【技术实现步骤摘要】
本申请涉及成像测试，特别涉及一种tof芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、tof芯片(time of flight chip)又称tof传感器芯片，是用于实现飞行时间技术(time of flight technology)的芯片。tof芯片包括光源、接收器、模拟前端电路、数字化电路和处理器等组件。
2、随着tof芯片的应用范围越来越广，用户对tof芯片的性能以及分辨率和大面阵的要求也越来越高，这就直接导致tof芯片设计越复杂，而且在某些应用场景需要大视场角，设计的面阵也越大。复杂的tof芯片设计对整个芯片的系统验证就提出了更高挑战，尤其是面阵很大时，很难验证每个像素之间是否存在相互影响的情况。
3、因此，如何提高对tof芯片灰度成像功能的验证精度是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种tof芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，能够提高对tof芯片灰度成像功能的验证精度。
2、为解决上述技术问题，本申请提供一种tof芯片的功能验证方法，该功能验证方法包括：
3、将原始灰度图中每一像素转换生成对应的目标数组；其中，所述目标数组用于记录对应像素的实际灰度值、坐标值和像素开关标志；
4、根据tof芯片的扫描方式确定当前扫描探测区域，并将所述当前扫描探测区域对应的目标数组的像素开关标志设置为开启状态，将其他目标数组的像素开关标志设置为关闭状态；其中，所述
5、控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，并将所述当前像素触发信号发送至所述tof芯片，以使所述tof芯片根据所述当前像素触发信号生成所述当前扫描探测区域对应的芯片处理结果；
6、解析所述tof芯片生成的芯片处理结果，得到所述当前扫描探测区域中每一像素的采集灰度值和坐标值；
7、在所述tof芯片扫描完毕后，根据所有所述像素的采集灰度值和坐标值生成芯片成像图；
8、将所述原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述tof芯片的灰度成像功能验证结果。
9、可选的，所述控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，包括：
10、根据所述目标数组中的坐标值和像素开关标志确定像素触发位置；
11、根据所述目标数组中的实际灰度值确定所述像素触发位置的像素触发次数；
12、控制所述spad触发模型在所述像素触发位置按照所述像素触发次数生成所述当前像素触发信号。
13、可选的，根据所述目标数组中的坐标值和像素开关标志确定像素触发位置，包括：
14、将所述像素开关标志处于开启状态的目标数组中的坐标值设置为所述像素触发位置。
15、可选的，在控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号之后，还包括：
16、将所述当前像素触发信号发送至tof芯片参考模型，以使所述tof芯片参考模型根据所述当前像素触发信号生成所述当前扫描探测区域对应的标准处理结果；
17、相应的，在所述tof芯片根据所述当前像素触发信号生成所述当前扫描探测区域对应的芯片处理结果之后，还包括：
18、利用所述标准处理结果判断所述tof芯片的灰度成像功能是否异常。
19、可选的，利用所述标准处理结果判断所述tof芯片的灰度成像功能是否异常，包括：
20、将所述当前扫描探测区域对应的所述标准处理结果与所述芯片处理结果进行数据比对，得到数据比对结果；
21、将所述数据比对结果与预设结果进行比较，以便判断所述tof芯片的灰度成像功能是否异常。
22、可选的，在利用所述标准处理结果判断所述tof芯片的灰度成像功能是否异常之后，还包括：
23、若根据所述数据比对结果判定所述tof芯片的灰度成像功能存在异常，则结束对所述tof芯片的功能验证流程，并生成所述tof芯片的灰度成像功能异常的验证结果。
24、可选的，在将所述当前像素触发信号发送至tof芯片参考模型之前，还包括：
25、根据所述tof芯片的芯片型号确定芯片功能；
26、将具备所有所述芯片功能的算法模型设置为所述tof芯片参考模型。
27、本申请还提供了一种tof芯片的功能验证系统，该系统包括：
28、数组转换模块，用于将原始灰度图中每一像素转换生成对应的目标数组；其中，所述目标数组用于记录对应像素的实际灰度值、坐标值和像素开关标志；
29、标志设置模块，用于根据tof芯片的扫描方式确定当前扫描探测区域，并将所述当前扫描探测区域对应的目标数组的像素开关标志设置为开启状态，将其他目标数组的像素开关标志设置为关闭状态；其中，所述tof芯片的当前工作模式为灰度模式；
30、触发模块，用于控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，并将所述当前像素触发信号发送至所述tof芯片，以使所述tof芯片根据所述当前像素触发信号生成所述当前扫描探测区域对应的芯片处理结果；
31、数据处理模块，用于解析所述tof芯片生成的芯片处理结果，得到所述当前扫描探测区域中每一像素的采集灰度值和坐标值；
32、成像模块，用于在所述tof芯片扫描完毕后，根据所有所述像素的采集灰度值和坐标值生成芯片成像图；
33、图像比较模块，用于将所述原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述tof芯片的灰度成像功能验证结果。
34、本申请还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现上述tof芯片的功能验证方法执行的步骤。
35、本申请还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器调用所述存储器中的计算机程序时实现上述tof芯片的功能验证方法执行的步骤。
36、本申请提供了一种tof芯片的功能验证方法，包括：将原始灰度图中每一像素转换生成对应的目标数组；其中，所述目标数组用于记录对应像素的实际灰度值、坐标值和像素开关标志；根据tof芯片的扫描方式确定当前扫描探测区域，并将所述当前扫描探测区域对应的目标数组的像素开关标志设置为开启状态，将其他目标数组的像素开关标志设置为关闭状态；其中，所述tof芯片的当前工作模式为灰度模式；控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，并将所述当前像素触发信号发送至所述tof芯片，以使所述tof芯片根据所述当前像素触发信号生成所述当前扫描探测区域对应的芯片处理结果；解析所述tof芯片生成的芯片处理结果，得到所述当前扫描探测区域中每一像素的采集灰度值和坐标值；在所述tof芯片扫描完毕后，根据所有所述像素的采集灰度值和坐标值生成芯片成像图；将所述原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述tof芯片的灰度成像功能本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，所述控制SPAD触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，包括：
3.根据权利要求2所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，根据所述目标数组中的坐标值和像素开关标志确定像素触发位置，包括：
4.根据权利要求1所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，在控制SPAD触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号之后，还包括：
5.根据权利要求4所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，利用所述标准处理结果判断所述TOF芯片的灰度成像功能是否异常，包括：
6.根据权利要求5所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，在利用所述标准处理结果判断所述TOF芯片的灰度成像功能是否异常之后，还包括：
7.根据权利要求4所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，在将所述当前像素触发信号发送至TOF芯片参考模型之前，还包括：
8.一种TOF芯片的功能验证系统，其特征在于，包括：
9.一种
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器加载并执行时，实现如权利要求1至7任一项所述TOF芯片的功能验证方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种tof芯片的功能验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，所述控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号，包括：
3.根据权利要求2所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，根据所述目标数组中的坐标值和像素开关标志确定像素触发位置，包括：
4.根据权利要求1所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，在控制spad触发模型根据所述目标数组生成当前像素触发信号之后，还包括：
5.根据权利要求4所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，利用所述标准处理结果判断所述tof芯片的灰度成像功能是否异常，包括：
6.根据权利要求5所述tof芯片的功能验证方...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨东，张超，
申请(专利权)人：深圳市灵明光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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