

3、该专利在进行视觉检测的拍摄工作的时候,容易因为拍摄过程中摄像头镜面粘附残渣而导致拍摄清晰度下降,影响检测工作的进展,实用性差。因此,设计实用性强的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备是很有必要的。


技术实现思路p>

1、本专利技术的目的在于提供一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为了解决上述技术问题,本专利技术提供如下技术方案:一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,包括底板,底板顶部固定连接有固定杆,固定杆顶部固定连接有工作盘,底板顶部固定连接有电动伸缩杆,电动伸缩杆顶部固定连接有托板,托板顶部固定连接有摄像机,摄像机内部设置有镜头,托板顶部固定连接有固定块,固定块外部设置有吸尘清洁机构;

3、吸尘清洁机构包括空心套,空心套一端与托板底部固定连接有,空心套内壁滑动连接有滑杆,滑杆一端固定连接有磁块a,固定块外壁固定连接有收集槽,固定块与收集槽内部开设有连通槽,收集槽外壁固定连接有挡板,收集槽外壁固定连接有铁块,收集槽内壁滑动连接有磁块b,磁块b外壁固定连接有弹性绳,磁块b外部设置有刮擦灰尘抖落压实机构;

4、刮擦灰尘抖落压实机构包括滑块,滑块外壁滑动连接有滑道,滑道开设在磁块b外壁,滑块外壁固定连接有弹性拉绳。

5、根据上述技术方案,刮擦灰尘抖落压实机构还包括刮板,弹性拉绳一端与刮板外壁固定连接,刮板外壁滑动连接有滑槽,滑槽开设在磁块b外壁。

6、根据上述技术方案,磁块b与磁块a相对一侧的磁性为异极。

7、根据上述技术方案,磁块b与弹性绳相对一侧的磁性为异极。

8、根据上述技术方案,连通槽内部与空心套内部连通。

9、根据上述技术方案,连通槽内部设置有过滤网。

10、根据上述技术方案,滑道为倾斜形态。

11、与现有技术相比,本专利技术所达到的有益效果是:

12、(1)、本专利技术通过设置吸尘清洁机构,在调整电动伸缩杆进行伸缩工作的时候,空心套与滑杆则相互滑动拉伸,空心套与滑杆相互远离时,空心套与滑杆之间的空间则通过挡板从外部将空气抽入其中来填补,从而对镜头外壁粘附的残渣通过调节镜头的高度,来实时的对镜头外壁粘附的灰尘进行抽出,从而吸附在连通槽处,并随着重力掉落在收集槽内壁滑落至收集槽内壁与挡板之间的位置,进行集中收集,从而实现对镜头外壁进行抽气将灰尘抽离挡板外部并将周围空气中的大量灰尘抽至连通槽处进行过滤,对周围空气进行一定程度的净化,保证镜头后续的工作时的拍照检测的清晰度。

13、(2)、本专利技术通过设置吸尘清洁机构,在调整电动伸缩杆的高低时,滑杆中的磁块a则远离磁块b,磁块b在收集槽中则受到弹性绳的弹力将其拉回,从而对收集槽的内壁进行一次滑动刮擦,将收集槽内壁粘附在连通槽外壁的残渣进行刮动,并且随着磁块b外壁的倾斜面从而滑落至磁块b底部的挡板与收集槽之间处,保证连通槽外壁的清洁,提升连通槽长时间的净化抽气效果。

14、(3)、本专利技术通过设置吸尘清洁机构,在工作结束后,将调整电动伸缩杆使得摄像机与镜头下降回归原位,从而此时连通槽外壁之前被磁块b刮擦清洁后,随着空心套与滑杆相互靠近并且挤压空气通过连通槽喷出对镜头外壁再次进行喷气清洁,提升镜头外壁的清洁度,并且在空心套与滑杆相互靠近的时候,滑杆一端的磁块a则逐渐靠近磁块b并且随着磁块a与磁块b之间的靠近磁吸力逐渐增大大于磁块b与铁块之间的磁吸力时,磁块b脱离与铁块的磁吸瞬间被磁块a磁吸下降,对收集槽内壁进行快速的滑动刮擦,将收集槽内壁收集并粘附的残渣进行再次一次的刮落至挡板处,并且对收集槽内壁底部的灰尘进行压实,防止灰尘四溅。

15、(4)、本专利技术通过设置刮擦灰尘抖落压实机构,随着磁块b下降并且撞击至收集槽内壁底部的时候,磁块b外壁的滑块在滑道内部随着滑道的倾斜角度滑动下降并且向左移动,从而通过弹性拉绳的弹性拉动刮板在磁块b外壁的滑槽中滑动对磁块b外壁的倾斜面进行刮擦清洁,避免了磁块b外壁长时间进行刮擦时粘附的残渣难以清理的问题出现,进一步提升了对灰尘的抖落效率,防止随着空气流动再次粘附在镜头外壁造成二次污染的情况发生。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)顶部固定连接有固定杆(7),所述固定杆(7)顶部固定连接有工作盘(8),所述底板(1)顶部固定连接有电动伸缩杆(5),所述电动伸缩杆(5)顶部固定连接有托板(6),所述托板(6)顶部固定连接有摄像机(10),所述摄像机(10)内部设置有镜头(9),所述托板(6)顶部固定连接有固定块(2),所述固定块(2)外部设置有吸尘清洁机构(3);

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述刮擦灰尘抖落压实机构(4)还包括刮板(404),所述弹性拉绳(403)一端与刮板(404)外壁固定连接,所述刮板(404)外壁滑动连接有滑槽(405),所述滑槽(405)开设在磁块B(306)外壁。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述磁块B(306)与磁块A(303)相对一侧的磁性为异极。

4.根据权利要求3所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述磁块B(306)与弹性绳(307)相对一侧的磁性为异极。

5.根据权利要求4所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述连通槽(310)内部与空心套(301)内部连通。

6.根据权利要求5所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述连通槽(310)内部设置有过滤网。

7.根据权利要求6所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述滑道(402)为倾斜形态。

...

【技术特征摘要】

1.一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)顶部固定连接有固定杆(7),所述固定杆(7)顶部固定连接有工作盘(8),所述底板(1)顶部固定连接有电动伸缩杆(5),所述电动伸缩杆(5)顶部固定连接有托板(6),所述托板(6)顶部固定连接有摄像机(10),所述摄像机(10)内部设置有镜头(9),所述托板(6)顶部固定连接有固定块(2),所述固定块(2)外部设置有吸尘清洁机构(3);

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体模块封装的视觉检测设备,其特征在于:所述刮擦灰尘抖落压实机构(4)还包括刮板(404),所述弹性拉绳(403)一端与刮板(404)外壁固定连接,所述刮板(404)外壁滑动连接有滑槽(405),所述滑槽(405)开设在磁块b(...

【专利技术属性】
技术研发人员:江志祥
申请(专利权)人:江苏浦贝智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1