一种大功率平面结双向TVS二极管芯片制造技术

技术编号:4063593 阅读:825 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,涉及一种半导体器件的制造技术领域,本实用新型专利技术在N区的正反两面分别设置P扩散区,在两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。本实用新型专利技术扩散时间短,产品寿命长,性能好,硅片不翘曲,产品碎片率低。不需要挖槽,硅片的利用率高,产品的电流密度大。避免了在玻璃钝化层上划片而产生的玻璃钝化膜应力,PN结结构牢靠,减少了漏电流,尤其是高温下的漏电流,进一步提高产品的可靠性。由于本实用新型专利技术的产品结构的特殊性,生产工艺流程短,采用4英寸硅片的生产,可大大提高生产效率,方便生产操作,也降低了生产成本。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种半导体器件的制造
,特别是大功率平面结双向TVS 二极管的制备方法。
技术介绍
长期以来,在半导体器件制造领域,人们在结构设计、成本降低、可靠性、提高产品 的性价比等方面,作出了不懈的努力。当今TVS 二极管芯片制造中较先进的技术是采用一 种低电阻率的N型双磨单晶片进行制备,其工艺步骤为酸洗、清洗、扩散、刻槽、玻璃钝化、 化学镀、合金、化学镀、蒸金、测试、划片、裂片,该方法的不足之处为产品生产工艺中包括 两次扩散,一次是N+型扩散,另一次是P型扩散,由于产品是台面结结构,因此是深结扩散, 扩散时间长,产品的少子寿命下降,且硅片容易翘曲,造成碎片,操作不方便;产品的电极 用化学镀方式形成,需要进行两次镀膜,且为保证产品的可靠性,镀层表面必须覆盖一层金 (Αμ )膜,工艺复杂;PN结的保护采用挖槽、玻璃钝化的方式,工艺流程长;直接在玻璃钝化 层上划片,影响产品的可靠性;产品采用的是台面工艺,硅片的有效利用率低,生产成本高。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种工艺简单、电流密度大、漏电流小、质量稳定可靠的 大功率平面结双向TVS 二极管芯片。本技术在N区的正反两面分别设置P扩散区,在所述两个P扩散区的另一面 分别设置镀膜区,在所述P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。本技术分别在N区的正反两面分别设置P扩散区,由于产品是平面结结构,因 此采用浅结扩散,扩散时间短,产品寿命长,性能好,硅片不翘曲,产品碎片率低。产品采用 平面工艺生产,不需要挖槽,硅片的利用率高,产品的电流密度大。避免了在玻璃钝化层上 划片而产生的玻璃钝化膜应力,PN结结构牢靠,减少了漏电流,尤其是高温下的漏电流,进 一步提高产品的可靠性。由于本技术的产品结构的特殊性,生产工艺流程短,采用4英 寸硅片的生产,可大大提高生产效率,方便生产操作,也降低了生产成本。附图说明图1为本技术产品结构示意图。图1中,1为N区,2、3为P扩散区、4、5为镀膜区、6、7、8、9为5102保护区。具体实施方式选取电阻率为0. 01 0. 02 Ω . cm,片厚为225 235 μ m的N型硅材料双磨片,生产大功率平面结双向TVS 二极管芯片,结构特点在N区1的正反两面分别设置P扩散区2、3,在两个P扩散区2、3的另一面分别设 置镀膜区4、5。在两个P扩散区2、3外周的N区1表面分别设置PN结平面SiO2保护区6、7、8、9。权利要求一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,其特征在于在N区的正反两面分别设置P扩散区,在所述两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在所述P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。专利摘要一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,涉及一种半导体器件的制造
,本技术在N区的正反两面分别设置P扩散区,在两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。本技术扩散时间短,产品寿命长,性能好,硅片不翘曲,产品碎片率低。不需要挖槽,硅片的利用率高,产品的电流密度大。避免了在玻璃钝化层上划片而产生的玻璃钝化膜应力,PN结结构牢靠,减少了漏电流,尤其是高温下的漏电流,进一步提高产品的可靠性。由于本技术的产品结构的特殊性,生产工艺流程短,采用4英寸硅片的生产,可大大提高生产效率,方便生产操作,也降低了生产成本。文档编号H01L29/06GK201699017SQ201020243150公开日2011年1月5日 申请日期2010年6月22日 优先权日2010年6月22日专利技术者周明, 穆连和, 苏学杰, 顾理健 申请人:南通明芯微电子有限公司本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,其特征在于在N区的正反两面分别设置P扩散区,在所述两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在所述P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO↓[2]保护区。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周明苏学杰穆连和顾理健
申请(专利权)人:南通明芯微电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利