【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及模拟器件的通用测试，具体涉及一种模拟器件的通用测试装置。
技术介绍
1、模拟器件是对模拟信号进行处理的（元）器件，第三方检测实验室在使用通用仪器完成对模拟器件测试时，往往面临两个问题，一是对模拟器件进行测试时往往需要搭建一些典型的测试电路，如果对同一类器件不同型号的器件进行测试都去搭建一套硬件，往往会增加成本和测试周期；二是在使用通用仪器对模拟器件进行测试时，想要完成更多、更全面的参数测试，就需要使用大量继电器完成，对于继电器的控制还需要支持上位机在线控制。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种模拟器件的通用测试装置，能通过上位机（如主控电路）在线控制继电器网络，完成更多参数的测试，又设计了一些典型的测试电路，使用的器件相对较少，可以减少硬件使用成本。
2、本说明书实施例公开了一种模拟器件的通用测试装置，包括：
3、主控电路；
4、继电器控制电路，与所述主控电路连接；
5、转接电路，与所述继电器控制电路连接；
6、功率输入输出电路，与所述转接电路连接；
7、运放环电路、时间测量辅助电路、地端电流测试电路和输出电流测试电路，分别与所述继电器控制电路连接；
8、其中，所述运放环电路、时间测量辅助电路、地端电流测试电路和输出电流测试电路分别与所述转接电路连接，以接入模拟器件进行测试。
9、本说明书公开的实施例中，所述主控电路包括主控芯片u1、晶振u3、电容c1、电容c2、电容c
10、本说明书公开的实施例中，所述继电器控制电路包括多个控制组件，所述控制组件包括三极管、第一电阻、第二电阻和指示灯，所述三极管的发射极外接电压端+5v，所述三极管的基极通过所述第一电阻与所述主控芯片u1的gpio端口连接，所述三极管的集电极与串联的所述第二电阻和指示灯，以及所述运放环电路、时间测量辅助电路、地端电流测试电路、输出电流测试电路或转接电路连接。
11、本说明书公开的实施例中，所述控制组件还包括cmos模拟多路复用器，部分所述三极管的基极通过所述第一电阻和cmos模拟多路复用器与所述主控芯片u1的gpio端口连接。
12、本说明书公开的实施例中，所述运放环电路包括电阻r57、电阻r55、电阻r56、电阻r54、电阻r60、电阻r61、电阻r58、电阻r59、电阻r62、电容c13、电容c11、电容c10、继电器k26、继电器k19、继电器k4、继电器k14、继电器k15、继电器k18、继电器k17、继电器k10、继电器k20和运放u10；
13、所述电容c13的一端与所述电阻r57的一端、电阻r60的一端、电阻r58的一端和继电器k18的引脚3连接，所述电容c13的另一端与所述电阻r57的另一端、继电器k26的引脚4、接地的电容c12、运放u10的输出端和转接电路连接，所述继电器k26的引脚1接地，所述继电器k26的引脚2与所述继电器控制电路连接，所述继电器k26的引脚3与所述电阻r54的一端、继电器k19的引脚3和继电器k4的引脚4连接，所述继电器k19的引脚4与所述转接电路连接，所述继电器k19的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器k4的引脚2与所述继电器控制电路连接，所述继电器k4的引脚33通过所述电阻r55接地，所述电阻r54的另一端与所述继电器k14的引脚3和运放u10的同相端连接，所述继电器k14的引脚5与所述转接电路、继电器k10的引脚8和引脚9连接，所述继电器k14的引脚7与所述电阻r56的一端连接，所述继电器k14的引脚8与所述电阻r56的另一端连接后接地，所述继电器k14的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述运放u10的反相端接地，所述运放u10的正极与接地的所述电容c11连接后外接电压端+15v，所述运放u10的负极与接地的所述电容c10连接后外接电压端-15v；
14、所述继电器k15的引脚5与所述转接电路、继电器k20的引脚8和引脚9连接，所述继电器k15的引脚7与所述电阻r63的一端连接，所述继电器k15的引脚8与所述电阻r63的另一端连接后接地，所述继电器k15的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器k15的引脚3与所述电阻r60的另一端和电阻r61的一端连接，所述电阻r61的另一端与所述电阻r62的一端、电阻r59的一端和继电器k17的引脚4连接，所述继电器k17的引脚1与所述电阻r62的另一端连接后接地，所述继电器k17的引脚2与所述继电器控制电路连接，所述继电器k17的引脚3与所述电阻r59的另一端和转接电路连接，所述电阻r58的另一端与所述继电器k18的引脚4和转接电路连接，所述继电器k18的引脚2与所述继电器控制电路连接，所述继电器k18的引脚1接地，所述继电器k10的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器k10的引脚5和引脚12分别与所述转接电路连接，所述继电器k10的引脚16接地，所述继电器k20的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器k20的引脚5和引脚12分别与所述转接电路连接，所述继电器k20的引脚16接地。
15、本说明书公开的实施例中，所述主控电路还包括连接器usb1、usb转串口芯片u2、二极管d1、电容c5、灯led40、电阻r2和开关sw3；所述连接器usb1的引脚1与所述开关sw3的一端连接后外接电压端vdd，所述连接器usb1的引脚2与所述usb转串口芯片u2的引脚2连接，所述连接器usb1的引脚3与所述usb转串口芯片u2的引脚1连接，所述连接器usb1的引脚4与所述usb转串口芯片u2的引脚3连接后接地，所述usb转串口芯片u2的引脚7与所述二极管d1的负极连接，所述二极管d1的正极与所述主控芯片u1的引脚7连接，所述usb转串口芯片u2的引脚6与所述主控芯片u1的引脚5连接，所述usb转串口芯片u2的引脚5与所述电阻r2的一端、接地的电容c5和开关sw3的另一端连接后外接电压端vcc，所述电阻r2的另一端与所述灯led40的正极连接，所述灯led40的负极接地。
16、本说明书公开的实施例中，所述输出电流测试电路包括继电器k9、电阻r53和运放u8，所述继电器k9的引脚8和引脚12与所述转接电路连接，所述继电器k9的引脚9与所述电阻r53的一端和运放u8的输出端连接，所述继电器k9的引本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种模拟器件的通用测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述主控电路包括主控芯片U1、晶振U3、电容C1、电容C2、电容C3、开关SW1、电阻R1、排阻RN1和排阻RN2；所述主控芯片U1的引脚4与所述电容C3的一端、接地的电阻R1和开关SW1的一端连接，所述开关SW1的另一端与所述电容C3的另一端连接后外接电压端VCC，所述主控芯片U1的引脚15与所述晶振U3的一端和接地的电容C1连接，所述主控芯片U1的引脚14与所述晶振U3的另一端和接地的电容C2连接，所述主控芯片U1的引脚37、引脚36、引脚35和引脚34分别与所述排阻RN1的引脚5、引脚6、引脚7和引脚8一一对应连接，所述主控芯片U1的引脚33、引脚32、引脚31和引脚32分别与所述排阻RN2的引脚5、引脚6、引脚7和引脚8一一对应连接。
3.根据权利要求2所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述继电器控制电路包括多个控制组件，所述控制组件包括三极管、第一电阻、第二电阻和指示灯，所述三极管的发射极外接电压端+5V，所述三极管的基极通过所
4.根据权利要求3所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述控制组件还包括CMOS模拟多路复用器，部分所述三极管的基极通过所述第一电阻和CMOS模拟多路复用器与所述主控芯片U1的GPIO端口连接。
5.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述运放环电路包括电阻R57、电阻R55、电阻R56、电阻R54、电阻R60、电阻R61、电阻R58、电阻R59、电阻R62、电容C13、电容C11、电容C10、继电器K26、继电器K19、继电器K4、继电器K14、继电器K15、继电器K18、继电器K17、继电器K10、继电器K20和运放U10；
6.根据权利要求2所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述主控电路还包括连接器USB1、USB转串口芯片U2、二极管D1、电容C5、灯LED40、电阻R2和开关SW3；所述连接器USB1的引脚1与所述开关SW3的一端连接后外接电压端VDD，所述连接器USB1的引脚2与所述USB转串口芯片U2的引脚2连接，所述连接器USB1的引脚3与所述USB转串口芯片U2的引脚1连接，所述连接器USB1的引脚4与所述USB转串口芯片U2的引脚3连接后接地，所述USB转串口芯片U2的引脚7与所述二极管D1的负极连接，所述二极管D1的正极与所述主控芯片U1的引脚7连接，所述USB转串口芯片U2的引脚6与所述主控芯片U1的引脚5连接，所述USB转串口芯片U2的引脚5与所述电阻R2的一端、接地的电容C5和开关SW3的另一端连接后外接电压端VCC，所述电阻R2的另一端与所述灯LED40的正极连接，所述灯LED40的负极接地。
7.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述输出电流测试电路包括继电器K9、电阻R53和运放U8，所述继电器K9的引脚8和引脚12与所述转接电路连接，所述继电器K9的引脚9与所述电阻R53的一端和运放U8的输出端连接，所述继电器K9的引脚5与所述电阻R53的另一端和运放U8的反相端连接，所述继电器K9的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器K9的引脚16接地，所述运放U8的同相端接地。
8.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述时间测量辅助电路包括继电器K24、继电器K25、高速缓冲器U11、高速缓冲器U12、射频连接器U13、射频连接器U14、电阻R80、电阻R82、电阻R81、电阻R83、电阻R85、电阻R84、电容C15、电容C14、电容C16、电容C17、电容C18、电容C19、电容C20和电容C21；
9.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述地端电流测试电路包括继电器K8和继电器K12，所述继电器K8的引脚4与所述转接电路连接，所述继电器K8的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器K8的引脚2接地，所述继电器K8的引脚3与所述继电器K12的引脚8和引脚9连接，所述继电器K12的引脚16接地，所述继电器K12的引脚1与所述继电器控制电路连接，所述继电器K12的引脚5和引脚12分别与所述转接电路连接。
10.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述功率输入输出电路包括连接器CN1、连接器CN2和连接器CN3，所述连接器CN1、连接...
【技术特征摘要】
1.一种模拟器件的通用测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述主控电路包括主控芯片u1、晶振u3、电容c1、电容c2、电容c3、开关sw1、电阻r1、排阻rn1和排阻rn2；所述主控芯片u1的引脚4与所述电容c3的一端、接地的电阻r1和开关sw1的一端连接，所述开关sw1的另一端与所述电容c3的另一端连接后外接电压端vcc，所述主控芯片u1的引脚15与所述晶振u3的一端和接地的电容c1连接，所述主控芯片u1的引脚14与所述晶振u3的另一端和接地的电容c2连接，所述主控芯片u1的引脚37、引脚36、引脚35和引脚34分别与所述排阻rn1的引脚5、引脚6、引脚7和引脚8一一对应连接，所述主控芯片u1的引脚33、引脚32、引脚31和引脚32分别与所述排阻rn2的引脚5、引脚6、引脚7和引脚8一一对应连接。
3.根据权利要求2所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述继电器控制电路包括多个控制组件，所述控制组件包括三极管、第一电阻、第二电阻和指示灯，所述三极管的发射极外接电压端+5v，所述三极管的基极通过所述第一电阻与所述主控芯片u1的gpio端口连接，所述三极管的集电极与串联的所述第二电阻和指示灯，以及所述运放环电路、时间测量辅助电路、地端电流测试电路、输出电流测试电路或转接电路连接。
4.根据权利要求3所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述控制组件还包括cmos模拟多路复用器，部分所述三极管的基极通过所述第一电阻和cmos模拟多路复用器与所述主控芯片u1的gpio端口连接。
5.根据权利要求1所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述运放环电路包括电阻r57、电阻r55、电阻r56、电阻r54、电阻r60、电阻r61、电阻r58、电阻r59、电阻r62、电容c13、电容c11、电容c10、继电器k26、继电器k19、继电器k4、继电器k14、继电器k15、继电器k18、继电器k17、继电器k10、继电器k20和运放u10；
6.根据权利要求2所述的模拟器件的通用测试装置，其特征在于，所述主控电路还包括连接器usb1、usb转串口芯片u2、二极管d1、电容c5、灯led40、电阻r2和开关sw3；所述连接器usb1的引脚1与所述开关sw3的一端连接后外接电压端vd...
【专利技术属性】
技术研发人员：范坤，刘刚，陈泳洁，侯晴晴，
申请(专利权)人：成都天奥技术发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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