【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片测试，具体涉及一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法。
技术介绍
1、随着半导体科技的进步，半导体芯片的集成度越来越高，为了保证半芯片的稳定性和生产高良率，在芯片加工完毕后，需要对驱动芯片的功能进行测试。
2、中国专利cn113702810a公开了基于mcu的光收发驱动芯片功能测试方法和相关设备，方法包括：接收测试指令并解析，获取针对目标功能的测试指令；测试电信号输出步骤，响应所述测试指令，控制发出所述目标功能测试所需的对应的测试电信号；引脚转接步骤；将所述测试电信号转接到该目标功能测试匹配的引脚；分析步骤，将采集到的被测光收发驱动芯片输出的电信号进行基于所述目标功能测试的分析；但是现有测试方法测试时，由于芯片内存及功能模块数量不断增加，导致测试方法成本较高、算力负载重，为了解决上述问题，我们提出了一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，解决了现有测试方法测试时，由于芯片内存及功能模块数量不断增加，导致测试方法成本较高、算力负载重的问题。
2、现有测试方法测试时，由于芯片内存及功能模块数量不断增加，导致测试方法成本较高、算力负载重，为了解决上述问题，我们提出了一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，简而言之，所述方法实现步骤为首先基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件，然后执行识别功能配置文件步骤，将功能配
3、本专利技术是这样实现的，一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，所述基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，具体包括：
4、响应于上位机至少一组测试指令，基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件；
5、识别功能配置文件，将功能配置文件中脚本运行数据流转接至功能测试模块的测试引脚；
6、功能测试模块响应于测试引脚的低算力评估指令，基于脚本运行数据流评估最优测试路径；
7、响应于最优测试路径，功能测试模块执行脚本运行数据流测试，得到芯片功能测试结果。
8、优选地，所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体包括：
9、获取至少一组测试指令，对测试指令解码处理，得到解码中间结果；
10、基于目标随机排列逐一处理解码中间结果，得到特征分享值以及序列分享值；
11、获得所述特征分享值以及序列分享值共同支持的功能配置网络层，基于配置网络层分别对特征分享值以及序列分享值进行处理。
12、优选地，所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体还包括：
13、获取特征分享值以及序列分享值进行处理结果；
14、随机初始化功能配置矩阵，基于初始化功能配置矩阵对处理结果进行正则化，确定特征分享值以及序列分享值隐藏的特征节点，整合特征节点以及处理结果，得到待测芯片返回的功能配置文件。
15、优选地，将功能配置文件中脚本运行数据流转接至功能测试模块的测试引脚方法，具体包括：
16、获取功能配置文件，基于已搭建的转接环境中对芯片测试进行注册，生成芯片驱动；
17、芯片驱动对功能配置文件进行解析作业，解析功能配置文件的底层运行数据流、中层运行数据流以及顶层运行数据流，并将底层运行数据流、中层运行数据流以及顶层运行数据流的drm以及dma功能配置为启动；
18、芯片驱动控制测试引脚启动，以使底层运行数据流、中层运行数据流以及顶层运行数据流在测试引脚开启状态下转换流动。
19、优选地，所述功能测试模块包括：
20、引脚转换单元，所述引脚转换单元与测试引脚电性连接；
21、与引脚转换单元电性连接的功能测试电路；
22、配置在功能测试电路内的测试mcu，所述测试mcu基于spwm控制功能测试电路导通；
23、测试保护电路，所述测试保护电路与功能测试电路导通，测试保护电路采用电流互感器采样输出电流。
24、优选地，所述功能测试模块还包括：
25、测试计算单元，所述测试计算单元基于预构建的算力评估模型评估最优测试路径。
26、优选地，所述基于脚本运行数据流评估最优测试路径的方法，具体包括：
27、获取脚本运行数据流，基于算力评估模型抓取数据流类型；
28、基于数据流类型调用算力测试程序，算力测试程序确定芯片测试运算模式以及数据流路径；
29、利用算力评估模型中算力模拟器的嵌入变换部分对数据流路径进行嵌入变换。
30、优选地，所述基于脚本运行数据流评估最优测试路径的方法，具体还包括：
31、获取嵌入变换结果，根据功能测试模块的调度测试配置指标以及数据流路径的处置优先系数，并结合功能测试模块的算力能力信息，对脚本运行数据流数据量化，得到最优测试路径。
32、优选地，所述对脚本运行数据流数据量化的方法，具体包括：
33、基于嵌入变换结果在功能测试模块内配置至少一组预处理虚拟区；
34、分别设置预处理虚拟区的起始键值以及终止键值。
35、优选地，所述对脚本运行数据流数据量化的方法，具体还包括：
36、响应于嵌入变换结果导入指令，识别嵌入变换结果id，将嵌入变换结果分配至至少一组预处理虚拟区，预处理虚拟区执行脚本运行数据流数据量化。
37、与现有技术相比，本申请实施例主要有以下有益效果：
38、本专利技术中通过功能测试模块能够对芯片测试进行低算力评估，然后评估最优测试路径，从而保证在对不同规格型号芯片测试时，功能测试模块基于低算力，降低了功能测试模块的负载，也提高了测试效率。
39、本专利技术实施例通过初始化功能配置矩阵对处理结果进行正则化，确定特征分享值以及序列分享值隐藏的特征节点，然后整合特征节点以及处理结果，从而显著提高将功能配置文件中脚本运行数据流转接至功能测试模块的测试引脚的效率，也保证了数据的私密性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于，所述基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，具体包括：
2.如权利要求1所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体包括：
3.如权利要求2所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体还包括：
4.如权利要求2所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：将功能配置文件中脚本运行数据流转接至功能测试模块的测试引脚方法，具体包括：
5.如权利要求1所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述功能测试模块包括：
6.如权利要求5所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述功能测试模块还包括：
7.如权利要求6所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述基于脚本运行数据流评估最优测试路径的方法，具体包括：
8.如权利要求7
9.如权利要求8所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述对脚本运行数据流数据量化的方法，具体包括：
10.如权利要求9所述的基于低算力MCU的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述对脚本运行数据流数据量化的方法，具体还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，其特征在于，所述基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，具体包括：
2.如权利要求1所述的基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体包括：
3.如权利要求2所述的基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述基于至少一组测试指令获取待测芯片返回的功能配置文件的方法，具体还包括：
4.如权利要求2所述的基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：将功能配置文件中脚本运行数据流转接至功能测试模块的测试引脚方法，具体包括：
5.如权利要求1所述的基于低算力mcu的驱动芯片功能测试方法，其特征在于：所述功...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕向东，夏菁，陈真，李政达，欧阳托日，
申请(专利权)人：恒烁半导体合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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