一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台、调节组件，所述测试台外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机、滚珠丝杆、限位滑杆和第一滑块，所述测试台外壁侧面安装有第一电机，所述第一电机外壁侧面安装有第一转轴，所述第一转轴外壁套装有滚珠丝杆，所述测试台内壁侧面安装有限位滑杆，所述滚珠丝杆外壁套装有第一滑块，且第一滑块套装在限位滑杆外壁。本技术通过安装有测试台、调节组件，实现了对正负测试块的间距调节功能，解决了正负测试块间距不能调节因此需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏的问题，提高半导体分立器件使用寿命。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及耐压测试装置，具体为一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置。

技术介绍

1、耐压测试，狭义来说是介质耐压测试，是在相互绝缘的部件或某个独立部件与地之间施加并持续一段时间的电压，目的是证明材料能在额定电压或由于开关、电弧等类似现象而引起的瞬间过电压情况下能安全地工作，在半导体分立器件的耐压测试中需要使用专门的耐压测试装置，但现有的耐压测试装置不能对正负测试块间距进行调节，导致需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏的问题。

2、专利文件cn215833537u公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，其公开了“本技术公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括耐压测试装置主体，所述耐压测试装置主体的前端外表面固定连接耐压测试装置控制区，所述耐压测试装置主体的前端外表面固定连接耐压测试装置数据显示区，所述耐压测试装置控制区位于耐压测试装置数据显示区的一端，所述耐压测试装置主体的两端外表面固定连接便携机构，所述多功能垫的下端外表面固定连接多功能垫。本技术所述的一种半导体分立器件的耐压测试装置，通过设置的便携机构方便将耐压测试装置携带，并进行移动，通过设置的多功能垫让耐压测试装置的底端始终带有绝缘垫，且多功能垫具有防滑效果，可以增加耐压测试装置的稳定性，带来了更好的使用前景”。

3、综上所述，上述专利通过安装有便携机构、绝缘垫和多功能垫，实现了增加耐压测试装置的稳定性，带来了更好的使用前景，但上述专利不能对正负测试块间距进行调节，导致需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏的问题；

4、为此，本申请提出了一种能对正负测试块间距进行调节的安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的不能对正负测试块间距进行调节，导致需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏技术问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台、调节组件，所述测试台外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机、滚珠丝杆、限位滑杆和第一滑块，所述测试台外壁侧面安装有第一电机，所述第一电机外壁侧面安装有第一转轴，所述第一转轴外壁套装有滚珠丝杆，所述测试台内壁侧面安装有限位滑杆，所述滚珠丝杆外壁套装有第一滑块，且第一滑块套装在限位滑杆外壁。

3、优选的，所述第一滑块外壁顶部安装有正极测试块，正极测试块外壁顶部开设有正极插孔。

4、优选的，所述滚珠丝杆外壁套装有第二滑块，且第二滑块套装在限位滑杆外壁，第二滑块外壁顶部安装有负极测试块，负极测试块外壁顶部开设有负极插孔。

5、优选的，所述测试台外壁正面安装有冷却风筒，测试台外壁正面安装有第二电机，第二电机外壁安装有第二转轴，第二转轴外壁安装有冷却风扇。

6、优选的，所述测试台内壁背面安装有耐压测试处理器，测试台内壁侧面安装有活动杆，活动杆外壁套装有显示屏，耐压测试处理器外壁顶部安装有信号线，且信号线与显示屏连接。

7、优选的，所述正极测试块和负极测试块外壁背面均安装有电源线，且电源线与耐压测试处理器连接，测试台外壁顶部安装有电子控制器。

8、优选的，所述测试台外壁底部安装有支撑腿，测试台内壁侧面开设有安装槽，安装槽内壁安装有补光灯。

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

10、1.本技术通过安装有测试台、调节组件，所述测试台外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机、滚珠丝杆、限位滑杆和第一滑块，所述测试台外壁侧面安装有第一电机，所述第一电机外壁侧面安装有第一转轴，所述第一转轴外壁套装有滚珠丝杆，所述测试台内壁侧面安装有限位滑杆，所述滚珠丝杆外壁套装有第一滑块，且第一滑块套装在限位滑杆外壁，实现了对正负测试块的间距调节功能，解决了正负测试块间距不能调节因此需要人工扳动半导体分立器件引脚改变间距导致半导体分立器件损坏的问题，提高半导体分立器件使用寿命；

11、2.本技术通过安装有冷却风筒、第二电机和冷却风扇，所述测试台外壁正面安装有冷却风筒，测试台外壁正面安装有第二电机，第二电机外壁安装有第二转轴，第二转轴外壁安装有冷却风扇，实现了对半导体分立器件耐压测试后的降温功能，解决了半导体分立器件耐压测试后引脚高温不退半导体分立器件互相触碰导致烫损的问题，降低半导体分立器件损坏率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台(1)、调节组件，其特征在于：所述测试台(1)外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机(5)、滚珠丝杆(502)、限位滑杆(503)和第一滑块(504)，所述测试台(1)外壁侧面安装有第一电机(5)，所述第一电机(5)外壁侧面安装有第一转轴(501)，所述第一转轴(501)外壁套装有滚珠丝杆(502)，所述测试台(1)内壁侧面安装有限位滑杆(503)，所述滚珠丝杆(502)外壁套装有第一滑块(504)，且第一滑块(504)套装在限位滑杆(503)外壁。

2.根据权利要求1所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述第一滑块(504)外壁顶部安装有正极测试块(505)，正极测试块(505)外壁顶部开设有正极插孔(506)。

3.根据权利要求1所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述滚珠丝杆(502)外壁套装有第二滑块(507)，且第二滑块(507)套装在限位滑杆(503)外壁，第二滑块(507)外壁顶部安装有负极测试块(508)，负极测试块(508)外壁顶部开设有负极插孔(509)。

4.根据权利要求1所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述测试台(1)外壁正面安装有冷却风筒(7)，测试台(1)外壁正面安装有第二电机(6)，第二电机(6)外壁安装有第二转轴(601)，第二转轴(601)外壁安装有冷却风扇(602)。

5.根据权利要求4所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述测试台(1)内壁背面安装有耐压测试处理器(3)，测试台(1)内壁侧面安装有活动杆(401)，活动杆(401)外壁套装有显示屏(4)，耐压测试处理器(3)外壁顶部安装有信号线(301)，且信号线(301)与显示屏(4)连接。

6.根据权利要求2所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述正极测试块(505)和负极测试块(508)外壁背面均安装有电源线(302)，且电源线(302)与耐压测试处理器(3)连接，测试台(1)外壁顶部安装有电子控制器(2)。

7.根据权利要求5所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述测试台(1)外壁底部安装有支撑腿(101)，测试台(1)内壁侧面开设有安装槽(102)，安装槽(102)内壁安装有补光灯(103)。

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【技术特征摘要】

1.一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试台(1)、调节组件，其特征在于：所述测试台(1)外壁安装有调节组件，所述调节组件包括：第一电机(5)、滚珠丝杆(502)、限位滑杆(503)和第一滑块(504)，所述测试台(1)外壁侧面安装有第一电机(5)，所述第一电机(5)外壁侧面安装有第一转轴(501)，所述第一转轴(501)外壁套装有滚珠丝杆(502)，所述测试台(1)内壁侧面安装有限位滑杆(503)，所述滚珠丝杆(502)外壁套装有第一滑块(504)，且第一滑块(504)套装在限位滑杆(503)外壁。

2.根据权利要求1所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述第一滑块(504)外壁顶部安装有正极测试块(505)，正极测试块(505)外壁顶部开设有正极插孔(506)。

3.根据权利要求1所述的一种安全性高的半导体分立器件的耐压测试装置，其特征在于：所述滚珠丝杆(502)外壁套装有第二滑块(507)，且第二滑块(507)套装在限位滑杆(503)外壁，第二滑块(507)外壁顶部安装有负极测试块(508)，负极测试块(508)外壁顶部开设有负极插孔(509)。

4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕肖磊，
申请(专利权)人：西安翰源辰芯半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：