System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统技术方案_技高网

一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统技术方案

技术编号:40820003 阅读:26 留言:0更新日期:2024-03-28 19:38
本发明专利技术公开了一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统,ATE接口标准通用线包括ATE端转接PCB板和Handler端转接PCB板,ATE端转接PCB板电性连接有第一接口和第二接口,第一接口与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,第一接口连接有第一标准通用电缆;Handler端转接PCB板电性连接有一个第三接口和一个第四接口组,第四接口组具有多个独立接口,第三接口和第二接口的接口类型相同,且线序一致;第二接口和第三接口可拆卸相连;第四接口组的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆,独立接口的数量和类型与其所连接的Handler分选机的TTL接口的数量和类型保持一致;本发明专利技术可有效杜绝频繁改机过程中的TTL线缆工位接错问题,日常仅操作单一接口,不易出错。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体集成电路测试领域,具体涉及一种ate接口标准通用线及其连接的ft测试系统。


技术介绍

1、随着国内集成电路(ic)的飞速发展,国产芯片的种类和数量均在不断增长,各种各样的芯片不断被设计制造出来,在封装成成品ic之后,经过最终的测试验证并流入市场,加工成各种终端产品走进千家万户。成品ic的最后一道测试工序ft,就是保证芯片质量的关键。通常测试由专业的ic测试厂来完成,每个测试厂一年内要测试成百上千个型号的ic产品。由于ic芯片的多样性,每种芯片所使用的测试设备也各不相同,且很多芯片制造数量通常不能保证测试设备长期运行,因此测试厂为提高设备利用率,需要不断更改产品线以切换用于测试不同的产品。而频繁的切换也让生产改机过程中更容易出现错误,一旦出现错误,将批量性的导致不良ic流入市场,产生严重后果,因此在测试厂,改机过程中如何进行防错防呆成了十分重要的一环。

2、ic芯片的ft测试环境通常由一台ate测试仪和handler分选机组成,其中handler分选机负责对芯片进行搬运及分类,ate测试仪负责对ic芯片进行测试,两者之间需要进行通讯才能配合完成整个测试。在常见ic封装形式中,sop、ssop、tssop类的产品占据着大量的市场。这类封装芯片通常使用重力式分选机进行测试,重力式分选机主要由于其结构带来的价格优势才能占据大量市场。同样由于价格较低,其配备的接口也相对简单,与ate测试仪通讯的接口也仅保留常规的ttl和rs232,由于rs232稳定性及兼容性不如ttl通讯,因此在测试厂实际量产过程中大量使用ttl作为ate与handler的通讯方式。

3、在现有技术中,重力式分选机与ate测试机的连接示意图如图1所示,芯片测试时ate测试仪和handler分选机的运作分工流程如图2所示。ic经过handler分选机运输至测试工位后,通过ttl发送开始信号到ate测试仪,触发ate测试仪进行测试;ate测试仪在测试完成后将芯片的测试结果(分bin结果)通过ttl再发送回handler分选机。handler分选机根据收到的bin信号,将被测ic进行分类,传送至不同的出料口,从而将ic的好坏或者档次进行分类。

4、为提高测试效率,ft测试通常并不是一颗芯片的测试,而是多颗芯片同时进行测试。handler分选机上会有多个测试工位,多颗芯片会同时测试以提高效率。同样,handler分选机上会为每个工位提供一个ttl通讯接口。在与ate测试仪连接时,通讯接口需要与测试工位一一对应,否则会导致handler分选机接收到错误的分bin信号,对应工位使用其它工位的分bin信息从而导致混料产生。现有技术中,ate测试仪和handler分选机的正确连接示例图如图3所示,ate测试仪和handler分选机的错误连接示例图如图4所示。

5、现有技术中,一种ate测试仪和handler分选机之间的连接示意图如图5所示,ate测试仪通常仅有一个ttl接口,每种型号的ate测试仪间ttl接口各不相同。handler分选机端通常根据工位数量留出对应数量的ttl接口,不同分选机间也存在不同。当ate测试仪与handler分选机之间连接时,需要制作专用线缆,从1个接口引线至4个接口,由于为非标准线缆,因此测试厂内基本靠手工焊接制作专用线缆,焊接过程中也极易出现焊接错误。专用连接线缆制作效率低,且易出错。多种设备相互连接时,需要根据组合情况制作不同线缆,易产生闲置,且易混用线缆,损坏设备。专用线缆使用时,由于handler分选机有多个接口,每次改机都需要连接多个接口,容易连接错误导致对应关系错误从而引起混料。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种ate接口标准通用线及其连接的ft测试系统,旨在改善使用专用线缆连接ate测试仪与handler分选机时,由于handler分选机有多个接口,每次改机都需要连接多个接口,容易连接错误导致对应关系错误从而引起混料的问题。

2、为了实现上述目的,根据本专利技术的第一方面,提供一种ate接口标准通用线,包括ate端转接pcb板和handler端转接pcb板,所述ate端转接pcb板电性连接有第一接口和第二接口,所述ate端转接pcb板将第一接口的信号引出至第二接口,所述第一接口与所要连接的ate测试仪的ttl接口类型一致,所述第一接口连接有第一标准通用电缆;所述handler端转接pcb板电性连接有一个第三接口和一个第四接口组,所述第四接口组具有多个独立接口,所述handler端转接pcb板将第三接口的信号引出至第四接口组的各独立接口,所述第三接口和第二接口的接口类型相同,且线序一致;所述第二接口和第三接口可拆卸相连;所述第四接口组的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆,所述独立接口的数量和类型与其所连接的handler分选机的ttl接口的数量和类型保持一致。

3、进一步的,还包括第三标准通用线缆,所述第三标准通用线缆与第二接口和第三接口相适配,所述第二接口和第三接口通过该第三标准通用线缆可拆卸相连。

4、进一步的,所述第二接口和第三接口使用同类型的公母接口可拆卸相连。

5、进一步地,所述第一标准通用电缆与第一接口和ate测试仪的ttl接口相适配。

6、进一步的,所述第二标准通用电缆与第四接口组的独立接口和handler分选机的ttl接口相适配。

7、进一步的,所述第四接口组包括四个独立接口,所述第四接口组连接的handler分选机具有四个ttl接口。

8、进一步地,所述ate端转接pcb板与ate测试仪型号一一对应,每种型号的ate测试仪对应一种ate端转接pcb板。

9、进一步地,所述handler端转接pcb板与handler分选机型号一一对应,每种handler分选机对应一种handler端转接pcb板。

10、根据本专利技术的第二方面,提供一种ft测试系统,包括ate测试仪和handler分选机,所述ate测试仪和handler分选机通过上述ate接口标准通用线相连。

11、进一步的,所述handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机。

12、与现有技术相比,本专利技术具有如下有益效果:

13、1、本专利技术可有效杜绝频繁改机过程中的ttl线缆工位接错问题,日常仅操作单一接口,不易出错,可有效防止多个接口间频繁插拔导致对应关系错误的问题,可有效避免混料问题的发生。

14、2、使用本专利技术所提供的技术方案进行多种不同ate测试仪和多种不同handler分选机的互联时,可减少定制线缆的数量

15、3、转接pcb板的制作更便捷,效率更高,更可靠,使用的标准通用线缆可大量采购,损坏维修替换也比专用线缆更容易,使得本专利技术具有制作和维护均更容易的优点。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种ATE接口标准通用线,其特征在于:包括ATE端转接PCB板(1)和Handl er端转接PCB板(2),所述ATE端转接PCB板(1)电性连接有第一接口(11)和第二接口(12),所述ATE端转接PCB板(1)将第一接口(11)的信号引出至第二接口(12),所述第一接口(11)与所要连接的ATE测试仪的TTL接口类型一致,所述第一接口(11)连接有第一标准通用电缆(3);所述Handler端转接PCB板(2)电性连接有一个第三接口(21)和一个第四接口组(22),所述第四接口组(22)具有多个独立接口,所述Handl er端转接PCB板(2)将第三接口(21)的信号引出至第四接口组(22)的各独立接口,所述第三接口(21)和第二接口(12)的接口类型相同,且线序一致;所述第二接口(12)和第三接口(21)可拆卸相连;所述第四接口组(22)的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆(4),所述独立接口的数量和类型与其所连接的Handl er分选机的TTL接口的数量和类型保持一致。

2.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:还包括第三标准通用线缆(5),所述第三标准通用线缆(5)与第二接口(12)和第三接口(21)相适配,所述第二接口(12)和第三接口(21)通过该第三标准通用线缆(5)可拆卸相连。

3.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第二接口(12)和第三接口(21)使用同类型的公母接口可拆卸相连。

4.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第一标准通用电缆(3)与第一接口(11)和ATE测试仪的TTL接口相适配。

5.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第二标准通用电缆(4)与第四接口组(22)的独立接口和Handler分选机的TTL接口相适配。

6.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述第四接口组(22)包括四个独立接口,所述第四接口组(22)连接的Handler分选机具有四个TTL接口。

7.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述ATE端转接PCB板(1)与ATE测试仪型号一一对应,每种型号的ATE测试仪对应一种ATE端转接PCB板。

8.根据权利要求1所述的一种ATE接口标准通用线,其特征在于:所述Handler端转接PCB板(2)与Handler分选机型号一一对应,每种Handler分选机对应一种Handler端转接PCB板(2)。

9.一种FT测试系统,包括ATE测试仪和Handl er分选机,其特征在于:所述ATE测试仪和Handler分选机通过权利要求1-8任意一项所述的ATE接口标准通用线相连。

10.根据权利要求9所述的一种FT测试系统,其特征在于:所述Handler分选机使用具有多个接口的重力式分选机。

...

【技术特征摘要】

1.一种ate接口标准通用线,其特征在于:包括ate端转接pcb板(1)和handl er端转接pcb板(2),所述ate端转接pcb板(1)电性连接有第一接口(11)和第二接口(12),所述ate端转接pcb板(1)将第一接口(11)的信号引出至第二接口(12),所述第一接口(11)与所要连接的ate测试仪的ttl接口类型一致,所述第一接口(11)连接有第一标准通用电缆(3);所述handler端转接pcb板(2)电性连接有一个第三接口(21)和一个第四接口组(22),所述第四接口组(22)具有多个独立接口,所述handl er端转接pcb板(2)将第三接口(21)的信号引出至第四接口组(22)的各独立接口,所述第三接口(21)和第二接口(12)的接口类型相同,且线序一致;所述第二接口(12)和第三接口(21)可拆卸相连;所述第四接口组(22)的各独立接口分别连接有一根第二标准通用线缆(4),所述独立接口的数量和类型与其所连接的handl er分选机的ttl接口的数量和类型保持一致。

2.根据权利要求1所述的一种ate接口标准通用线,其特征在于:还包括第三标准通用线缆(5),所述第三标准通用线缆(5)与第二接口(12)和第三接口(21)相适配,所述第二接口(12)和第三接口(21)通过该第三标准通用线缆(5)可拆卸相连。

3.根据权利要求1所述的一种ate接口标准通用线,其特征在于:所述第二接口(12)和第三接口(21...

【专利技术属性】
技术研发人员:欧纲王健付友良云星
申请(专利权)人:珠海芯试界半导体科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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