一种超薄纳米晶带材宽度检测装置制造方法及图纸

技术编号:40777030 阅读:8 留言:0更新日期:2024-03-25 20:22
本技术公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,包括壳体、宽度检测组件、供料机构和收料机构,所述宽度检测组件安装在壳体的内腔,所述宽度检测组件的一侧设置有供料机构,所述宽度检测组件远离供料机构的一侧设置有收料机构,所述宽度检测组件包括检测台、摄像头模组、支撑柱、伸缩杆、弹簧、底座、立柱、第一辊轮、第二辊轮、出风板和气泵。该超薄纳米晶带材宽度检测装置通过拍照时使纳米晶带材紧贴检测台表面,同时给予纳米晶带材较小的压力,既能有效的检测纳米晶带材的宽度,又能避免纳米晶带材倾斜,而导致检测纳米晶带材宽度结果不准确,同时在对纳米晶带材进行测量时,避免了破坏纳米晶带材的表面光滑度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及纳米晶带材生产制造,具体为一种超薄纳米晶带材宽度检测装置


技术介绍

1、纳米晶带材是一种具有超微晶结构的铁基软磁合金材料,具有高饱和磁感、高磁导率,低损耗等优异的软磁性能,广泛应用于电力电气,工业电源、新能源等领域,纳米晶带材在生产制造过程中,需要对长度、表面光滑度、厚度等进行测试调整,从而保证带材的品质。如申请号cn202121978728.3提供了一种纳米晶带材检测装置,传送带无需停止,能够持续进行纳米晶带材检测装置的检测,因检测台上包括透明玻璃板,相对设置的相机能够同时拍摄到纳米晶带材检测装置的正反两面,提高检测的准确性,传送滚轮及相机都能够自动运行,实现对纳米晶带材检测装置的自动检测,节约了人工成本且更加高效。

2、类似于上述一种纳米晶带材检测装置目前还存在以下不足:上述装置通过拍照的形式对纳米晶带材进行检测,从而节约了人工成本且更加高效,但是通过拍照检测纳米晶带材时,需要将镜头与纳米晶带材处于垂直角度,从而对纳米晶带材进行测量,避免因为纳米晶带材倾斜,而导致检测纳米晶带材宽度结果不准确,同时在对纳米晶带材进行测量时,避免破坏纳米晶带材的表面光滑度。

3、于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提出一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,以达到更具有实用价值的目的。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出准确测量纳米晶带材宽度的问题。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,包括壳体、宽度检测组件、供料机构和收料机构,所述宽度检测组件安装在壳体的内腔,所述宽度检测组件的一侧设置有供料机构,所述宽度检测组件远离供料机构的一侧设置有收料机构,所述宽度检测组件包括检测台和摄像头模组,所述检测台通过支撑柱与壳体内腔底端连接,所述支撑柱的内腔纵向设置有伸缩杆,且伸缩杆围绕设置有弹簧,所述伸缩杆的一端设置有底座,所述伸缩杆远离底座的一端设置有立柱,且立柱的一端设置有第一辊轮,所述检测台与第一辊轮的接触面设置有第二辊轮,所述检测台的下方设置有出风板,且出风板的下方设置有气泵。

3、进一步的,所述出风板的上端面设置有出风口,所述出风板的内部设置有通风管道,所述出风板的底端面设置有进风口,且进风口通过气管与气泵的输出端连接。

4、进一步的,所述供料机构包括供料电机和第一支撑板,所述第一支撑板设置有两组,且两组所述第一支撑板之间设置有供料电机,所述第一支撑板的一端设置有供料辊,且供料电机输出端的传动轴通过传动带与供料辊构成带传动结构。

5、进一步的,所述收料机构包括收料电机和第二支撑板,所述第二支撑板设置有两组,且两组所述第二支撑板之间设置有收料电机,所述第二支撑板的一端设置有收料辊,且收料电机输出端的传动轴通过传动带与收料辊构成带传动结构,所述第一支撑板和第二支撑板通过轴承分别与供料辊和收料辊构成围绕轴承中心转动的旋转结构。

6、进一步的,所述进风口通过通风管道与出风口构成连通结构,所述进风口通过气管与气泵构成连通结构。

7、进一步的,所述摄像头模组位于检测台的正上方,所述立柱和检测台通过轴承分别与第一辊轮和第二辊轮构成围绕轴承中心转动的旋转结构。

8、与现有技术相比,本技术的有益效果是:该超薄纳米晶带材宽度检测装置通过拍照检测纳米晶带材宽度,拍照时使纳米晶带材紧贴检测台表面,同时给予纳米晶带材较小的压力,既能有效的检测纳米晶带材的宽度,又能避免纳米晶带材倾斜,而导致检测纳米晶带材宽度结果不准确,同时在对纳米晶带材进行测量时,避免了破坏纳米晶带材的表面光滑度;

9、此装置将镜头与纳米晶带材始终处于垂直角度,以便减小测量误差,同时,通过供料机构和收料机构对纳米晶带材进行收卷,避免纳米晶带材在检测过程中过多的纳米晶带材进行检测;

10、此装置通过第一辊轮和第二辊轮将纳米晶带材贴向检测台,而且通过伸缩杆和弹簧适应不同厚度和不同宽度的纳米晶带材,同时,出风板向纳米晶带材进行吹风,使纳米晶带材进一步贴近检测台,并且在检测过程中,能有效的避免因为摩擦而破坏纳米晶带材的表面光滑度。

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【技术保护点】

1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,包括壳体(1)、宽度检测组件(2)、供料机构(3)和收料机构(4),其特征在于:所述宽度检测组件(2)安装在壳体(1)的内腔,所述宽度检测组件(2)的一侧设置有供料机构(3),所述宽度检测组件(2)远离供料机构(3)的一侧设置有收料机构(4),所述宽度检测组件(2)包括检测台(201)和摄像头模组(202),所述检测台(201)通过支撑柱(203)与壳体(1)内腔底端连接,所述支撑柱(203)的内腔纵向设置有伸缩杆(204),且伸缩杆(204)围绕设置有弹簧(205),所述伸缩杆(204)的一端设置有底座(206),所述伸缩杆(204)远离底座(206)的一端设置有立柱(207),且立柱(207)的一端设置有第一辊轮(208),所述检测台(201)与第一辊轮(208)的接触面设置有第二辊轮(209),所述检测台(201)的下方设置有出风板(2010),且出风板(2010)的下方设置有气泵(2011)。

2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述出风板(2010)的上端面设置有出风口(20101),所述出风板(2010)的内部设置有通风管道(20102),所述出风板(2010)的底端面设置有进风口(20103),且进风口(20103)通过气管与气泵(2011)的输出端连接。

3.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述供料机构(3)包括供料电机(301)和第一支撑板(302),所述第一支撑板(302)设置有两组,且两组所述第一支撑板(302)之间设置有供料电机(301),所述第一支撑板(302)的一端设置有供料辊(303),且供料电机(301)输出端的传动轴通过传动带与供料辊(303)构成带传动结构。

4.根据权利要求3所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述收料机构(4)包括收料电机(401)和第二支撑板(402),所述第二支撑板(402)设置有两组,且两组所述第二支撑板(402)之间设置有收料电机(401),所述第二支撑板(402)的一端设置有收料辊(403),且收料电机(401)输出端的传动轴通过传动带与收料辊(403)构成带传动结构,所述第一支撑板(302)和第二支撑板(402)通过轴承分别与供料辊(303)和收料辊(403)构成围绕轴承中心转动的旋转结构。

5.根据权利要求2所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述进风口(20103)通过通风管道(20102)与出风口(20101)构成连通结构,所述进风口(20103)通过气管与气泵(2011)构成连通结构。

6.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述摄像头模组(202)位于检测台(201)的正上方,所述立柱(207)和检测台(201)通过轴承分别与第一辊轮(208)和第二辊轮(209)构成围绕轴承中心转动的旋转结构。

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【技术特征摘要】

1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,包括壳体(1)、宽度检测组件(2)、供料机构(3)和收料机构(4),其特征在于:所述宽度检测组件(2)安装在壳体(1)的内腔,所述宽度检测组件(2)的一侧设置有供料机构(3),所述宽度检测组件(2)远离供料机构(3)的一侧设置有收料机构(4),所述宽度检测组件(2)包括检测台(201)和摄像头模组(202),所述检测台(201)通过支撑柱(203)与壳体(1)内腔底端连接,所述支撑柱(203)的内腔纵向设置有伸缩杆(204),且伸缩杆(204)围绕设置有弹簧(205),所述伸缩杆(204)的一端设置有底座(206),所述伸缩杆(204)远离底座(206)的一端设置有立柱(207),且立柱(207)的一端设置有第一辊轮(208),所述检测台(201)与第一辊轮(208)的接触面设置有第二辊轮(209),所述检测台(201)的下方设置有出风板(2010),且出风板(2010)的下方设置有气泵(2011)。

2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述出风板(2010)的上端面设置有出风口(20101),所述出风板(2010)的内部设置有通风管道(20102),所述出风板(2010)的底端面设置有进风口(20103),且进风口(20103)通过气管与气泵(2011)的输出端连接。

3.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材宽度检测装置,其特征在于:所述供料机构(3...

【专利技术属性】
技术研发人员:谷胜吴登钱江向荣江沐风
申请(专利权)人:上海天新纳米技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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