【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种硅圆锭斜面测试仪。
技术介绍
硅圆锭端面为斜面的情况使硅圆锭切割存在着一定的质量隐患，如切片过程中会 因斜面引发跳线、断线等故障，故需要在切片前针对硅圆锭端面进行检测。通常的做法是采 用卷尺测量圆锭的长度，三次不同的测量结果的差值为圆锭的斜面，这种测量方法存在误 差，比如圆锭的截面为平行四边行时，这种测量方法测量不出。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是设计一种硅圆锭斜面测试仪，可方便准确地 得知硅圆锭的断面是否为斜面。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种硅圆锭斜面测试仪，包括 平台、圆锭夹具和晶托，在平台上设置导轨，晶托的平面与导轨垂直，圆锭夹具通过夹具滑 座设置在导轨上，晶托通过晶托滑座设置在导轨上，晶托具有两个，分别位于圆锭夹具的两 侧。圆锭夹具具有为左右两个。本技术的有益效果是本测试仪能以圆锭的中心线为基准，即使圆锭截面为 平行四边形也可测量出来，可通过目视或塞尺测量，测量方便。以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明；附图说明图1是本技术的结构示意图；其中1.平台，1-1.导轨，2.圆锭夹具，2-1.夹具滑座，3.晶托，3-1.晶托滑座， 4.硅圆锭。具体实施方式如图1所示，一种硅圆锭斜面测试仪，包括平台1、圆锭夹具2和晶托3，在平台1 上设置导轨1-1，晶托2的平面与导轨1-1垂直，圆锭夹具2通过夹具滑座2-1设置在导轨 1-1上，晶托3通过晶托滑座3-1设置在导轨1-1上，晶托3具有两个，分别位于圆锭夹具2 的两侧。圆锭夹具2具有为左右两个。将待检测的硅圆锭4夹在圆锭夹具2上固定中心线 后，将硅圆锭4两端面接...
【技术保护点】
一种硅圆锭斜面测试仪，其特征是：包括平台（１）、圆锭夹具（２）和晶托（３），在所述的平台（１）上设置导轨（１－１），晶托（２）的平面与导轨（１－１）垂直，圆锭夹具（２）通过夹具滑座（２－１）设置在导轨（１－１）上，所述的晶托（３）通过晶托滑座（３－１）设置在导轨（１－１）上，晶托（３）具有两个，分别位于圆锭夹具（２）的两侧。
【技术特征摘要】
一种硅圆锭斜面测试仪，其特征是包括平台(1)、圆锭夹具(2)和晶托(3)，在所述的平台(1)上设置导轨(1 1)，晶托(2)的平面与导轨(1 1)垂直，圆锭夹具(2)通过夹具滑座(2 1)设置在导轨(1 1...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨康乐，
申请(专利权)人：常州天合光能有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]
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