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建筑外墙饰面层脱落预测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:40825322 阅读:19 留言:0更新日期:2024-04-01 14:46
本发明专利技术涉及一种建筑外墙饰面层脱落预测方法、装置及电子设备,方法包括:获取目标建筑外墙的红外热成像图片,对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,对所述检测数据进行粘结强度年衰减率计算,得到目标建筑外墙的粘结强度年衰减率,对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。本申请提出的方法,用以实现对建筑外墙饰面层脱落区域进行精准定位,以及对脱落区域的脱落时间进行精确预测的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及建筑外墙饰面层,具体涉及一种建筑外墙饰面层脱落预测方法、装置及电子设备


技术介绍

1、目前,外墙饰面层质量检测的方法主要是红外热成像法并辅以敲击法。这个方法影响因素多,精度有限。红外热成像法结果易受到现场检测条件和光照条件等多种因素的影响,且难以精确确定空鼓区域大小。敲击法对检测人员的要求较高,易受到环境影响和干扰,没有统一的检测标准,且检测结果主观性太强。因此,现有技术中缺乏对建筑外墙饰面层脱落区域精准定位,以及对脱落区域的脱落时间进行精确预测。


技术实现思路

1、有鉴于此,有必要提供一种建筑外墙饰面层脱落预测方法、装置及电子设备,用以实现对建筑外墙饰面层脱落区域进行精准定位,以及对脱落区域的脱落时间进行精确预测的目的。

2、为了实现上述目的,本专利技术提供了如下技术方案:

3、第一方面,本专利技术提供了一种建筑外墙饰面层脱落预测方法,包括:

4、获取目标建筑外墙的红外热成像图片;

5、对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域;

6、对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据;

7、对所述检测数据进行粘结强度年衰减率计算,得到目标建筑外墙的粘结强度年衰减率;

8、对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。

9、可选的,所述获取目标建筑外墙的红外热成像图片,包括:

10、获取基于红外热像仪对目标建筑外墙进行拍摄所得到的红外热成像图片。可选的,所述对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

11、对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行成像处理,得到处理图像区域;

12、基于所述处理图像区域进行空鼓检测,确定脱落潜在区域。

13、可选的,所述基于所述处理图像区域进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

14、通过冲击回波仪器对所述处理图像区域进行空鼓检测,确定脱落潜在区域。

15、可选的,所述对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,包括:

16、通过粘结强度检测仪对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据。

17、可选的,所述粘结强度年衰减率计算公式如下:

18、

19、式中:β为粘结强度年衰减率,p1为目标建筑新建时的外墙饰面层粘结强度,p2为所述检测数据及t为目标建筑外墙的使用年限。

20、可选的,所述对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间,包括:

21、将所述检测数据减去第一预设常量参数,得到预测常量参数,将所述预测常量参数除以所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。

22、第二方面,本专利技术还提供了一种建筑外墙饰面层脱落预测装置,包括:

23、获取模块,用于获取目标建筑外墙的红外热成像图片;

24、空鼓检测模块,用于对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域;

25、粘结强度检测模块,用于对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据;

26、第一计算模块,用于对所述检测数据进行粘结强度年衰减率计算,得到目标建筑外墙的粘结强度年衰减率;

27、第二计算模块,用于对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。

28、第三方面,本专利技术还提供了一种电子设备,用于执行存储器中存储的程序,以实现如上述任一种实现方式中的一种建筑外墙饰面层脱落预测方法中的步骤。

29、第四方面,本专利技术还提供了一种暂态计算机可读存储介质,用于存储计算机程序,能够实现上述任一种实现方式中的一种建筑外墙饰面层脱落预测中的步骤。

30、采用上述实现方式的有益效果是:本专利技术提供的一种建筑外墙饰面层脱落预测方法、装置、电子设备及存储介质,获取目标建筑外墙的红外热成像图片,对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,对所述检测数据进行粘结强度年衰减率计算,得到目标建筑外墙的粘结强度年衰减率,对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。本申请通过获取目标建筑外墙的红外热成像图片,对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,对所述检测数据进行粘结强度年衰减率计算,得到目标建筑外墙的粘结强度年衰减率,对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间。相比于现有技术,本申请提供一种建筑外墙饰面层脱落预测方法,用以实现对建筑外墙饰面层脱落区域进行精准定位,以及对脱落区域的脱落时间进行精确预测的目的,该方法操作简单、效率高,且结果精准。

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【技术保护点】

1.一种建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述获取目标建筑外墙的红外热成像图片,包括:

3.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

4.根据权利要求3所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述基于所述处理图像区域进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

5.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,包括:

6.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述粘结强度年衰减率计算公式如下:

7.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述对所述检测数据和所述目标建筑外墙的粘结强度年衰减率进行脱落时间计算,得到目标建筑外墙饰面层脱落预测时间,包括:

8.一种建筑外墙饰面层脱落预测装置,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,其中,

10.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种建筑外墙饰面层脱落预测方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述获取目标建筑外墙的红外热成像图片,包括:

3.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述对所述目标建筑外墙的红外热成像图片进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

4.根据权利要求3所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述基于所述处理图像区域进行空鼓检测,确定脱落潜在区域,包括:

5.根据权利要求1所述的建筑外墙饰面层脱落预测方法,其特征在于,所述对所述脱落潜在区域进行粘结强度检测,得到检测数据,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:符晶华刘跃
申请(专利权)人:武汉理工大学
类型:发明
国别省市:

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