System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种5G通讯模组测试装置制造方法及图纸_技高网

一种5G通讯模组测试装置制造方法及图纸

技术编号:40877559 阅读:3 留言:0更新日期:2024-04-08 16:47
本发明专利技术涉及测试技术领域,公开了一种5G通讯模组测试装置,包括输送单元与测试单元,测试单元包括测试箱,测试箱的表面开设有运料缺口,测试箱的内部设有测试部与线性伸缩部,测试部包括调节箱与多根测试杆,测试杆电联有电变量测试器,多根测试杆呈阶梯状排布,测试杆的内部设有触发部与推离部,推离部抵靠着相邻测试杆的表面,触发部的一端伸出至测试杆外部,线性伸缩部伸长带动测试杆与半导体元件的引脚对接,引脚挤压触发部,触发部带动推离部动作,推动与其接触的测试杆向两侧移动,使与引脚对接的测试杆独立设置,该5G通讯模组测试装置,在对不同型号的半导体元件进行测试时,能自适应引脚位置,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体元件测试领域,更具体地说,它涉及一种5g通讯模组测试装置。


技术介绍

1、5g通讯模组是实现5g通讯的核心设备之一,它承载着5g通讯信号的传输和处理功能。而半导体作为5g通讯模组的重要组成部分,发挥着关键作用。半导体器件是5g通讯模组内部的核心芯片,用于实现信号的调制、解调、放大和滤波等功能。因此,半导体的性能直接影响着5g通讯模组的整体性能和稳定性。为了确保5g通讯模组的正常工作,必须对半导体的各项性能进行全面的测试和评估。

2、5g通讯模组的测试是指对其在不同工作状态下的性能进行验证和评估的过程。而在这个过程中,对半导体的引脚电变量进行测试尤为重要。半导体的引脚电变量测试是指对半导体器件内部引脚的电参数进行测试,包括电压、电流、功率消耗、信号幅度等。通过对半导体的引脚电变量进行测试,可以全面了解半导体在不同工作条件下的电性能,为5g通讯模组的性能评估提供重要数据支持。

3、为测量半导体元件的电阻特性,判断出半导体元件是否符合质量要求,目前在对半导体元件的电阻特性进行测量时,会用到电变量测量装置,现有的半导体元件在进行电变量测量时,需要将电变量测量装置与半导体元件的引脚相连,不同半导体元件的引脚位置与引脚数量均不相同,进而在对多种半导体元件的电变量进行测量时,需要更换不同的模具与不同型号的半导体元件相适配,或者人工将半导体元件的引脚与电变量测量装置相连,拖慢了半导体元件的电变量的测试效率。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种5g通讯模组测试装置,解决相关技术中一次性对多种型号的半导体元件的电变量进行测量时,如何提高测试效率的技术问题。

2、根据本专利技术的一个方面,提供了一种5g通讯模组测试装置,包括输送单元与测试单元,测试单元包括测试箱,测试箱的表面开设有运料缺口,输送单元带着半导体元件从运料缺口处通过,测试箱的内部还设有测试部与线性伸缩部,测试部包括调节箱与多根测试杆,多根测试杆滑动安装在调节箱内部,测试杆电联有电变量测试器,多根测试杆呈阶梯状排布,多根测试杆距离芯片引脚的距离沿着阶梯方向渐变增大,测试杆的内部设有触发部与推离部,推离部抵靠着与其相邻的测试杆的表面,触发部的一端伸出至测试杆的外部,线性伸缩部与调节箱相连,线性伸缩部伸长带动测试杆与半导体元件的引脚对接,引脚挤压触发部,触发部带动推离部动作,推离部推动与其接触的测试杆向两侧移动,使得与引脚对接的测试杆独立设置,此时电变量测试器对该引脚的电变量进行测试。

3、作为本专利技术的进一步优化方案,测试杆包括滑行部,滑行部滑动安装在测试箱的内部,滑行部的表面通过杆件连接有对接部,对接部的表面开设有与半导体元件引脚相适配的对接口。

4、作为本专利技术的进一步优化方案,杆件为伸缩杆,杆件靠近对接部的表面安装有复位块,杆件的外部还设有复位机构,复位机构抵靠着复位块的表面,杆件被压缩之后,复位机构带动复位块移动,带动杆件恢复原状,方便对接部与下一个半导体元件的引脚进行对接。

5、作为本专利技术的进一步优化方案,滑行部的内部设置有内腔,杆件为空心结构,杆件将内腔与对接口相连通,触发部包括触发杆,触发杆的两端分别插入至内腔与对接口内部,芯片引脚插入至对接口内部,挤压触发杆动作,带动推离部动作,推动两侧的测试杆向两侧移动。

6、作为本专利技术的进一步优化方案,触发杆包括上触发段与下触发段,上触发段伸入至对接口内部,上触发段包括接触板,接触板的下端面安装有挤压块,挤压块通过复位弹簧与对接口的底面相连,下触发段的表面开设有波浪槽。

7、作为本专利技术的进一步优化方案,接触板靠近半导体元件引脚的表面设有橡胶套。

8、作为本专利技术的进一步优化方案,推离部包括上推离杆与下推离杆,上推离杆设置有两组,两组上推离杆对称设置在挤压块的两侧,上推离杆的另一端抵靠着相邻测试杆的对接部的表面,下推离杆的一端抵靠着波浪槽的表面,下推离杆的另一端抵靠着相邻测试杆的滑行部的表面,初始状态下,下推离杆抵靠着波浪槽的最低点,随着触发杆的下移,下推离杆推动相邻的测试杆向两侧移动。

9、作为本专利技术的进一步优化方案,相邻滑行部的表面还连接有弹性绳,相邻滑行部之间的下推离杆交错设置。

10、作为本专利技术的进一步优化方案,输送单元的表面还设有上料单元、清洁单元与卸料单元,上料单元、清洁单元、测试单元与卸料单元沿着输送单元的输送方向间隔设置,清洁单元包括吹气泵,吹气泵的输出段通过导气管连接有出气管道,出气管道的表面开设有多个吹气口,多个吹气口沿着输送单元的输送方向间隔设置。

11、作为本专利技术的进一步优化方案,输送单元的表面还设有固定单元,固定单元用于吸附固定住半导体元件。

12、本专利技术的有益效果在于:本专利技术通过设置测试单元,在对不同型号的半导体元件进行电变量测试时,不需要额外的更换模具,就能保证测试单元与不同型号的半导体元件的引脚进行接触,提高了测试效率。

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【技术保护点】

1.一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,包括输送单元(1)与测试单元(4),测试单元(4)包括测试箱(41),测试箱(41)的表面开设有运料缺口(42),输送单元(1)带着半导体元件从运料缺口(42)处通过,测试箱(41)的内部还设有测试部与线性伸缩部(43),测试部包括调节箱(44)与多根测试杆(45),多根测试杆(45)滑动安装在调节箱(44)内部,测试杆(45)电联有电变量测试器,多根测试杆(45)呈阶梯状排布,多根测试杆(45)距离芯片引脚的距离沿着阶梯方向渐变增大,测试杆(45)的内部设有触发部(46)与推离部(47),推离部(47)抵靠着与其相邻的测试杆(45)的表面,触发部(46)的一端伸出至测试杆(45)的外部,线性伸缩部(43)与调节箱(44)相连,线性伸缩部(43)伸长带动测试杆(45)与半导体元件的引脚对接,引脚挤压触发部(46),触发部(46)带动推离部(47)动作,推离部(47)推动与其接触的测试杆(45)向两侧移动,使得与引脚对接的测试杆(45)独立设置,此时电变量测试器对该引脚的电变量进行测试。

2.根据权利要求1所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,测试杆(45)包括滑行部(451),滑行部(451)滑动安装在测试箱(41)的内部,滑行部(451)的表面通过杆件(452)连接有对接部(453),对接部(453)的表面开设有与半导体元件引脚相适配的对接口(454)。

3.根据权利要求2所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,杆件(452)为伸缩杆,杆件(452)靠近对接部(453)的表面安装有复位块(455),杆件(452)的外部还设有复位机构,复位机构抵靠着复位块(455)的表面,杆件(452)被压缩之后,复位机构带动复位块(455)移动,带动杆件(452)恢复原状,方便对接部(453)与下一个半导体元件的引脚进行对接。

4.根据权利要求3所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,滑行部(451)的内部设置有内腔(456),杆件(452)为空心结构,杆件(452)将内腔(456)与对接口(454)相连通,触发部(46)包括触发杆(461),触发杆(461)的两端分别插入至内腔(456)与对接口(454)内部,芯片引脚插入至对接口(454)内部,挤压触发杆(461)动作,带动推离部(47)动作,推动两侧的测试杆(45)向两侧移动。

5.根据权利要求4所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,触发杆(461)包括上触发段与下触发段,上触发段伸入至对接口(454)内部,上触发段包括接触板(462),接触板(462)的下端面安装有挤压块(463),挤压块(463)通过复位弹簧(464)与对接口(454)的底面相连,下触发段的表面开设有波浪槽(465)。

6.根据权利要求5所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,接触板(462)靠近半导体元件引脚的表面设有橡胶套。

7.根据权利要求6所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,推离部(47)包括上推离杆(471)与下推离杆(472),上推离杆(471)设置有两组,两组上推离杆(471)对称设置在挤压块(463)的两侧,上推离杆(471)的另一端抵靠着相邻测试杆(45)的对接部(453)的表面,下推离杆(472)的一端抵靠着波浪槽(465)的表面,下推离杆(472)的另一端抵靠着相邻测试杆(45)的滑行部(451)的表面,初始状态下,下推离杆(472)抵靠着波浪槽(465)的最低点,随着触发杆(461)的下移,下推离杆(472)推动相邻的测试杆(45)向两侧移动。

8.根据权利要求7所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,相邻滑行部(451)的表面还连接有弹性绳(473),相邻滑行部(451)之间的下推离杆(472)交错设置。

9.根据权利要求8所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,输送单元(1)的表面还设有上料单元(2)、清洁单元(3)与卸料单元(5),上料单元(2)、清洁单元(3)、测试单元(4)与卸料单元(5)沿着输送单元(1)的输送方向间隔设置,清洁单元(3)包括吹气泵,吹气泵的输出段通过导气管连接有出气管道,出气管道的表面开设有多个吹气口,多个吹气口沿着输送单元(1)的输送方向间隔设置。

10.根据权利要求9所述的一种5G通讯模组测试装置,其特征在于,输送单元(1)的表面还设有固定单元,固定单元用于吸附固定住半导体元件。

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【技术特征摘要】

1.一种5g通讯模组测试装置,其特征在于,包括输送单元(1)与测试单元(4),测试单元(4)包括测试箱(41),测试箱(41)的表面开设有运料缺口(42),输送单元(1)带着半导体元件从运料缺口(42)处通过,测试箱(41)的内部还设有测试部与线性伸缩部(43),测试部包括调节箱(44)与多根测试杆(45),多根测试杆(45)滑动安装在调节箱(44)内部,测试杆(45)电联有电变量测试器,多根测试杆(45)呈阶梯状排布,多根测试杆(45)距离芯片引脚的距离沿着阶梯方向渐变增大,测试杆(45)的内部设有触发部(46)与推离部(47),推离部(47)抵靠着与其相邻的测试杆(45)的表面,触发部(46)的一端伸出至测试杆(45)的外部,线性伸缩部(43)与调节箱(44)相连,线性伸缩部(43)伸长带动测试杆(45)与半导体元件的引脚对接,引脚挤压触发部(46),触发部(46)带动推离部(47)动作,推离部(47)推动与其接触的测试杆(45)向两侧移动,使得与引脚对接的测试杆(45)独立设置,此时电变量测试器对该引脚的电变量进行测试。

2.根据权利要求1所述的一种5g通讯模组测试装置,其特征在于,测试杆(45)包括滑行部(451),滑行部(451)滑动安装在测试箱(41)的内部,滑行部(451)的表面通过杆件(452)连接有对接部(453),对接部(453)的表面开设有与半导体元件引脚相适配的对接口(454)。

3.根据权利要求2所述的一种5g通讯模组测试装置,其特征在于,杆件(452)为伸缩杆,杆件(452)靠近对接部(453)的表面安装有复位块(455),杆件(452)的外部还设有复位机构,复位机构抵靠着复位块(455)的表面,杆件(452)被压缩之后,复位机构带动复位块(455)移动,带动杆件(452)恢复原状,方便对接部(453)与下一个半导体元件的引脚进行对接。

4.根据权利要求3所述的一种5g通讯模组测试装置,其特征在于,滑行部(451)的内部设置有内腔(456),杆件(452)为空心结构,杆件(452)将内腔(456)与对接口(454)相连通,触发部(46)包括触发杆(461),触发杆(461)的两端分别插入至内腔(456)与对...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄守国黄志宏黄德海郑雅方
申请(专利权)人:深圳妙明智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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