System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种寄存器bit bash测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸_技高网

一种寄存器bit bash测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:40738129 阅读:7 留言:0更新日期:2024-03-25 19:59
本发明专利技术公开了一种寄存器bit bash测试方法、装置、设备及介质,属于数据处理领域,本发明专利技术设计了新的bit bash测试方案,采用二分法,用特殊的测试序列对待测寄存器进行读写,利用较少的测试次数实现对待测寄存器所有bit的测试,并对多个待测寄存器采用随机顺序测试,进一步测试多个待测寄存器之间的独立性,缩短仿真验证时间,从而提高验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开实施例涉及数据处理领域,具体地涉及一种寄存器bit bash测试方法、装置、设备及介质。


技术介绍

1、在soc验证中,寄存器测试(ral test)是非常重要的一项工作,若寄存器访问路径不通,整个soc将无法实现其预期的功能。通常ral test包含4个sequence:hard resettest,access test,bit bash test,randomize access test。

2、通常bit bash测试(bit bash test)都是直接采用uvm提供的sequence,是对寄存器的每个bit(位)进行读,取反写入,再读的方式进行验证,这种方案的缺陷很明显,在大一点的soc中,仿真时间会非常长(可能要一周甚至更长),严重影响验证效率,会明显拖累项目进度。如何改善这种状况,成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种嵌入式总线上错误数据重传方法、系统、介质及设备,以便于至少部分地解决上述问题。

2、根据本公开的一个方面,提出一种寄存器bit bash测试方法,包括:

3、获取待测寄存器的位数n,

4、基于位数n,对待测寄存器分段进行读写测试,具体为:

5、将待测寄存器基于位数n多次分别平均分为[2,4,..,n/2]个分段,

6、每次分段后,分别对该次分段的奇数段和偶数段分别写入不同值,并读回,并验证分段之间的影响,其中n>0。

7、在一些实施例中,该方法还包括,对多个待测寄存器按随机顺序进行读写测试。

8、在一些实施例中,该方法还包括,对多个所述待测寄存器按随机顺序进行读写测试具体为,

9、多个待测寄存器随机存储在数组中,遍历多个所述待测寄存器,每次读写操作一个待测寄存器,并验证对前一待测寄存器的读写操作是否改变下一待测寄存器的值。

10、在一些实施例中,该方法还包括,所述待测寄存器是可读可写寄存器。

11、根据本公开的另一个方面,提出一种寄存器bit bash测试装置,包括:

12、获取模块,用于获取待测寄存器的位数n,

13、第一测试模块,用于基于所述位数n,对待测寄存器分段进行读写测试,具体为:

14、将待测寄存器基于所述位数n多次分别平均分为[2,4,..,n/2]个分段,

15、每次分段后,分别对该次分段的奇数段和偶数段分别写入不同值,并读回,并验证分段之间的影响,其中n>0。

16、在一些实施例中,该装置还包括,第二测试模块,用于对多个待测寄存器按随机顺序进行读写测试。

17、在一些实施例中,该装置还包括,用于对多个待测寄存器按随机顺序进行读写测试具体为,

18、多个待测寄存器随机存储在数组中,遍历多个所述待测寄存器,每次读写操作一个待测寄存器,并验证对前一待测寄存器的读写操作是否改变下一待测寄存器的值。

19、在一些实施例中,该装置还包括,待测寄存器是可读可写寄存器。

20、本申请实施例还提供一种电子设备,所述电子设备包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序,执行如上任一实施例方法中的步骤。

21、本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器运行时执行如上任一实施例方法中的步骤。

22、本公开实施例提供的一种寄存器bit bash测试方法、装置、设备及介质,设计了新的bit bash测试方案,本公开采用二分法,用特殊的测试序列对待测寄存器进行读写,利用较少的测试次数实现对待测寄存器所有bit的测试,并对多个待测寄存器采用随机顺序测试,进一步测试多个待测寄存器之间的独立性,缩短仿真验证时间,从而提高验证效率。

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【技术保护点】

1.一种寄存器bit bash测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于:

5.一种寄存器bit bash测试装置,其特征在于,所述装置包括:

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

8.根据权利要求5-7任一项所述的装置,其特征在于:

9.一种电子设备,其特征在于:包括存储有可执行程序代码的存储器以及与所述存储器耦合的处理器;其中,所述处理器调用所述存储器中存储的可执行程序代码,执行如权利要求1-4任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-4任一项所述的方法。

【技术特征摘要】

1.一种寄存器bit bash测试方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于:

5.一种寄存器bit bash测试装置,其特征在于,所述装置包括:

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

7.根据权利要求6所述的装...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡学莹
申请(专利权)人:沐曦科技成都有限公司
类型:发明
国别省市:

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