【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电流探针测试，具体为一种使用大电流探针测试模块。
技术介绍
1、目前市场上大电流测试方案操作繁琐，手动安装对准，不能进行自动化测试；效率低下，不能对多端口、端面同时进行测试；且测试良率低，测试性能不够稳定，测试结果重复性差，其原因是由于各种测试方式载流值不达标，且使用单根铜柱进行测试的话，所需截面积较大，浪费空间。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种使用大电流探针测试模块，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种使用大电流探针测试模块，包括导电铜柱和大电流测试探针，所述导电铜柱顶部中间开设有第一内螺纹孔，所述导电铜柱底部表面均匀开设有若干个安装定位孔，若干个所述安装定位孔内腔顶部设置有第二内螺纹孔，所述安装定位孔内安装有大电流试探针；
3、所述大电流试探针包括插合柱、探针头和连接螺纹柱，所述插合柱顶端设置有探针头，所述插合柱底端连接有连接螺纹柱。
4、优选的，所述导电铜柱为长方体，所述导电铜柱通过第一内螺纹孔与固定面相螺纹固定连接。
5、优选的，所述插合柱与安装定位孔相插合连接，所述连接螺纹柱与第二内螺纹孔相螺纹固定连接。
6、优选的，所述探针头通过固定连接套与探针头相连接，所述探针头设置有弹性行程。
7、优选的，所述探针头凸出导电铜柱的底部表面，且探针头为平头型，所述探针头一端与测试端面相贴合连接。
8、优选的，所述大电流测试探针最大负载
9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术采用大电流测试探针与导电铜柱配合第二螺纹孔拆卸更换便捷，安装定位孔使得大电流测试探针能够准确地对准需要测试的端面，达到良好接触的目的；为方便将测试模组固定到治具，导电铜柱的后端配备内第一内螺纹孔，以做到紧固作用，又可以方便拆卸保养；同时多个大电流测试探针拥有弹性行程，起到保护测试端面的作用，并且一只探针所拥有的负载电流为100安培，极大限度的给到测试端面一个安全且稳定的电流值保障；大电流测试探针的针头为平头型，经过测试，该结构与其他结构相比，可以保证大电流测试探针接触被测物时不仅可以全部接触到，而且不会损坏端面，造成一些不必要的磨损，并且由于大电流测试探针的镀金层大于1.3微米，大电流测试探针的导电效果与载流能力远远大于导电铜柱。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种使用大电流探针测试模块，包括导电铜柱(1)和大电流测试探针(2)，其特征在于：所述导电铜柱(1)顶部中间开设有第一内螺纹孔(3)，所述导电铜柱(1)底部表面均匀开设有若干个安装定位孔(4)，若干个所述安装定位孔(4)内腔顶部设置有第二内螺纹孔(9)，所述安装定位孔(4)内安装有大电流测试探针(2)；
2.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述导电铜柱(1)为长方体，所述导电铜柱(1)通过第一内螺纹孔(3)与固定面相螺纹固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述插合柱(5)与安装定位孔(4)相插合连接，所述连接螺纹柱(8)与第二内螺纹孔(9)相螺纹固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述探针头(6)通过固定连接套(7)与探针头(6)相连接，所述探针头(6)设置有弹性行程。
5.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述探针头(6)凸出导电铜柱(1)的底部表面，且探针头(6)为平头型，所述探针头(6)一端
6.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述大电流测试探针(2)最大负载电流为100安培，所述大电流测试探针(2)表面镀金，且镀金层厚度大于1.3微米。
...【技术特征摘要】
1.一种使用大电流探针测试模块，包括导电铜柱(1)和大电流测试探针(2)，其特征在于：所述导电铜柱(1)顶部中间开设有第一内螺纹孔(3)，所述导电铜柱(1)底部表面均匀开设有若干个安装定位孔(4)，若干个所述安装定位孔(4)内腔顶部设置有第二内螺纹孔(9)，所述安装定位孔(4)内安装有大电流测试探针(2)；
2.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述导电铜柱(1)为长方体，所述导电铜柱(1)通过第一内螺纹孔(3)与固定面相螺纹固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种使用大电流探针测试模块，其特征在于：所述插合柱(5)与安装定位孔(4)相插合连接，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐灏，黄绍伟，张月良，
申请(专利权)人：上海键洋电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。