【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子，尤其涉及一种电容器检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、设备可以量测电容值为三用电表以及阻抗分析仪(lrc meter)，但之前的经验来看，电容值较大时，使用三用电表会无法量测出电容值，因此会需要利用较精密的lrcmeter进行量测，然而，在设备上并不是每一个厂区都有具备足够且可以使用的仪器，在不具备设备的情况下，是完全无法量测电容是否符合设计标准，仅能简单量测电容阻抗是否正确，以此结果去判断焊接是否正确，进而作一个开机的基础判断，在此种情况下，对于出货品质上风险很大，电容品质批次参差不齐，就会导致后续产品表现有很大的影响。
2、每个工厂就算有设备可以量测，但需要人工一组一组手动量测，对于小批量可以执行，但对于大批量生产时，这个方式是非常耗时的，也不可能去达成。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的问题，本专利技术提供一种电容器检测方法、装置、电子设备及存储介质。
2、本专利技术提供一种电容器检测方法，包括：
3、获取第一电压和第二电压，所述第一电压为量测电源的基准电压，所述第二电压为电容器在正常放电程序下监测的当前电压；其中，所述量测电源用于在正常充电程序中为所述电容器充电；所述正常放电程序为充电成功后的所述电容器为负载单元进行正常放电的动作；
4、获取第一电流和第二电流，所述第一电流为量测电源的模拟电流，所述第二电流为电容器在正常放电程序下监测的当前电流；
5、根据所述第一电压、所述第
6、根据所述第二电压、所述第二电流和所述电容器的电容值，确定第二放电时间；
7、根据所述第一放电时间和所述第二放电时间确定电容器的检测结果。
8、在一个实施例中，所述第二电压为所述电容器在被执行第一预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电压的平均值；所述方法还包括：
9、确定所述第一电压和所述第二电压之间的差值的绝对值，若所述差值的绝对值不在第一数值范围内，则判断所述电容器的电压参数出现异常；
10、再次获取新的第二电压，确定所述第一电压和所述新的第二电压之间的差值的绝对值；
11、当确定差值的绝对值不在第一数值范围内的次数达到第一数目时，则确定所述电容器异常。
12、在一个实施例中，所述第二电流为所述电容器在被执行第二预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电流的平均值，所述方法还包括：
13、确定所述第一电流和所述第二电流之间的差值的绝对值，若所述差值的绝对值不在第二数值范围内，则判断所述电容器的电流参数出现异常；
14、再次获取新的第二电流，确定所述第一电流和所述新的第二电流之间的差值的绝对值；
15、当确定差值的绝对值不在第二数值范围内的次数达到第二数目时，则确定所述电容器异常。
16、在一个实施例中，所述方法还包括：
17、当所述第一电压和所述第二电压之间的差值的绝对值不在第一数值范围内，和/或，所述第一电流和所述第二电流之间的差值的绝对值不在第二数值范围内时，则确定所述电容器未进入正常放电程序过程，并删除所述第一电压、所述第二电压、所述第一电流和所述第二电流；
18、当所述第一电压和所述第二电压之间的差值的绝对值在第一数值范围内，且所述第一电流和所述第二电流之间的差值的绝对值在第二数值范围内时，则确定所述电容器进入正常放电程序过程，并根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一电流、所述第二电流和所述电容器的电容值确定放电时间。
19、在一个实施例中，所述方法还包括：
20、基于所述第一电流获取对应的标准放电时间；所述标准放电时间为基于充电成功的所述电容器对地的泄放电压获得的时间；
21、将所述第一放电时间和所述标准放电时间进行比较，确定所述第一放电时间和所述标准放电时间之间的差值的绝对值；
22、若所述差值的绝对值不在第三数值范围内，相应地，根据所述标准放电时间和所述第二放电时间确定电容器的检测结果。
23、在一个实施例中，所述方法还包括：
24、对所述负载单元进行第三预设次数的调控，获取等同于所述第三预设次数的多组新的第二电压、新的第一电流和新的第二电流；
25、基于第一电压、新的第二电压、新的第一电流和新的第二电流和和所述电容器的电容值，确定新的第一放电时间和新的第二放电时间；
26、当基于第一放电时间和第二放电时间确定电容器的异常次数大于预设值时，确定电容器发生异常。
27、本专利技术还提供一种电容器检测装置，包括：
28、第一获取模块，用于获取第一电压和第二电压，所述第一电压为量测电源的基准电压，所述第二电压为电容器在正常放电程序下监测的当前电压；其中，所述量测电源用于在正常充电程序中为所述电容器充电；所述正常放电程序为充电成功后的所述电容器为负载单元进行正常放电的动作；
29、第二获取模块，用于获取第一电流和第二电流，所述第一电流为量测电源的模拟电流，所述第二电流为电容器在正常放电程序下监测的当前电流；
30、处理模块，用于根据所述第一电压、所述第一电流和所述电容器的电容值，确定第一放电时间，以及根据所述第二电压、所述第二电流和所述电容器的电容值，确定第二放电时间；
31、检测模块，根据所述第一放电时间和所述第二放电时间确定电容器的检测结果。
32、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述电容器检测方法。
33、本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述电容器检测方法。
34、本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述电容器检测方法。
35、本专利技术提供的一种电容器检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过根据量测电源的基准电压、量测电源的模拟电流、电容器在正常放电程序下监测的当前电压和当前电流，以及电容器的电容值，分别确定第一放电时间和第二放电时间，并根据第一放电时间和第二放电时间之间的比较确定电容器的检测结果，实现自动化检测及处理，快速侦测电容器的设计品质，降低后续排除故障的时间，增加量测的效率。
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1.一种电容器检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，所述第二电压为所述电容器在被执行第一预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电压的平均值；所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的电容器检测方法，其特征在于，所述第二电流为所述电容器在被执行第二预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电流的平均值，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的电容器检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.一种电容器检测装置，其特征在于，包括：
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述电容器检测方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述电容器检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种电容器检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，所述第二电压为所述电容器在被执行第一预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电压的平均值；所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的电容器检测方法，其特征在于，所述第二电流为所述电容器在被执行第二预设次数的正常放电程序过程中被监测到的多个电流的平均值，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的电容器检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的电容器检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈咏喧，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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