【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电力变换装置、电力变换方法及存储介质。
技术介绍
1、在电力变换装置中，已知半导体元件由于反复进行与动作条件相应的温度上升及温度下降(热循环)而劣化。以往，为了推定这样劣化的半导体元件的寿命，提出检测各热循环中的半导体元件的温度差并基于所检测到的温度差来推定半导体元件的寿命的技术(例如参照专利文献1)。
2、另外，关于将预先设定的温度容许值与由温度传感器检测出的半导体元件的温度进行比较而限制电力的输出的电力变换装置，提出如下技术：推定从半导体元件到温度传感器之间的热阻(包括冷却体)和半导体元件的损失，并基于这些推定结果来确定上述温度容许值，由此准确地判断冷却能力的降低而抑制装置的可用性降低(例如参照专利文献2)。
3、【在先技术文献】
4、【专利文献】
5、专利文献1：日本专利第5343901号公报
6、专利文献2：日本特开2012-223062号公报
技术实现思路
1、专利技术要解决的课题
2、然而，在以往技术中，有时未能充分地考虑热阻因热循环的反复而劣化(变高)，不能恰当地推定半导体元件的寿命。因此，以往，以半导体元件的保护为目的的温度阈值的设计中取大的余量，有可能未充分活用尽半导体元件的耐热潜能。
3、本专利技术是考虑这样的情况而完成的，其目的之一提供关于反复进行热循环的半导体元件能够更恰当地决定用于温度保护的温度阈值的电力变换装置、电力变换方法及存储介质。
4、用于
5、本专利技术的车辆控制装置采用了以下的结构。
6、(1)：本专利技术的一方案的电力变换装置具备：半导体元件；温度取得部，其取得所述半导体元件的附近的温度；以及控制装置，其通过控制所述半导体元件来控制经由所述半导体元件进行的电力的输出，该控制装置基于由所述温度取得部取得的所述温度来设定温度阈值，并且在所述温度超过了所述温度阈值的情况下限制所述电力的输出，所述控制装置基于在所述半导体元件产生的热循环的次数、以及所述热循环间的温度差来决定所述温度阈值。
7、(2)：在上述(1)的方案的基础上，所述温度差或所述次数越大，则所述控制装置越降低所述温度阈值。
8、(3)：在上述(1)或(2)的方案的基础上，所述控制装置基于第一热阻和第二热阻来计算所述温度阈值，该第一热阻是测定所述温度的温度传感器的热阻，该第二热阻是所述半导体元件的热阻，所述控制装置基于所述温度差及所述次数来决定所述第一热阻。
9、(4)：在上述(1)至(3)中的任一方案的基础上，所述控制装置基于所述温度差及所述次数来计算所述半导体元件的寿命，并基于所述半导体元件的寿命来决定所述第一热阻。
10、(5)：在上述(1)至(4)中的任一方案的基础上，所述控制装置基于一定期间中的所述半导体元件的最大温度来计算所述半导体元件的寿命。
11、(6)：本专利技术的另一方案的电力变换方法，其中，所述电力变换方法使具备半导体元件的电力变换装置进行如下处理：取得所述半导体元件的附近的温度；基于所取得的所述温度来设定温度阈值，并且在所述温度超过所述温度阈值的情况下限制电力的输出；基于在所述半导体元件产生的热循环的次数、以及所述热循环间的温度差来决定所述温度阈值。
12、(7)：本专利技术的又一方案的存储介质，其存储有程序，其中，所述程序使具备半导体元件的电力变换装置进行如下处理：取得所述半导体元件的附近的温度；基于所取得的所述温度来设定温度阈值，并且在所述温度超过所述温度阈值的情况下限制电力的输出；基于在所述半导体元件产生的热循环的次数、以及所述热循环间的温度差来决定所述温度阈值。
13、专利技术效果
14、根据上述(1)～(7)的方案，关于反复进行热循环的半导体元件，能够更恰当地决定用于温度保护的温度阈值。另外，由于电力变换装置的动作能够更恰当地控制，从而能量效率改善，乃至于能够为co2削减做出贡献。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电力变换装置，其中，
2.根据权利要求1所述的电力变换装置，其中，
3.根据权利要求2所述的电力变换装置，其中，
4.根据权利要求3所述的电力变换装置，其中，
5.根据权利要求4所述的电力变换装置，其中，
6.一种电力变换方法，其中，
7.一种存储介质，其存储有程序，其中，
【技术特征摘要】
1.一种电力变换装置，其中，
2.根据权利要求1所述的电力变换装置，其中，
3.根据权利要求2所述的电力变换装置，其中，
4.根据权利要求3所...
【专利技术属性】
技术研发人员：松田英亮，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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