【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及工业视觉自动化检测，尤其涉及一种隔膜检测中的寻边方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、随着锂电相关技术迎来高速发展，锂电池隔膜的缺陷检测对锂电池的质量至关重要。隔膜检测可以是基于高速线扫描相机的机器视觉检测技术，通过获取隔膜的成像，对隔膜进行检测。在对隔膜进行检测之前，需要准确获取膜面范围，即机器视觉领域常提到的roi（region of interest）。在相关技术方案中，会先获取相机成像下的实时灰度曲线，然后查看该曲线灰度跳变的位置，来手动设置膜面起始范围，存在明显的效率低下的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述问题，提出了一种隔膜检测中的寻边方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。
2、在本专利技术的第一部分，提供了一种隔膜检测中的寻边方法，所述方法包括：
3、通过摄像装置采集的待检测隔膜的第一图像，所述摄像装置为高速线扫描相机；
4、对所述第一图像按照预设的采样比例进行采样，以得到第二图像；
5、对所述第二图像进行二值化处理或反二值化处理，以得到第三图像，根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜；
6、计算第三图像中每列像素的灰度均值，根据相邻列像素的灰度均值的差值确定灰度跳变的位置；
7、根据灰度跳变的位置确定待检测隔膜的检测范围。
8、可选的，所述通过摄像装置采集的待检测隔膜的第一图像的步骤之前，还包括：
9、可选的，所述对所述第二图像进行二值化处理或反二值化处理，以得到第三图像的步骤，还包括：根据确定的图像采集视场来决定用二值化处理或是反二值化处理进行图像处理；其中，若确定的图像采集视场是透射场用二值化处理的方式，若确定的图像采集视场是反射场用反二值化处理的方式；利用第一灰度阈值对第二图像进行二值化处理或反二值化处理得到第三图像。可选的，所述根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜的步骤，还包括：在第三图像中进行轮廓查找操作，以确定所述第三图像中的最大轮廓；确定所述最大轮廓对应的最大外接矩阵；若该最大外接矩阵存在，则确定所述第三图像中存在隔膜；若该最大外接矩阵存在，则确定所述第三图像中不存在隔膜。
10、可选的，所述计算第三图像中每列像素的灰度均值，根据相邻列像素的灰度均值的差值确定灰度跳变的位置的步骤，包括：针对第三图像中每列像素的灰度均值，生成灰度均值向量；对所述灰度均值向量进行查找，确定相邻的灰度均值之间的差值的绝对值是否大于预设的第二灰度阈值的灰度均值，根据该灰度均值的位置确定灰度跳变的位置。
11、可选的，所述对所述灰度均值向量进行查找，确定相邻的灰度均值之间的差值的绝对值是否大于预设的第二灰度阈值的灰度均值，根据该灰度均值的位置确定灰度跳变的位置的步骤，还包括：对灰度均值向量进行查找；当，将的位置作为第一跳变位置，记为；当，将的位置作为第二跳变位置，记为；所述根据灰度跳变的位置确定待检测隔膜的检测范围的步骤，还包括：将作为待检测隔膜的检测范围；其中，为第一目标图像的宽度，为第二灰度阈值。
12、可选的，所述摄像装置的数量为多个；所述根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜的步骤，还包括：根据每一个摄像装置对应的第三图像中是否存在最大轮廓对应的最大外接矩阵，确定每一个摄像装置对应的第三图像中是否存在隔膜；确定存在隔膜的多个摄像装置中的第一摄像装置和第二摄像装置，所述第一摄像装置和第二摄像装置为所述存在隔膜的多个摄像装置中的左右两侧的摄像装置；所述对所述灰度均值向量进行查找，确定相邻的灰度均值之间的差值的绝对值是否大于预设的第二灰度阈值的灰度均值，根据该灰度均值的位置确定灰度跳变的位置的步骤，还包括：在第一摄像装置对应的灰度均值向量中，确定第一跳变位置；在第二摄像装置对应的灰度均值向量中，确定第二跳变位置。
13、在本专利技术的第二部分，提供了一种隔膜检测中的寻边装置，所述装置包括：
14、图像获取模块，用于通过摄像装置采集的待检测隔膜的第一图像，所述摄像装置为高速线扫描相机；
15、降采样模块，用于对所述第一图像按照预设的采样比例进行采样，以得到第二图像；
16、隔膜确定模块，用于对所述第二图像进行二值化处理，以得到第三图像，根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜；
17、灰度跳变位置计算模块，用于计算第三图像中每列像素的灰度均值，根据相邻列像素的灰度均值的差值确定灰度跳变的位置；
18、边位置输出模块，用于根据灰度跳变的位置确定待检测隔膜的检测范围。
19、在本专利技术的第三部分，提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器有可执行代码，当所述可执行代码在所述处理器上运行以实现如前所述的隔膜检测中的寻边方法。
20、在本专利技术的第三部分，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序用于执行如前所述的隔膜检测中的寻边方法。
21、采用本专利技术实施例，具有如下有益效果：
22、采用了上述隔膜检测中的寻边方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质之后，在需要对隔膜进行缺陷检测的过程中，需要确定隔膜的边，这时通过采集第一图像，然后按照预设的采样比例进行采样，以得到第二图像；对所述第二图像进行二值化处理，以得到第三图像，根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜；计算第三图像中每列像素的灰度均值，根据相邻列像素的灰度均值的差值确定灰度跳变的位置；根据灰度跳变的位置确定待检测隔膜的检测范围，可以针对不同的区域进行分块采样，避免隔膜的摆动带来的影响，提高隔膜边界查找的准确性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述通过摄像装置采集的待检测隔膜的第一图像的步骤之前，还包括：
3.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述对所述第一图像按照预设的采样比例进行采样，以得到第二图像的步骤，还包括：
4.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述对所述第二图像进行二值化处理或反二值化处理，以得到第三图像的步骤，还包括：
5.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜的步骤，还包括：
6.根据权利要求5所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述计算第三图像中每列像素的灰度均值，根据相邻列像素的灰度均值的差值确定灰度跳变的位置的步骤，包括：
7.根据权利要求6所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述对所述灰度均值向量进行查找，确定相邻的灰度均值之间的差值的绝对值是否大于预设的第二灰度阈值的灰度
8.根据权利要求7所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述摄像装置的数量为多个；
9.一种隔膜检测中的寻边装置，其特征在于，所述装置包括：
10.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器有可执行代码，当所述可执行代码在所述处理器上运行以实现如权利要求1至8任一所述的隔膜检测中的寻边方法。
...【技术特征摘要】
1.一种隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述通过摄像装置采集的待检测隔膜的第一图像的步骤之前，还包括：
3.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述对所述第一图像按照预设的采样比例进行采样，以得到第二图像的步骤，还包括：
4.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述对所述第二图像进行二值化处理或反二值化处理，以得到第三图像的步骤，还包括：
5.根据权利要求1所述的隔膜检测中的寻边方法，其特征在于，所述根据第三图像中存在最大轮廓对应的最大外接矩阵确定所述第三图像中存在隔膜的步骤，还包括：
6.根据权利要求5所述的隔膜检测中的寻边方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：游威，汤锋，周凯，
申请(专利权)人：深圳新视智科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。