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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片验证,特别涉及一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、随着大规模集成电路设计复杂性的提升,芯片验证面临资金与时间的巨大挑战。早期开发者想验证芯片的设计是否符合预设,只有等待极其漫长的模拟结果,或是等待流片成果,而一旦结果不如预期,不管是再次模拟或是二次流片,都将产生极高的成本。
2、fpga(field programmable gate array,现场可编程门阵列)原型验证通过将rtl(register transfer level,寄存器传输级电路)移植到fpga来验证asic(applicationspecific integrated circuit,专用集成电路)/soc(system on chip,系统级芯片)的功能。
3、目前asic的设计变得越来越大,越来越复杂,单片fpga已不能满足原型验证要求,多片fpga验证应运而生。haps原型验证平台是一种专为asic/soc设计者提供的高性能、高容量的基于fpga的原型验证板,其业界领先的分割技术充分考虑到后续fpga布局布线的挑战,为设计者提供了更多的便利,提升了开发效率。
4、在通过haps原型验证平台进行芯片原型验证时,第一阶段的分割(partition)是一个不断尝试、不断迭代才能获取最优结果的过程,第一阶段的综合(synthesis)也是影响设计性能的一个重要因素,为此,如何提升原型验证第一阶段的成功率和效率是本领域亟待解决的问题。
技术实现思路
...【技术保护点】
1.一种芯片原型验证方法,其特征在于,应用于HAPS原型验证平台,包括:
2.根据权利要求1所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
3.根据权利要求1或2所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述目标关键指标包括现场可编程门阵列系统中的各片现场可编程门阵列的资源利用率、各片所述现场可编程门阵列之间的时钟交叉数量、高速时分复用功能比率、各片所述现场可编程门阵列的无法布线网络数量、各片所述现场可编程门阵列的直通网络数量、各片所述现场可编程门阵列之间的多跳路径数量、预估系统时钟频率以及未被转换的门控时钟数量。
4.根据权利要求3所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述设计步骤依次包括:设计预分割、设计分割、现场可编程门阵列系统布局布线、现场可编程门阵列系统生成和设计综合。
5.根据权利要求4所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
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7.根据权利要求5所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
8.根据权利要求5所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
9.根据权利要求5所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
10.一种芯片原型验证装置,其特征在于,应用于HAPS原型验证平台,包括:
11.一种电子设备,其特征在于,包括:
12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于保存计算机程序;其中,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9任一项所述的芯片原型验证方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片原型验证方法,其特征在于,应用于haps原型验证平台,包括:
2.根据权利要求1所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:
3.根据权利要求1或2所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述目标关键指标包括现场可编程门阵列系统中的各片现场可编程门阵列的资源利用率、各片所述现场可编程门阵列之间的时钟交叉数量、高速时分复用功能比率、各片所述现场可编程门阵列的无法布线网络数量、各片所述现场可编程门阵列的直通网络数量、各片所述现场可编程门阵列之间的多跳路径数量、预估系统时钟频率以及未被转换的门控时钟数量。
4.根据权利要求3所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述设计步骤依次包括:设计预分割、设计分割、现场可编程门阵列系统布局布线、现场可编程门阵列系统生成和设计综合。
5.根据权利要求4所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述在执行完每一所述设计步骤之后,判断与所述设计步骤对应的所述目标关键指标是否满足所述预设条件,包括:<...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹蓓,王大中,裴良杰,金留念,姜丙亚,
申请(专利权)人:山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司,
类型:发明
国别省市:
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